[發(fā)明專利]一種測試方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910631989.9
• 申請日: 2019-07-12
• 公開（公告）號: CN110399298A
• 公開（公告）日: 2019-11-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 聶維
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京安信方達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262
• 代理人: 富愛民;解婷婷

1.一種測試方法，其特征在于，所述方法包括：

將設(shè)定數(shù)量的模擬數(shù)據(jù)加載到待測數(shù)據(jù)庫上，其中，所述模擬數(shù)據(jù)為根據(jù)所述待測數(shù)據(jù)庫的表結(jié)構(gòu)生成的數(shù)據(jù)，所述設(shè)定數(shù)量為大于或等于50萬的正整數(shù)；

在安裝所述待測數(shù)據(jù)庫的計算設(shè)備上執(zhí)行測試任務(wù)，其中，所述測試任務(wù)為根據(jù)所述模擬數(shù)據(jù)生成的任務(wù)；

根據(jù)所述測試任務(wù)的執(zhí)行時間評估所述待測數(shù)據(jù)庫在所述計算設(shè)備上的性能，其中，所述測試任務(wù)的執(zhí)行時間為測試任務(wù)的結(jié)束時間與開始時間的差值。

2.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于：

所述測試任務(wù)包括N個測試子任務(wù)；

N為獲取到的所述服務(wù)器的中央處理器CPU的數(shù)量；所述N為大于或等于2的正整數(shù)。

3.如權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述在安裝所述待測數(shù)據(jù)庫的計算設(shè)備上執(zhí)行測試任務(wù)包括：

將N個測試子任務(wù)分配給相應(yīng)的CPU，以使每個CPU均分配有測試子任務(wù)；

所有CPU并行執(zhí)行分配的測試子任務(wù)。

4.如權(quán)利要求3所述的測試方法，其特征在于：

所述測試任務(wù)包括以下操作中的一種或多種：根據(jù)設(shè)定的業(yè)務(wù)邏輯生成的分析操作、統(tǒng)計操作、排序操作。

5.如權(quán)利要求1至4任一所述的測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測試任務(wù)的執(zhí)行時間評估所述待測數(shù)據(jù)庫在所述計算設(shè)備上的性能包括：

確定所述測試任務(wù)的執(zhí)行時間所屬的性能時間區(qū)間；

根據(jù)所述性能時間區(qū)間對應(yīng)的性能等級確定所述待測數(shù)據(jù)庫的性能。

6.一種測試裝置，所述裝置包括：存儲器和處理器；其特征在于：

所述存儲器，用于保存用于驗證的程序；

所述處理器，用于讀取執(zhí)行所述用于驗證的程序，執(zhí)行如下操作：

將設(shè)定數(shù)量的模擬數(shù)據(jù)加載到待測數(shù)據(jù)庫上，其中，所述模擬數(shù)據(jù)為根據(jù)所述待測數(shù)據(jù)庫的表結(jié)構(gòu)生成的數(shù)據(jù)，所述設(shè)定數(shù)量為大于或等于50萬的正整數(shù)；

在安裝所述待測數(shù)據(jù)庫的計算設(shè)備上執(zhí)行測試任務(wù)，其中，所述測試任務(wù)為根據(jù)所述模擬數(shù)據(jù)生成的任務(wù)；

根據(jù)所述測試任務(wù)的執(zhí)行時間評估所述待測數(shù)據(jù)庫在所述計算設(shè)備上的性能，其中，所述測試任務(wù)的執(zhí)行時間為測試任務(wù)的結(jié)束時間與開始時間的差值。

7.如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于：

所述測試任務(wù)包括N個測試子任務(wù)；

N為獲取到的所述服務(wù)器的中央處理器CPU的數(shù)量；所述N為大于或等于2的正整數(shù)。

8.如權(quán)利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述在安裝所述待測數(shù)據(jù)庫的計算設(shè)備上執(zhí)行測試任務(wù)包括：

將N個測試子任務(wù)分配給相應(yīng)的CPU，以使每個CPU均分配有測試子任務(wù)；

所有CPU并行執(zhí)行分配的測試子任務(wù)。

9.如權(quán)利要求8所述的測試裝置，其特征在于：

所述測試任務(wù)包括以下操作中的一種或多種：根據(jù)設(shè)定的業(yè)務(wù)邏輯生成的分析操作、統(tǒng)計操作、排序操作。

10.如權(quán)利要求6至9任一所述的測試裝置，其特征在于，所述根據(jù)所述測試任務(wù)的執(zhí)行時間評估所述待測數(shù)據(jù)庫在所述計算設(shè)備上的性能包括：

確定所述測試任務(wù)的執(zhí)行時間所屬的性能時間區(qū)間；

根據(jù)所述性能時間區(qū)間對應(yīng)的性能等級確定所述待測數(shù)據(jù)庫的性能。