[發(fā)明專利]一種多維泄漏信息檢測(cè)方法、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910782175.5
• 申請(qǐng)日: 2019-08-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110490154B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-09-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 茅劍;劉晉明;張杰敏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 集美大學(xué)
• 主分類號(hào): G06K9/00
• 分類號(hào): G06K9/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06F17/14
• 代理公司: 廈門(mén)市精誠(chéng)新創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 35218
• 代理人: 何家富

本發(fā)明涉及一種多維泄漏信息檢測(cè)方法、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法中包括：S1：從多個(gè)維度上采集電子設(shè)備的電磁泄露信號(hào)組成對(duì)應(yīng)的多個(gè)訓(xùn)練集；S2：構(gòu)建改進(jìn)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，將預(yù)處理后的每個(gè)訓(xùn)練集輸入改進(jìn)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型并對(duì)模型進(jìn)行訓(xùn)練后，得到對(duì)應(yīng)于該訓(xùn)練集的維度的分類器；S3：采集待檢測(cè)電子設(shè)備的電磁泄露信號(hào)，將其輸入步驟S2得到的各維度對(duì)應(yīng)的分類器中得到各維度對(duì)應(yīng)的檢測(cè)結(jié)果；S4：綜合待檢測(cè)電子設(shè)備在各維度對(duì)應(yīng)的檢測(cè)結(jié)果得到該待檢測(cè)電子設(shè)備的泄露信息。本發(fā)明不需要人為地為每個(gè)維度定義信息特征，完全由改進(jìn)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)來(lái)提取特征完成識(shí)別檢測(cè)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電磁信號(hào)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種多維泄漏信息檢測(cè)的方法、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著人類社會(huì)信息化的日益深入，數(shù)字化信息設(shè)備廣泛應(yīng)用于社會(huì)的各個(gè)領(lǐng)域。根據(jù)電磁學(xué)原理，電子設(shè)備在工作過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生電磁輻射。對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)，電磁輻射是無(wú)意的，也是不可避免的。研究表明，電磁輻射會(huì)引起電子器件的信息泄漏。電磁信息泄漏是難以察覺(jué)的，往往被忽視。自從1985年第一次報(bào)道了從視頻顯示單元的電磁發(fā)射中竊取圖像信息以來(lái)，研究人員已經(jīng)證明了各類計(jì)算機(jī)顯示器、鍵盤(pán)、電源線以及智能加密卡中存在電磁信息泄漏風(fēng)險(xiǎn)。

通過(guò)電磁輻射泄漏的信息檢測(cè)可分為兩類：(1)采用相應(yīng)的檢測(cè)方法從各電子設(shè)備的電磁輻射中獲取電子設(shè)備正在處理的信息，包括：竊聽(tīng)計(jì)算機(jī)顯示器或連接線上顯示的圖像信息，截取鍵盤(pán)輸入的信息，破解加密芯片的密鑰等。(2)對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行電磁信息泄漏的定位或根據(jù)其電磁特性對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行識(shí)別。事實(shí)上，上述兩種信息泄漏往往同時(shí)發(fā)生，并且包含在同一個(gè)電磁泄漏信號(hào)中。這意味著電子設(shè)備無(wú)意中發(fā)出的電磁信號(hào)中隱藏著許多不同類型的信息。以往的研究往往只關(guān)注某一特定的信息，并通過(guò)分析其獨(dú)特的特征來(lái)檢測(cè)它。

傳統(tǒng)的電磁信息泄漏檢測(cè)方法，均需要事先明確待測(cè)信息的某些特征，檢測(cè)方法可以看作是在電磁信號(hào)中尋找這些特征。采用傳統(tǒng)的手段檢測(cè)各種電磁信息泄漏，對(duì)于每種電磁信息泄漏特征的定義和提取方法各不相同，相應(yīng)的檢測(cè)識(shí)別方法也各不相同。事實(shí)上，由于電磁信息泄漏來(lái)自于電子設(shè)備無(wú)意電磁輻射，其信噪比極低且缺乏明顯的特征，要明確定義和提取所有信息維度的泄漏特征是十分困難的。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提出了一種多維泄漏信息檢測(cè)方法、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

具體方案如下：

一種多維泄漏信息檢測(cè)方法，包括以下步驟：

S1：從多個(gè)維度上采集電子設(shè)備的電磁泄露信號(hào)組成對(duì)應(yīng)的多個(gè)訓(xùn)練集，并對(duì)訓(xùn)練集中的數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，以增強(qiáng)信號(hào)特征；

S2：構(gòu)建改進(jìn)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，將預(yù)處理后的每個(gè)訓(xùn)練集輸入改進(jìn)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型并對(duì)模型進(jìn)行訓(xùn)練后，得到對(duì)應(yīng)于該訓(xùn)練集的維度的分類器；

S3：采集待檢測(cè)電子設(shè)備的電磁泄露信號(hào)，將其輸入步驟S2得到的各維度對(duì)應(yīng)的分類器中得到各維度對(duì)應(yīng)的檢測(cè)結(jié)果；

S4：綜合待檢測(cè)電子設(shè)備在各維度對(duì)應(yīng)的檢測(cè)結(jié)果得到該待檢測(cè)電子設(shè)備的泄露信息。

進(jìn)一步的，所述改進(jìn)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型中包括兩個(gè)卷積層、兩個(gè)池化層和一個(gè)全連接輸出層，每個(gè)卷積層均由依次的一維卷積核、批量歸一化函數(shù)和線性整流函數(shù)構(gòu)成。

進(jìn)一步的，電磁泄露信號(hào)包括電子設(shè)備所處理信息和電子設(shè)備自身信息中的任意一種或兩種。

進(jìn)一步的，所述預(yù)處理為通過(guò)快速傅里葉變換，將時(shí)域信號(hào)轉(zhuǎn)換為頻域信號(hào)。

進(jìn)一步的，步驟S4中通過(guò)下式得到電子設(shè)備的泄露信息：

其中，I為電子設(shè)備的泄露信息，即多個(gè)維度泄露信息的集合，k為泄露信息中包含的維度總數(shù)，I_k為第k維信息。