[發(fā)明專利]一種用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置

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• 申請日: 2019-07-02
• 公開（公告）號: CN110296896A
• 公開（公告）日: 2019-10-01
• 發(fā)明（設計）人: 哈斯圖亞;鄭文強;崔巍;段友峰;劉小光;睢建平;張磊;王雪
• 申請（專利權(quán)）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01N3/14
• 分類號: G01N3/14;G01N3/20;G01N3/02
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315
• 代理人: 馬驥;南霆

1.一種用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，所述用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置包括橫向的底座(101)、縱向的支架(102)、夾具(103)、軸承(104)、搖桿(105)、定位手柄(106)、彈簧(107)、限位塊(108)、固定螺釘(109)和連接螺釘(110)；其特征在于，支架(102)通過固定螺釘(109)與底座(101)連接固定；夾具(103)通過軸承(104)安裝在支架(102)上，且夾具(103)通過連接螺釘(110)與搖桿(105)連接；定位手柄(106)包括導向段，彈簧(107)套在定位手柄(106)外，定位手柄(106)安裝在搖桿(105)上；限位塊(108)安裝在支架(102)上，且位于搖桿(105)的上方；定位手柄(106)上設置有定位銷，支架(102)上設置有所述定位銷匹配的定位孔。

2.如權(quán)利要求1所述的用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，其特征在于，底座(101)為長方形。

3.如權(quán)利要求1所述的用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，其特征在于，定位手柄(106)包括四段結(jié)構(gòu)，所述四段結(jié)構(gòu)包括由上至下依次的與支架(102)上的所述定位孔進行配合的定位銷段(1061)、裝配套設在彈簧(107)內(nèi)的導向段(1062)、防止彈簧(107)漏出的軸肩段(1063)、用于手持其上進行拉拔和旋轉(zhuǎn)操作的手柄段(1064)，軸肩段(1063)的外徑大于導向段(1062)的外徑。

4.如權(quán)利要求3所述的用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，其特征在于，手柄段(1064)通過螺紋連接安裝在導向段(1062)上。

5.如權(quán)利要求3所述的用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，其特征在于，底座(101)上設置有底座通孔，所述底座通孔內(nèi)設置有螺栓或螺釘，底座(101)通過所述螺栓或螺釘與工作臺連接。

6.如權(quán)利要求5所述的用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，其特征在于，所述底座通孔呈階梯狀分布。

7.如權(quán)利要求5所述的用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，其特征在于，支架(102)的上端設置有支架通孔，軸承(104)被壓緊在所述支架通孔內(nèi)以相互配合連接。

8.如權(quán)利要求7所述的用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，其特征在于，支架(102)包括相連接的平板段和圓柱段；所述平板段上設置有至少兩個用于放置待測引線元器件產(chǎn)品的平板通孔；所述圓柱段與軸承(104)的內(nèi)圈卡緊配合。

9.如權(quán)利要求8所述的用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，其特征在于，搖桿(105)的上端設置有圓孔，夾具(103)設置有圓柱端，所述圓孔與夾具(103)的所述圓柱端間隙配合，且所述圓孔的側(cè)面的上端設置有螺紋孔，所述螺紋孔與連接螺釘(110)配合連接；搖桿(105)的下端設置有呈階梯狀分布的兩個階梯孔，彈簧(107)和定位手柄(106)分別安裝在所述階梯孔內(nèi)。

10.如權(quán)利要求9所述的用于元器件線狀引出端抗拉抗彎測試的裝置，其特征在于，彈簧(107)套設在定位手柄(106)的導向段(1062)外部后，被安裝在搖桿(105)呈階梯狀分布的下端的所述階梯孔內(nèi)。