[發明專利]一種發射單元、傳感模組及電子設備

在審

• 申請號: 201910691605.2
• 申請日: 2019-07-29
• 公開（公告）號: CN110426899A
• 公開（公告）日: 2019-11-08
• 發明（設計）人: 王小明;李問杰
• 申請（專利權）人: 深圳阜時科技有限公司
• 主分類號: G02F1/1343
• 分類號: G02F1/1343;G02F1/133;G02B27/09;G01N27/24;G01N27/20;G01N27/04;G01B11/25
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本申請提供了一種發射單元，其包括第一調制元件及檢測處理器。所述第一調制元件包括第一電極、第二電極及設置在第一電極和第二電極之間的調制層。所述第一電極和第二電極用于對所述調制層施加電場，所述調制層能夠隨著所述電場的電場強度變化至少在透明狀態和散射狀態之間進行轉換以對所透過的光線進行調制。所述檢測處理器分別與第一電極和第二電極連接，所述檢測處理器用于通過第一電極和第二電極檢測第一調制元件的電學特性值并根據所測得的第一調制元件的電學特性值來判斷所述第一調制元件是否破損。

技術領域

本申請屬于光學技術領域，尤其涉及一種發射單元、傳感模組及電子設備。

背景技術

現有的三維(Three Dimensional,3D)感測模組通常采用發射能量較集中的激光器作為光源來投射感測光圖案，所以一旦設置在光源出光側用于形成結構化檢測光線的光學元件出現破損的話，高能量的激光會直接照射到使用者的眼睛上造成損害。

發明內容

本申請所要解決的技術問題在于提供一種發射單元、傳感模組及電子設備以解決上述技術問題。

本申請實施方式提供一種發射單元，其包括第一調制元件及檢測處理器。所述第一調制元件包括第一電極、第二電極及設置在第一電極和第二電極之間的調制層。所述第一電極和第二電極用于對所述調制層施加電場，所述調制層能夠隨著所述電場的電場強度變化至少在透明狀態和散射狀態之間進行轉換以對所透過的光線進行調制。所述檢測處理器分別與第一電極和第二電極連接，所述檢測處理器用于通過第一電極和第二電極檢測第一調制元件的電學特性值并根據所測得的第一調制元件的電學特性值來判斷所述第一調制元件是否破損。

在某些實施方式中，還包括光源及第二調制元件，所述第二調制元件與所述光源相對設置，所述第一調制元件設置在第二調制元件背向光源的一側，所述光源用于發出原始光線，所述第二調制元件用于將所述原始光線調制為結構光光線，所述第一調制元件用于對所述結構光光線進行調制，所述結構光光線可以透過處于透明狀態的調制層進行投射，或者所述結構光光線經處于散射狀態的調制層散射為泛光光線進行投射。

在某些實施方式中，所述第二調制元件與第一調制元件之間直接固定連接或者間接固定連接。

在某些實施方式中，所述第二調制元件貼合在所述第一調制元件上。

在某些實施方式中，所述調制層選自正式聚合物分散液晶層、反式聚合物分散液晶層、聚合物網絡液晶層及雙穩態膽甾相液晶層中的任意一種。

在某些實施方式中，所述第一調制元件的調制層處于透明狀態時，透過所述第二調整元件的光線的霧度小于或等于10％。

在某些實施方式中，所述第一調制元件的調制層處于散射狀態時，透過所述第二調整元件的光線的霧度大于或等于70％。

在某些實施方式中，所述檢測處理器在發射單元進行投射或投射后前通過第一電極和第二電極施加檢測電壓至調制層進行電學特性值的檢測；或者所述檢測處理器利用維持所述調制層處于透明狀態或散射狀態所施加的電場進行電學特性值的檢測。

在某些實施方式中，所述第二調制元件為衍射光學元件。

在某些實施方式中，所述第一調制元件的電學特性值包括電阻值和電容值。

在某些實施方式中，所述檢測處理器為比較電路，用于比較所測得的第一調制元件的電學特性值與預設的標準值，并根據比較結果判斷所述第一調制元件是否破損。

在某些實施方式中，所述預設的標準值為第一調制元件完好時所測得的電容值，若檢測所得的第一調制元件的電容值與預設標準值的差值超出預設的誤差范圍，則所述檢測處理器判斷所述第一調制元件破損。

在某些實施方式中，所述光源與檢測處理器相連接，所述檢測處理器在判斷出第一調制元件破損時關閉所述光源。