[發明專利]質量檢測方法、裝置、電子設備和系統

有效

• 申請號: 201910533045.8
• 申請日: 2019-06-19
• 公開（公告）號: CN110261392B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 蘇業;鄒建法;劉明浩;聶磊;冷家冰;黃特輝;徐玉林;郭江亮;李旭
• 申請（專利權）人: 北京百度網訊科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 朱穎;劉芳

本申請提供一種質量檢測方法、裝置、電子設備和系統，該方法涉及云計算領域，包括：接收采集設備發送的質量檢測請求，質量檢測請求用于請求檢測待檢測對象的質量，質量檢測請求包括：待檢測對象至少一個表面的至少一個角度的圖像；根據圖像的拍攝信息，以及，各計算節點的計算資源使用信息，確定目標節點，以及，目標節點上的目標計算資源；向目標節點發送質量檢測請求和調度指令，調度指令用于指示目標節點使用目標計算資源，以及目標計算資源中的質量檢測模型，檢測待檢測對象的質量；接收目標節點發送的待檢測對象的質量檢測結果。本申請提供的質量檢測方法能夠提高檢測效率和檢測準確度。

技術領域

本申請涉及圖像處理應用技術領域，尤其涉及一種質量檢測方法、裝置、電子設備和系統。

背景技術

在傳統制造業生產場景中，如3C產品零部件制造、鋼鐵生產、汽車制造、電池制造、太陽能板制造等領域中，產品的表面狀態檢測是制造廠商控制出貨質量、維持生產關系的重要環節。例如，檢測產品的表面是否有劃痕、異物等。

現有技術中，產品表面狀態的檢測多為人工目視檢測，或人工借助輔助儀器質檢。但由于高強度的檢測節奏可能會導致質檢人員產生誤判，且不同的質檢人員的檢測結果無法對齊。

發明內容

本申請提供一種質量檢測方法、裝置、電子設備和系統，能夠提高檢測效率和檢測準確度。

本申請的第一方面提供一種質量檢測方法，包括：

接收采集設備發送的質量檢測請求，所述質量檢測請求用于請求檢測待檢測對象的質量，所述質量檢測請求包括：所述待檢測對象至少一個表面的至少一個角度的圖像；

根據所述圖像的拍攝信息，以及，各計算節點的計算資源使用信息，確定目標節點，以及，所述目標節點上的目標計算資源；

向所述目標節點發送所述質量檢測請求和調度指令，所述調度指令用于指示所述目標節點使用所述目標計算資源和質量檢測模型，檢測所述待檢測對象的質量；

接收所述目標節點發送的所述待檢測對象的質量檢測結果。

可選的，所述接收所述目標節點發送的所述待檢測對象的質量檢測結果之后，所述方法還包括：

根據所述待檢測對象的質量檢測結果，確定所述待檢測對象的分送目的地；

向分料設備發送分料請求，所述分料請求用于請求將所述待檢測對象分送至所述分送目的地。

可選的，所述質量檢測請求還包括：所述待檢測對象的生產信息，所述接收所述目標節點發送的所述待檢測對象的質量檢測結果之后，所述方法還包括：

若所述待檢測對象的質量檢測結果表征所述待檢測對象的質量合格，則存儲所述待檢測對象的生產信息；或者，

若所述待檢測對象的質量檢測結果表征所述待檢測對象的質量不合格，則推送報警信息，所述報警信息用于指示所述待檢測對象的質量不合格。

可選的，所述接收采集設備發送的質量檢測請求之前，所述方法還包括：

向各所述計算節點發送質量檢測服務啟動指令，所述質量檢測服務啟動指令用于指示所述計算節點啟動質量檢測服務。

可選的，所述向所述目標節點發送所述質量檢測請求和調度指令之后，所述方法還包括：

根據所述目標計算資源，更新所述目標節點的計算資源使用信息。

可選的，所述計算資源包括處理器的資源和/或異構芯片的資源。

可選的，所述異構芯片為下述任一項：

圖形處理器芯片、現場可編程門陣列芯片、專用集成電路芯片。

本申請的第二方面提供一種質量檢測方法，包括：