[發(fā)明專利]相移器件以及包括該相移器件的色差光學(xué)器件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910579002.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-06-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111323863A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-06-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李政燁;金梨香;辛鍾和;梁基延;金容誠(chéng);金材官;李昌承;N.韓 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三星電子株式會(huì)社;韓國(guó)科學(xué)技術(shù)院 |
| 主分類號(hào): | G02B5/30 | 分類號(hào): | G02B5/30;G02B5/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 王新華 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 相移 器件 以及 包括 色差 光學(xué) | ||
提供一種相移器件以及包括該相移器件的色差光學(xué)器件,該相移器件包括:多個(gè)金屬層和多個(gè)第一電介質(zhì)層,所述多個(gè)金屬層中的金屬層和所述多個(gè)第一電介質(zhì)層中的第一電介質(zhì)層在第一方向上交替地堆疊;以及第二電介質(zhì)層,在第二方向上設(shè)置在堆疊結(jié)構(gòu)的側(cè)表面上,其中第一電介質(zhì)層包括具有第一介電常數(shù)的第一材料,第二電介質(zhì)層包括具有第二介電常數(shù)的第二材料,并且其中第二介電常數(shù)大于第一介電常數(shù)。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)的示例實(shí)施方式涉及一種相移器件,更具體地,涉及一種在寬的波長(zhǎng)帶中具有基本上恒定的折射率的包括金屬-電介質(zhì)復(fù)合結(jié)構(gòu)的相移器件。
背景技術(shù)
可以提供通過(guò)使用具有比光的波長(zhǎng)小的尺寸的電介質(zhì)結(jié)構(gòu)的陣列而具有在自然不能被發(fā)現(xiàn)的獨(dú)特電和光性質(zhì)的光學(xué)器件。例如,通過(guò)使用這樣的光學(xué)性質(zhì),可以實(shí)現(xiàn)具有非常小的厚度和小尺寸的透鏡、光束偏轉(zhuǎn)器、全息元件等。
然而,具有尺寸小于光的波長(zhǎng)的電介質(zhì)結(jié)構(gòu)的陣列的光學(xué)器件通常具有波長(zhǎng)依賴性。因此,僅在相對(duì)窄的波長(zhǎng)帶中可以獲得期望的光學(xué)性質(zhì)。例如,由于使用這樣的光學(xué)特性的透鏡具有相對(duì)大的色差(chromatic aberration),所以用于補(bǔ)償色差的單獨(dú)的光學(xué)構(gòu)件與透鏡一起使用。
此外,為了制造這樣的光學(xué)器件,使用在對(duì)應(yīng)光的波長(zhǎng)下具有高折射率的材料。例如,具有至少3.5的折射率的硅(Si)主要用于1550nm的波長(zhǎng)的紅外波段。然而,在自然中不存在在可見(jiàn)光或近紅外區(qū)域中保持高折射率和恒定折射率的單一材料。
發(fā)明內(nèi)容
一個(gè)或更多個(gè)示例實(shí)施方式提供一種在寬的波長(zhǎng)帶中具有基本上恒定的折射率的包括金屬-電介質(zhì)復(fù)合結(jié)構(gòu)的相移器件。
另外的方面將在下面的描述中部分地闡述,并將部分地從該描述變得明顯,或者可以通過(guò)示例實(shí)施方式的實(shí)踐而掌握。
根據(jù)一示例實(shí)施方式的一方面,提供一種相移器件,該相移器件包括:堆疊結(jié)構(gòu),包括金屬層和第一電介質(zhì)層,金屬層和第一電介質(zhì)層在第一方向上交替地堆疊;和第二電介質(zhì)層,設(shè)置在堆疊結(jié)構(gòu)在第二方向上的側(cè)表面上,其中第一電介質(zhì)層包括具有第一介電常數(shù)的第一材料,第二電介質(zhì)層包括具有第二介電常數(shù)的第二材料,其中第二介電常數(shù)大于第一介電常數(shù)。
堆疊結(jié)構(gòu)可以包括至少兩個(gè)金屬層,其中第一電介質(zhì)層可以設(shè)置在所述至少兩個(gè)金屬層中的兩個(gè)相鄰的金屬層之間。
相移器件還可以包括設(shè)置在堆疊結(jié)構(gòu)的所述側(cè)表面與第二電介質(zhì)層之間的氧化物層。
堆疊結(jié)構(gòu)的寬度與第二電介質(zhì)層的寬度之和可以小于入射光的波長(zhǎng)。
堆疊結(jié)構(gòu)的寬度與第二電介質(zhì)層的寬度之和可以小于入射光的波長(zhǎng)的1/3。
堆疊結(jié)構(gòu)的寬度可以等于或大于第二電介質(zhì)層的寬度。
相移器件可以包括多個(gè)所述堆疊結(jié)構(gòu)和設(shè)置在所述多個(gè)堆疊結(jié)構(gòu)之間的多個(gè)所述第二電介質(zhì)層。
所述多個(gè)堆疊結(jié)構(gòu)中的每個(gè)和所述多個(gè)第二電介質(zhì)層中的每個(gè)可以在第三方向上延伸,并且所述多個(gè)堆疊結(jié)構(gòu)和所述多個(gè)第二電介質(zhì)層可以在分別垂直于第一方向和第三方向的第二方向上交替地設(shè)置。
所述多個(gè)堆疊結(jié)構(gòu)可以包括在金屬層的寬度、金屬層的厚度和第一電介質(zhì)層的厚度中的至少一個(gè)上彼此不同的第一堆疊結(jié)構(gòu)和第二堆疊結(jié)構(gòu)。
所述多個(gè)堆疊結(jié)構(gòu)的寬度可以在第二方向上逐漸增大或減小。
相移器件可以具有基于金屬層與第一電介質(zhì)層之間的界面處的表面等離子體共振的第一共振波長(zhǎng)帶以及基于相鄰的兩個(gè)堆疊結(jié)構(gòu)的金屬層之間的磁共振的第二共振波長(zhǎng)帶,其中相移器件可以在第一共振波長(zhǎng)帶與第二共振波長(zhǎng)帶之間的波長(zhǎng)帶中具有4或更大的折射率。
相移器件可以在第一共振波長(zhǎng)帶與第二共振波長(zhǎng)帶之間的波長(zhǎng)帶內(nèi)具有0.3或更小的折射率差。
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