[發(fā)明專利]多信息融合的回歸測(cè)試用例排序方法及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910762227.2
• 申請(qǐng)日: 2019-08-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110647461B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-03-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃如兵;徐銀銀;周雨楠;陳錦富
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江蘇大學(xué)
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36;G06F18/25;G06F18/27
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.多信息融合的回歸測(cè)試用例排序方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟1，對(duì)待排序測(cè)試用例集S，分別計(jì)算其抽象測(cè)試用例的相似性矩陣以及具體測(cè)試用例的距離矩陣；

步驟2，使用多信息融合方法對(duì)上述步驟1得到的兩個(gè)矩陣進(jìn)行融合，并基于融合信息進(jìn)行測(cè)試用例排序；

所述步驟1的具體實(shí)現(xiàn)方法包括如下：

步驟1.1，將有n個(gè)測(cè)試用例的待排序測(cè)試用例集S＝(S₁，S₂，…，S_n)轉(zhuǎn)換為抽象測(cè)試用例集，每個(gè)測(cè)試用例有k個(gè)參數(shù)，使用Goodall3相似性度量，計(jì)算該抽象測(cè)試用例集的相似性矩陣AM，其中Goodall3的計(jì)算公式如下：

(1)f_i(x)：S中參數(shù)P_i取值為x的測(cè)試用例個(gè)數(shù)，如果則f_i(x)＝0；

(2)S中參數(shù)P_i取值為x的概率，即/其中N是用例集中用例個(gè)數(shù)；

(3)sim_i(X_i，Y_i)：參數(shù)P_i的對(duì)應(yīng)參數(shù)值之間的相似性度量，其中X_i，Y_i∈V_i，即

(4)sim_i(X，Y)：測(cè)試用例X與Y之間的相似性，即其中，/X＝(X₁，X₂，…，X_K)，Y＝(Y₁，Y₂，…，Y_k)，且X，Y∈S；

步驟1.2，將待排序測(cè)試用例集S轉(zhuǎn)換為具體測(cè)試用例集，使用曼哈頓具體度量，計(jì)算該抽象測(cè)試用例集的距離矩陣CM，其中曼哈頓的計(jì)算公式如下：

x_i是字符串x第i個(gè)字符的ASCII碼，y_i是字符串y第i個(gè)字符的ASCII碼，當(dāng)較短字符串長(zhǎng)度不夠時(shí)，以char(0)補(bǔ)全。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多信息融合的回歸測(cè)試用例排序方法，其特征在于，所述步驟2的多信息融合方法采用Add_dis算法實(shí)現(xiàn)，具體如下：

步驟2.1.1，將步驟1.1獲得的抽象測(cè)試用例相似性矩陣AM轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的距離矩陣ASM，具體將矩陣中的每一個(gè)元素取反加1，使其每一個(gè)元素值均在(0，1)之間，其轉(zhuǎn)換公式如下：

si′(t_s，t_p)＝1-si(t_s，t_p)

其中si(t_s，t_p)表示為兩個(gè)測(cè)試用例之間的相似度；

步驟2.1.2，將步驟1.2獲得的具體測(cè)試用例具體矩陣CM進(jìn)行歸一化，將其轉(zhuǎn)換為歸一化距離矩陣CSM，使其每一個(gè)元素值均在(0，1)之間，其歸一化公式如下：

其中t_p為優(yōu)化后的測(cè)試用例序列P中的一個(gè)測(cè)試用例，t_s為待排序測(cè)試用例序列S中的測(cè)試用例，d(t_s，t_p)表示為兩個(gè)用例之間的曼哈頓距離，A[i]表示測(cè)試用例t_s中第i個(gè)字符的ASCII碼，B[i]表示測(cè)試用例t_p中第i個(gè)字符的ASCII碼，若字符長(zhǎng)度不夠，用char(0)補(bǔ)位；

步驟2.1.3，將上述兩個(gè)步驟得到的ASM和CSM矩陣進(jìn)行融合，具體對(duì)各個(gè)位置進(jìn)行距離相加，得到最終的信息融合距離矩陣Plus_SM，其公式如下：

d(t_s′，t_p′)_add＝d′(t_s，t_p)+si′(t_s，t_p)

步驟2.1.4，根據(jù)上述步驟得到的融合矩陣Plus_SM進(jìn)行測(cè)試用例排序，首先隨機(jī)挑選第一個(gè)測(cè)試用例，將其加入到已排序測(cè)試用例集P，之后在待排序測(cè)試用例中選擇與已排序測(cè)試用例集距離最大的測(cè)試用例，將其加入到已排序測(cè)試用例集，直到所有測(cè)試用例均排序結(jié)束，其中待排序測(cè)試用例與已排序測(cè)試用例集的距離公式為：

d(t_s，P)_add＝min_1≤i≤n[d(t_s′，t_p′)_add]。