[發(fā)明專利]調(diào)整芯片性能的方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910475455.1 | 申請日: | 2019-06-03 |
| 公開(公告)號: | CN112034902A | 公開(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | 任數(shù)風 | 申請(專利權(quán))人: | 阿里巴巴集團控股有限公司 |
| 主分類號: | G05D23/24 | 分類號: | G05D23/24 |
| 代理公司: | 北京領科知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(特殊普通合伙) 11690 | 代理人: | 張丹 |
| 地址: | 英屬開曼群島大開*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 調(diào)整 芯片 性能 方法 裝置 | ||
本發(fā)明提供了一種調(diào)整芯片性能的方法及裝置,通過接收與應用任務相對應的芯片性能提升請求,設置性能提升標識和芯片的非常規(guī)工作參數(shù),將芯片的工作參數(shù)調(diào)整為非常規(guī)工作參數(shù),使溫度常規(guī)控制參數(shù)失效,從而解決了現(xiàn)有技術(shù)中芯片性能指標受到Linux熱框架的溫度控制策略嚴格控制的問題,在保證芯片工作安全的前提下,實現(xiàn)了在用戶需要時提高芯片性能,提高用戶體驗。
技術(shù)領域
本發(fā)明涉及芯片性能控制領域,更具體地說,涉及一種調(diào)整芯片性能的方法及裝置。
背景技術(shù)
機器(手機、計算機)上熱量的積累主要來源于高功耗的芯片工作,系統(tǒng)溫度(thermal)控制管理主要有兩個目的:1.控制元件溫度,防止被燒壞;2.控制整機溫度,確保用戶使用安全。控制機器溫度的方法可以從兩方面入手:1.結(jié)構(gòu)方面,做好散熱處理:取決于硬件結(jié)構(gòu)布局、散熱器件的添加等,結(jié)構(gòu)布局將發(fā)熱芯片盡量分散,防止溫度在一個點產(chǎn)生聚集,不利于散熱。添加輔助散熱的器件,加快熱量由熱源向四周擴散速度,從而控制溫度升高。2.軟件方面,控制功耗:實時監(jiān)控機器溫度,并以當前溫度為參考,對整機功耗進行優(yōu)化限制,防止機器持續(xù)高功率運行,熱量持續(xù)聚集。
在控制軟件功耗進行溫度控制時,Linux熱框架LTF(Linux Thermal Framework)是系統(tǒng)溫度控制管理的主要框架,其把溫度控制系統(tǒng)抽象成兩類設備:溫度獲取設備和溫度控制設備(降溫設備),以及降溫策略(thermal governor)。溫度獲取設備,用于采集并上報自己的溫度;溫度控制設備,用于執(zhí)行指定的動作、策略以達到降低溫度的目的。降溫策略在流程上是連接溫度獲取設備和溫度控制設備的一個紐帶。溫度獲取設備可以設定多個溫度觸發(fā)點,每個溫度觸發(fā)點即是一個溫度閾值,可以和一個且只能是一個溫度控制設備綁定。Linux熱框架LTF會周期讀取每一個溫度獲取設備的溫度,當溫度超過溫度觸發(fā)點之后,則觸發(fā)其綁定的溫度控制設備開始工作,控制芯片溫度不再持續(xù)升高。
然而在某些特殊情況或者特定場景下,例如在環(huán)境溫度較高,或者用戶高負載使用導致的發(fā)熱等場景下,根據(jù)用戶需求需要短時間突破Linux熱框架的限定提高芯片的性能時,目前的系統(tǒng)運行機制不能滿足用戶的這一需求,無法突破溫度控制對芯片頻率等性能的限制,進一步提高產(chǎn)品性能。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種調(diào)整芯片性能的方法,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中芯片性能指標受到Linux熱框架的溫度控制設備嚴格控制的問題,實現(xiàn)了在用戶需要時進一步提高芯片性能,有效提升系統(tǒng)效率,提高用戶體驗。
為了解決上述技術(shù)問題,現(xiàn)提出的方案如下:
一種調(diào)整芯片性能的方法,包括:
初始化芯片的溫度常規(guī)控制參數(shù),所述溫度常規(guī)控制參數(shù)用于控制芯片的工作溫度處于正常范圍;
接收與應用任務相對應的芯片性能提升請求;
根據(jù)所述請求設置性能提升標識和芯片的非常規(guī)工作參數(shù),將所述芯片的工作參數(shù)調(diào)整為所述非常規(guī)工作參數(shù),使所述溫度常規(guī)控制參數(shù)失效,其中,芯片根據(jù)所述非常規(guī)工作參數(shù)的工作溫度將超出所述正常范圍。
優(yōu)選的,所述溫度常規(guī)控制參數(shù)用于控制芯片的工作溫度處于正常范圍內(nèi)具體包括:
當芯片的工作溫度超過所述溫度常規(guī)控制參數(shù)中記錄的溫度控制值時將芯片的工作參數(shù)調(diào)整為所述溫度常規(guī)控制參數(shù)記錄的常規(guī)工作參數(shù),以使芯片的工作溫度恢復到正常范圍內(nèi)。
優(yōu)選的,所述將所述芯片的工作參數(shù)調(diào)整為所述非常規(guī)工作參數(shù)之后,還包括:
當接收到性能恢復請求時,或者,所述芯片非常規(guī)工作超出預定的工作時長時,使所述溫度常規(guī)控制參數(shù)生效,將所述芯片的工作參數(shù)調(diào)整為所述常規(guī)工作參數(shù)。
優(yōu)選的,所述初始化芯片的溫度常規(guī)控制參數(shù),具體包括:
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