[發明專利]帶有應力平衡層的大規模銦鎵砷焦平面探測器及制備方法有效
| 申請號: | 201910618698.6 | 申請日: | 2019-07-10 |
| 公開(公告)號: | CN110444607B | 公開(公告)日: | 2021-01-01 |
| 發明(設計)人: | 程吉鳳;李雪;邵秀梅;鄧雙燕;陳郁;楊波;馬英杰;龔海梅 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號: | H01L31/02 | 分類號: | H01L31/02;H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/105;H01L31/18 |
| 代理公司: | 上海滬慧律師事務所 31311 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 200083 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 帶有 應力 平衡 大規模 銦鎵砷焦 平面 探測器 制備 方法 | ||
1.一種帶有應力平衡層的大規模銦鎵砷焦平面探測器,所述的探測器結構為:在半絕緣InP襯底(1)上,依次為N+型InP層(2)、組分漸變的N+型InxAl1-xAs緩沖層(3)、InxGa1-xAs吸收層(4)、P+型InxAl1-xAs帽層(5)、氮化硅SiNx鈍化膜(6)、P電極(7)、加厚電極(8)、UBM Au電極(9)、銦柱(10);在半絕緣InP襯底(1)的背面為應力平衡層(11);其特征在于:
所述的大規模銦鎵砷焦平面探測器在半絕緣InP襯底(1)的背面有應力平衡層(11);
所述的應力平衡層(11)為雙層SiNx復合膜,第一層為厚度d1的低應力膜;第二層為厚度d2的高應力膜;d1和d2由長膜前芯片平面度PV值決定,當0≤PV≤10μm時,d1為d2為當10PV≤20μm時,d1為d2為當20PV≤30μm時,d1為d2為當30PV≤40μm時,d1為d2為當40PV≤50μm時,d1為d2為
2.根據權利要求1所述的一種帶有應力平衡層的大規模銦鎵砷焦平面探測器,其特征在于:所述的應力平衡層(11)采用感應耦合等離子體化學氣相淀積方法制備,其中:低應力膜生長條件為:ICP功率為750±5W,RF功率為0W,襯底溫度75±5℃,采用SiH4、N2為作為工藝氣體,氣體流量SiH4:N2為1.0~1.2,壓強12~16mTorr;高應力膜生長條件為:ICP功率為1200±5W、RF功率為200±5W,襯底溫度75±5℃,采用SiH4、N2為作為工藝氣體,氣體流量SiH4:N2為0.8~1.0,壓強8~10mTorr。
3.根據權利要求1所述的一種帶有應力平衡層的大規模銦鎵砷焦平面探測器,其特征在于:UBM Au電極(9)、銦柱(10)采用一體化光刻,采用4620厚膠光刻。
4.根據權利要求1所述的一種帶有應力平衡層的大規模銦鎵砷焦平面探測器,其特征在于:所述的銦柱(10)的銦柱剝離采用石蠟固定的干法剝離法,即銦柱生長完成后,先采用石蠟將外延片背面貼在玻璃基板上,用膠帶去除多余的銦,再進行浮膠。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





