[發明專利]一種用于IGBT單元的擊穿檢測方法有效
| 申請號: | 201910601552.0 | 申請日: | 2019-07-04 |
| 公開(公告)號: | CN110244210B | 公開(公告)日: | 2021-10-15 |
| 發明(設計)人: | 謝美珍;鄭昕斌 | 申請(專利權)人: | 福州丹諾西誠電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 福州市博深專利事務所(普通合伙) 35214 | 代理人: | 張明 |
| 地址: | 350000 福建省福州市鼓樓*** | 國省代碼: | 福建;35 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 igbt 單元 擊穿 檢測 方法 | ||
1.一種用于IGBT單元的擊穿檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、預設基礎電流變化次數;
S2、獲取處于工作狀態的IGBT單元在一個周期內的電流變化次數;
S3、判斷處于工作狀態的IGBT單元在一個周期內的電流變化次數是否等于所述基礎電流變化次數;
S4、若否,則判定處于工作狀態的IGBT單元有擊穿;
所述獲取處于工作狀態的IGBT單元在一個周期內的電流變化次數的具體步驟為:
S21、預設基準電流值;
S22、依次采集所述IGBT單元在一個周期內的穩定電流值;
S23、將采集到的每一個穩定電流值分別與所述基準電流值作比較,得到對應的電流差值;
S24、依次判斷連續的三個電流差值是否均大于預設變化閾值;
S25、若是,則記錄IGBT單元的電流變化次數并存儲當前的連續的三個穩定電流值,將所述當前的連續的三個穩定電流值中的最后一個的穩定電流值作為新的基礎電流值;
還包括:
預設電流變化次數的初始值;
將連續的三個電流差值分別與所述基準電流值進行計算,得到三個電流差值,作為一組電流變化的判斷依據;
若檢測到一組的連續的三個電流差值均大于預設變化閾值,則將電流變化次數的初始值加一。
2.根據權利要求1所述的用于IGBT單元的擊穿檢測方法,其特征在于,所述IGBT單元包括IGBT1單元和IGBT2單元,所述IGBT1單元與所述IGBT2單元電連接;
獲取處于工作狀態的IGBT1單元和IGBT2單元在一個周期內的電流變化次數的具體步驟為:
預設基準電流值;
將所述一個周期分成第一區間和第二區間;
在第一區間內依次采集IGBT1單元的穩定電流值,在第二區間內依次采集IGBT2單元的穩定電流值;
將采集到IGBT1單元和IGBT2單元的每一個穩定電流值分別與預設基準電流值作比較,得到對應的電流差值;
依次判斷IGBT1單元和IGBT2單元中連續的三個電流差值是否均大于預設變化閾值;
若是,則記錄IGBT1單元和IGBT2單元的電流變化次數并存儲IGBT1單元和IGBT2單元中當前的連續的三個穩定電流值,將所述IGBT1單元和IGBT2單元中當前的連續的三個穩定電流值中的最后采集到的一個穩定電流值分別作為所述IGBT1單元和IGBT2單元的新的基礎電流值。
3.根據權利要求2所述的用于IGBT單元的擊穿檢測方法,其特征在于,在獲取處于工作狀態的IGBT1單元和IGBT2單元在一個周期內的電流變化次數后,還包括以下步驟:
判斷處于工作狀態的IGBT1單元和IGBT2單元在一個周期內的電流變化次數是否等于預設基礎電流變化次數;
若處于工作狀態的IGBT1單元在一個周期內的電流變化次數不等于預設基礎電流變化次數,則判定IGBT1單元有擊穿;
若處于工作狀態的IGBT2單元在一個周期內的電流變化次數不等于預設基礎電流變化次數,則判定IGBT2單元有擊穿;
若處于工作狀態的IGBT1單元和IGBT2單元在一個周期內的電流變化次數不等于預設基礎電流變化次數,則判定IGBT1單元和IGBT2單元均有擊穿。
4.根據權利要求1所述的用于IGBT單元的擊穿檢測方法,其特征在于,所述IGBT單元包括IGBT1單元和IGBT2單元,所述IGBT1單元與所述IGBT2單元電連接,所述IGBT單元在一個周期內的電流變化次數為1-4次,所述IGBT1單元在一個周期內的電流變化次數為1-2次,所述IGBT2單元在一個周期內的電流變化次數為1-2次。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于福州丹諾西誠電子科技有限公司,未經福州丹諾西誠電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910601552.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種基于IGBT單元的擊穿檢測方法
- 下一篇:一種瞬態熱阻測試電路





