[發明專利]一種通斷開關壽命的檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 201910606490.2
• 申請日: 2019-07-05
• 公開（公告）號: CN110261767A
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 林文計;田文杰;陳家培
• 申請（專利權）人: 瑞納智能設備股份有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 合肥天明專利事務所(普通合伙) 34115
• 代理人: 婁岳

1.一種通斷開關壽命的檢測裝置，其特征在于，包括：

用于接收檢測模塊發送的弱電信號實現與電源閉合或斷開的通斷開關；

用于與通斷開關連接模擬實際電路并輸出電平的驅動模塊；

檢測模塊，用于檢測驅動模塊輸出的電平。

2.根據權利要求1所述的一種通斷開關壽命的檢測裝置，其特征在于，所述檢測模塊包括：

按鍵電路，用于操控顯示屏和單片機；

單片機，用于發送弱電信號和接收電平且對接收的電平進行判斷；

顯示模塊，用于對單片機的判斷結果進行顯示；

電源模塊，用于對按鍵電路、單片機、顯示模塊和晶體模塊進行供電；

晶體模塊，用于為單片機提供頻率穩定且電平匹配的方波時鐘脈沖信號。

3.根據權利要求1所述的一種通斷開關壽命的檢測裝置，其特征在于，所述通斷開關為弱電控制強電的開關裝置。

4.根據權利要求1所述的一種通斷開關壽命的檢測裝置，其特征在于，所述驅動模塊為將強電轉換弱電的驅動裝置。

5.根據權利要求1-4任一項所述的一種通斷開關壽命的檢測方法，其特征在于，包括：

S1、單片機通過輸出的弱電信號控制通斷開關的斷開和閉合；

S2、通斷開關的斷開和閉合控制驅動模塊向單片機輸出電平；

S3、單片機對接收到的電平進行判斷和記錄。

6.根據權利要求5所述的一種通斷開關壽命的檢測方法，其特征在于，步驟S1中所述單片機通過輸出的弱電信號控制通斷開關的斷開和閉合的具體方法為：單片機的I/O口發出高電平，通斷開關閉合；單片機的I/O口發出低電平，通斷開關斷開。

7.根據權利要求5所述的一種通斷開關壽命的檢測方法，其特征在于，步驟S2中所述通斷開關的斷開和閉合控制驅動模塊向單片機輸出不同的電平的具體方法為：通斷開關閉合時，電源通過通斷開關對驅動模塊進行供電，驅動模塊輸出電平到單片機；通斷開關斷開時，電源斷開，驅動模塊輸出電平到單片機。

8.根據權利要求5所述的一種通斷開關壽命的檢測方法，其特征在于，步驟S3中單片機對接收到的電平進行判斷和記錄的具體方法為：

a、單片機對通斷開關閉合時輸出的電平判斷是否為高電平，若是則通斷開關正常，反之則異常，接著單片機對通斷開關斷開時輸出的電平是否為低電平，若是則通斷開關正常，反之則異常，；

b、若步驟a中通斷開關閉合時和通斷開關斷開時，判斷通斷開關均為正常，則通斷開關為合格，反之則不合格；

c、重復步驟a和步驟b，單片機對通斷開關是否合格的檢測結果進行記錄。