[發明專利]一種處理陰極薄膜提高場發射性能的工藝有效
| 申請號: | 201910554067.2 | 申請日: | 2019-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN110335795B | 公開(公告)日: | 2020-07-14 |
| 發明(設計)人: | 歐陽威;吳翰;易春蓉;杜小霞 | 申請(專利權)人: | 華東師范大學 |
| 主分類號: | H01J9/02 | 分類號: | H01J9/02 |
| 代理公司: | 上海藍迪專利商標事務所(普通合伙) 31215 | 代理人: | 徐筱梅;張翔 |
| 地址: | 200241 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 處理 陰極 薄膜 提高 發射 性能 工藝 | ||
1.一種處理陰極薄膜提高場發射性能的工藝,其特征在于,該工藝具體包括以下步驟:
步驟1:膠帶處理
(1)膠帶的預處理
將選好的膠帶撕開2~10cm,在表面干凈平整的物體或在膠帶自身上將其反復地粘10~500次,通過改變膠帶預處理的次數,改變膠帶的粘附力;
(2)陰極薄膜的膠帶粘撕處理
將處理好的膠帶均勻平整地貼到場發射陰極薄膜上,放置50~1000g重的砝碼,使膠帶均勻、平整地覆蓋住場發射陰極薄膜,再揭下;其中,所述陰極薄膜包括但不限于碳納米管、石墨烯、碳化硅、氧化鋅低維納米材料或其復合物;
步驟2:測試陰極薄膜的場發射性能
將膠帶處理后的場發射陰極薄膜組裝成場發射器件,置于真空系統中測試場發射性能,連接電路,記錄電流和電壓值,計算電流密度和電場強度;結果表明,場發射陰極器件的開啟電場從未進行膠帶處理時的2.39V/μm降至1.51~2.06V/μm,閾值電場由未進行膠帶處理時的3.13V/μm降至1.71~2.59V/μm。
2.如權利要求1所述的工藝,其特征在于,所述表面干凈平整的物體為玻璃、塑料、不銹鋼板或銅箔。
3.如權利要求1所述的工藝,其特征在于,所述膠帶為PI、PET或PVA膠帶。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華東師范大學,未經華東師范大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910554067.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





