[發(fā)明專利]一種平板探測(cè)器環(huán)狀偽影去除方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910645908.0
• 申請(qǐng)日: 2019-07-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110400358B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-10-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫奎奎;韓玉;閆鑌;李磊;陳健;席曉琦;梁寧寧;張剛;王坤;楊程凱;周桑桑
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄭州信大先進(jìn)技術(shù)研究院;中國(guó)人民解放軍戰(zhàn)略支援部隊(duì)信息工程大學(xué)
• 主分類號(hào): G06T11/00
• 分類號(hào): G06T11/00;G06T5/00
• 代理公司: 鄭州德勤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 41128
• 代理人: 張微微

1.一種平板探測(cè)器環(huán)狀偽影去除方法，其特征在于，包括以下步驟：

利用CT系統(tǒng)檢測(cè)出不響應(yīng)的探元，將不響應(yīng)的探元記入壞點(diǎn)模板中并將對(duì)應(yīng)位置記為0；

分別計(jì)算每個(gè)探元的響應(yīng)與管電流的相關(guān)系數(shù)，將像素值最快達(dá)到極大值的探元記入壞點(diǎn)模板并將對(duì)應(yīng)位置記為0；

在無(wú)壞點(diǎn)區(qū)域選取至少兩個(gè)感興趣區(qū)域，將所述感興趣區(qū)域進(jìn)行像素疊加平均得到對(duì)應(yīng)的正弦圖，對(duì)所述正弦圖中的離散點(diǎn)進(jìn)行擬合得到無(wú)壞點(diǎn)區(qū)域的第一擬合方程；以所述第一擬合方程為基準(zhǔn)并采用B樣條曲線對(duì)壞點(diǎn)區(qū)域進(jìn)行擬合逼近，得到處理后的投影圖像；

對(duì)所述投影圖像進(jìn)行平滑處理，計(jì)算得到無(wú)壞點(diǎn)區(qū)域與壞點(diǎn)區(qū)域的H-L一致性校正參數(shù)，根據(jù)所述H-L一致性校正參數(shù)對(duì)所有探元的輸出進(jìn)行校正。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)器環(huán)狀偽影去除方法，其特征在于：

設(shè)所述平板探測(cè)器上探元的數(shù)量為M×N，X射線管電流的連續(xù)遞增序列為I＝(I₁,I₂,...,I_n)，生成一組偽隨機(jī)數(shù)r對(duì)I重新排列得到隨機(jī)序列I_r＝(I_r1,I_r2,...,I_rn)，則探元(x,y)對(duì)應(yīng)的響應(yīng)序列

用皮爾遜相關(guān)系數(shù)來(lái)度量I_r與之間的相關(guān)程度，且記相關(guān)系數(shù)為ρ(x,y)；

式中為序列I_r的平均值，為的平均值；

從而得到所有探元對(duì)應(yīng)的相關(guān)系數(shù)矩陣ρ，并利用下列公式進(jìn)行壞點(diǎn)檢測(cè)；

其中，q是壞點(diǎn)檢測(cè)的閾值。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的平板探測(cè)器環(huán)狀偽影去除方法，其特征在于：

經(jīng)過(guò)B樣條曲線處理的投影圖像離散化后得到其中1≤i≦M,1≤j≦N；

X＝[a₁ a₂ b₂ … a_k b_k]^T

E＝[1 1 1 … 1 1]

其中通過(guò)插值得到，根據(jù)d＝0時(shí)的H-L一致性條件有：

AX＝m_0.0E

求得X的最優(yōu)解，X即為一致性校正參數(shù)。