[發明專利]檢測設備、電力供應系統以及控制檢測設備的方法

有效

• 申請號: 201910528058.6
• 申請日: 2014-05-09
• 公開（公告）號: CN110266119B
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 大前宇一郎;木屋川內保
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: H02J50/60
• 分類號: H02J50/60;H02J50/12;H02J7/02;G01V3/12
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳孟秋

1.一種電力供應設備，包括：

電力供應控制部（120），被配置為控制從電力供應線圈（160）通過磁場無線供應至電力接收設備（400）的電力接收線圈（430）的電力量；

測量部（451），被配置為測量所述電力供應線圈（160）的電力供應線圈電壓；以及

異物檢測部（460），被配置為基于所述電力供應線圈電壓獲得所述電力供應線圈（160）的電特性值，并且被配置為基于所述電特性值和閾值檢測所述磁場中是否存在異物；

其中，所述異物檢測部（460）被配置為當所述電特性值小于所述閾值時檢測到所述異物的存在，

其中，所述電力供應控制部（120）被配置為：

當所述測量部（451）測量到所述電力供應線圈電壓時，將第一電力量（W1）供應到所述電力接收線圈（430），以及

當所述異物檢測部（460）檢測到所述磁場中不存在所述異物時，將第二電力量（W2）供應到所述電力接收線圈（430），所述第二電力量比所述第一電力量高。

2.根據權利要求1所述的電力供應設備，其中，所述異物檢測部（460）進一步被配置為基于參考值設置所述閾值，所述參考值是當不存在異物時所述電力供應線圈（160）的所述電特性。

3.根據權利要求2所述的電力供應設備，其中，所述閾值比所述參考值低。

4.根據權利要求1所述的電力供應設備，其中，所述測量部（451）被進一步配置為測量所述電力供應線圈（160）的兩端之間的電位差（V₃）作為所述電力供應線圈電壓。

5.根據權利要求1所述的電力供應設備，其中，所述電力供應控制部（120）進一步被配置為根據從所述電力接收設備（400）無線接收到的電力供應控制信號控制所述電力接收線圈（430）的電力量。

6.一種電力供應設備（100），包括：

電力供應面，具有特定面積，所述電力供應面的表面被配置為放置電力接收設備（400）；

諧振電路，包括電容器（150）和電力供應線圈（160），所述電力供應線圈（160）被布置到所述電力供應面的下部或所述表面；

電力供應控制部（120），被配置為控制從電力供應線圈（160）通過磁場無線供應至所述電力接收設備（400）的電力接收線圈（430）的電力量；

測量部（451），被配置為測量所述電力供應線圈（160）的電力供應線圈電壓；以及

異物檢測部（460），被配置為基于所述電力供應線圈電壓獲得所述電力供應線圈（160）的電特性值，并且被配置為基于所述電特性值和閾值檢測所述磁場中是否存在異物；

其中，所述異物檢測部（460）被配置為當所述電特性值小于所述閾值時檢測到所述異物的存在，

其中，所述電力供應控制部（120）被配置為：

當所述測量部（451）測量到所述電力供應線圈電壓時，將第一電力量（W1）供應到所述電力接收線圈（430），以及

當所述異物檢測部（460）檢測到所述磁場中不存在所述異物時，將第二電力量（W2）供應到所述電力接收線圈（430），所述第二電力量比所述第一電力量高。