[發明專利]一種陣列基板及其制作方法、顯示面板在審
| 申請號: | 201910766043.3 | 申請日: | 2019-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN110534475A | 公開(公告)日: | 2019-12-03 |
| 發明(設計)人: | 馬偉欣;陳彩琴 | 申請(專利權)人: | 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/77 | 分類號: | H01L21/77;H01L27/12;H01L27/32 |
| 代理公司: | 44300 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) | 代理人: | 黃威<國際申請>=<國際公布>=<進入國 |
| 地址: | 430079 湖北省武漢市東湖新技術*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 無機膜 組層 非顯示區域 填充開口 源漏極 開口 基底 有機平坦層 顯示區域 陣列基板 制作 覆蓋 顯示面板 有機材料 制作工藝 平坦層 圖案化 掩膜版 填充 申請 | ||
本申請涉及一種陣列基板及其制作方法、顯示面板,該陣列基板的制作方法包括:提供基底,基底包括顯示區域以及位于顯示區域周邊的非顯示區域;在基底上形成無機膜組層;在無機膜組層上制作開口,并形成圖案化的源漏極層,開口位于非顯示區域,源漏極層不覆蓋且不填充開口;在無機膜組層上形成有機平坦層,有機平坦層覆蓋源漏極層,且填充并覆蓋開口。通過這種方式,在位于非顯示區域的無機膜組層上制作開口,并在后續平坦層制作工藝中填充開口,減少了采用有機材料填充開口的工藝,進而節省了該工藝的掩膜版,有利于降低成本。
【技術領域】
本申請涉及顯示技術領域,具體涉及一種陣列基板及其制作方法、顯示面板。
【背景技術】
有源矩陣有機發光二極體(Active-matrix organic light emitting diode,簡稱AMOLED)面板因其高對比度、廣色域、低功耗、可折疊等特性,逐漸成為新一代顯示技術。
目前,柔性AMOLED的陣列基板制程包括10~12道工藝,比剛性AMOLED的陣列基板制程多出2~3道工藝。其中,這多出的工藝主要是對位于非顯示彎折區上的應力較差、以及柔韌性不好的無機膜層進行刻蝕挖孔,并采用柔韌性較好的有機材料填充,以提高非顯示彎折區的彎曲性能。
但是,上述柔性AMOLED的陣列基板制程存在工藝步驟多、以及成本高的問題。
【發明內容】
本申請的目的在于提供一種陣列基板及其制作方法、顯示面板,以減少陣列基板的制程工藝,并降低成本。
為了解決上述問題,本申請實施例提供了一種陣列基板的制作方法,該陣列基板的制作方法包括:提供基底,基底包括顯示區域以及位于顯示區域周邊的非顯示區域;在基底上形成無機膜組層;在無機膜組層上制作開口,并形成圖案化的源漏極層,開口位于非顯示區域,源漏極層不覆蓋且不填充開口;在無機膜組層上形成有機平坦層,有機平坦層覆蓋源漏極層,且填充并覆蓋開口。
其中,在無機膜組層上制作開口,并形成圖案化的源漏極層步驟,具體包括:在無機膜組層上形成圖案化的源漏極層;在無機膜組層未被源漏極層覆蓋的區域上制作開口,開口位于非顯示區域。
其中,開口包括在基底上層疊連通的第一孔和第二孔,在無機膜組層上制作開口的步驟,具體包括:通過曝光、刻蝕,在無機膜組層上制作具有第一預設深度的第一孔;通過曝光、刻蝕,經由第一孔,沿靠近基底的方向在無機膜組層上制作具有第二預設深度的第二孔,第二預設深度與第一預設深度之和等于無機膜組層的厚度。
其中,無機膜組層包括依次遠離基底的緩沖層、第一柵絕緣層、第二柵絕緣層、以及層間介質層,在基底上形成無機膜組層的步驟,具體包括:在基底上沉積緩沖層;在緩沖層上沉積第一柵絕緣層;在第一柵絕緣層上沉積第二柵絕緣層;在第二柵絕緣層上沉積層間介質層。
其中,在基底上沉積緩沖層的步驟之后,還包括:在緩沖層上形成低溫多晶硅層,低溫多晶硅層位于顯示區域,且第一柵絕緣層覆蓋低溫多晶硅層;在緩沖層上沉積第一柵絕緣層的步驟之后,還包括:在第一柵絕緣層上形成第一金屬層,第一金屬層位于顯示區域,且第二柵絕緣層覆蓋第一金屬層;在第一柵絕緣層上沉積第二柵絕緣層的步驟之后,還包括:在第二柵絕緣層上形成第二金屬層,第二金屬層位于顯示區域,且層間介質層覆蓋第二金屬層。
為了解決上述問題,本申請實施例還提供了一種陣列基板,該陣列基板包括:基底,基底包括顯示區域以及位于顯示區域周邊的非顯示區域;位于基底上的無機膜組層,無機膜組層上開設有開口,開口位于非顯示區域;位于無機膜組層上的圖案化的源漏極層,源漏極層不覆蓋且不填充開口;位于無機膜層上的有機平坦層,有機平坦層覆蓋源漏極層,且填充并覆蓋開口。
其中,非顯示區域包括彎折區以及位于彎折區側邊的非彎折區,開口位于彎折區,且為多個。
其中,多個開口在彎折區上呈陣列分布。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





