[發(fā)明專利]用于極紫外光輻射源設(shè)備的極紫外光收集器反射鏡及極紫外光輻射源設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910578340.5 | 申請(qǐng)日: | 2019-06-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110658694B | 公開(公告)日: | 2022-04-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳昱至;鄭博中;陳立銳;簡(jiǎn)上傑;余昇剛;顏煒峻 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F7/20 | 分類號(hào): | G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京律誠同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金國 |
| 地址: | 中國臺(tái)灣新竹市*** | 國省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 紫外光 輻射源 設(shè)備 收集 反射 | ||
1.一種用于一極紫外光(EUV)輻射源設(shè)備的EUV收集器反射鏡,其特征在于,包含:
一EUV收集器反射鏡主體,其上設(shè)置一反射層作為一反射表面;
一加熱器,附接到或嵌入該EUV收集器反射鏡主體,該加熱器配置以加熱與熔化沉積在該EUV收集器反射鏡主體的該反射表面上的一金屬;
一排泄結(jié)構(gòu),用于將熔化的該金屬從該EUV收集器反射鏡主體的該反射表面排泄到該EUV收集器反射鏡主體的一背側(cè),該排泄結(jié)構(gòu)包括在該反射表面處的一開口,該排泄結(jié)構(gòu)進(jìn)一步包括在該開口的一底部處提供具有一EUV反射表面的一支撐件,該支撐件具有一曲率,使得在具有該EUV反射表面的該支撐件處反射的EUV輻射以及在該EUV收集器反射鏡主體上的該反射表面處反射的EUV輻射具有一相同的焦點(diǎn);以及
一排泄孔,耦合到該排泄結(jié)構(gòu),其中該排泄結(jié)構(gòu)與該排泄孔配置以使熔化的該金屬通過重力流過該排泄結(jié)構(gòu)到設(shè)置在該EUV收集器反射鏡的最低位置處的該排泄孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EUV收集器反射鏡,其特征在于,該排泄結(jié)構(gòu)包括連接該開口與該排泄孔的一管道。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EUV收集器反射鏡,其特征在于,該開口是穿過該EUV收集器反射鏡主體的一狹縫。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EUV收集器反射鏡,其特征在于,該開口包括以一同心方式排列的多個(gè)開口,并且該多個(gè)開口是狹縫或溝槽。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的EUV收集器反射鏡,其特征在于,以一同心方式排列的該多個(gè)開口通過一主干管道連接,該主干管道在該EUV收集器反射鏡主體的該背側(cè)上或在該EUV收集器反射鏡主體中設(shè)置。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EUV收集器反射鏡,其特征在于,該開口包括一主干管道以及從該主干管道分支的多個(gè)開口,并且該多個(gè)開口是狹縫或溝槽。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的EUV收集器反射鏡,其特征在于,該主干管道在該EUV收集器反射鏡主體的該背側(cè)上設(shè)置。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EUV收集器反射鏡,其特征在于,該開口的一寬度是在從0.5mm至5mm的范圍中。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EUV收集器反射鏡,其特征在于,進(jìn)一步包括用于控制該EUV收集器反射鏡主體的加熱的一加熱器控制器。
10.一種極紫外光(EUV)輻射源設(shè)備,其特征在于,包含:
一EUV收集器反射鏡;
一靶液滴產(chǎn)生器,用于產(chǎn)生一錫(Sn)液滴;
一可旋轉(zhuǎn)碎屑收集機(jī)構(gòu);以及
一腔室,至少包圍該EUV收集器反射鏡及該可旋轉(zhuǎn)碎屑收集機(jī)構(gòu),其中:
該EUV收集器反射鏡包括:
一EUV收集器反射鏡主體,其上設(shè)置一反射層作為一反射表面;
一加熱器,附接到或嵌入該EUV收集器反射鏡主體,該加熱器配置以加熱與熔化沉積在該EUV收集器反射鏡主體的該反射表面上的一金屬;
一排泄結(jié)構(gòu),用于將熔化的該金屬從該EUV收集器反射鏡主體的該反射表面排泄到該EUV收集器反射鏡主體的一背側(cè),該排泄結(jié)構(gòu)包括在該反射表面處的一開口,該排泄結(jié)構(gòu)包括在該開口的一底部處的一EUV反射表面,并且該EUV反射表面具有一曲率,使得在該EUV反射表面處反射的EUV輻射以及在該EUV收集器反射鏡主體上的該反射表面處反射的EUV輻射具有一相同的焦點(diǎn);以及
一排泄孔,耦合到該排泄結(jié)構(gòu),其中該排泄結(jié)構(gòu)與該排泄孔配置以使熔化的該金屬通過重力流過該排泄結(jié)構(gòu)到設(shè)置在該EUV收集器反射鏡的最低位置處的該排泄孔。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的EUV輻射源設(shè)備,其特征在于:
該排泄結(jié)構(gòu)包括連接該開口與該排泄孔的一管道。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的EUV輻射源設(shè)備,其特征在于,該開口包括以一同心方式排列的多個(gè)開口。
13.一種極紫外光(EUV)輻射源設(shè)備,其特征在于,包含:
一EUV收集器反射鏡;
一靶液滴產(chǎn)生器,用于產(chǎn)生一錫(Sn)液滴;
一可旋轉(zhuǎn)碎屑收集機(jī)構(gòu);
一腔室,至少包圍該EUV收集器反射鏡及該可旋轉(zhuǎn)碎屑收集機(jī)構(gòu);
一金屬再用系統(tǒng),其中:
該EUV收集器反射鏡包括:
一EUV收集器反射鏡主體,其上設(shè)置一反射層作為一反射表面;
一加熱器,附接到或嵌入該EUV收集器反射鏡主體,該加熱器配置以加熱與熔化沉積在該EUV收集器反射鏡主體的該反射表面上的一金屬;
一排泄結(jié)構(gòu),用于將熔化的該金屬從該EUV收集器反射鏡主體的該反射表面排泄到該EUV收集器反射鏡主體的一背側(cè);以及
一排泄孔,耦合到該排泄結(jié)構(gòu),其中該排泄結(jié)構(gòu)與該排泄孔配置以使熔化的該金屬通過重力流過該排泄結(jié)構(gòu)到設(shè)置在該EUV收集器反射鏡的最低位置處的該排泄孔;以及
一加熱管,用于將從該排泄孔排泄的熔化的該金屬導(dǎo)引至該金屬再用系統(tǒng)并且進(jìn)一步提供到該靶液滴產(chǎn)生器。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司,未經(jīng)臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910578340.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:激光產(chǎn)生電漿極紫外輻射源設(shè)備及其錯(cuò)誤恢復(fù)的方法、診斷該設(shè)備的RF產(chǎn)生器的方法
- 下一篇:一種基于無掩模直寫光刻的光學(xué)窗口透射波前修正方法
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F7-00 圖紋面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工藝;圖紋面照相制版用的材料,如:含光致抗蝕劑的材料;圖紋面照相制版的專用設(shè)備
G03F7-004 .感光材料
G03F7-12 .網(wǎng)屏印刷模或類似印刷模的制作,例如,鏤花模版的制作
G03F7-14 .珂羅版印刷模的制作
G03F7-16 .涂層處理及其設(shè)備
G03F7-20 .曝光及其設(shè)備
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





