[發(fā)明專利]電容柜容值的估算方法及檢測系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910447906.0
• 申請日: 2019-05-27
• 公開（公告）號: CN110187190A
• 公開（公告）日: 2019-08-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王旭昊;高亞春;費懷勝;趙瑞杰;王海明;陳娜娜;楊曉光;李春陽;代興華;劉德林;王萌
• 申請（專利權(quán)）人: 許昌許繼風(fēng)電科技有限公司;許繼集團有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R31/00
• 代理公司: 鄭州睿信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 41119
• 代理人: 崔旭東

1.一種電容柜容值的估算方法，其特征在于，包括以下步驟：

在滯環(huán)充電中的每個采樣周期，獲取電容模組的充電電流和電壓，得到相鄰采樣周期電容模組的電壓差值；

根據(jù)所述充電電流以及電壓差值得到每個采樣周期內(nèi)的電容模組的電容值；所述采樣周期內(nèi)的電容模組的電容值與所述采樣周期時間、充電電流成正比，與所述電壓差值成反比；所述采樣周期時間為T/N，T為滯環(huán)充電的時間，N＝1、2、3……；

對滯環(huán)充電過程中所有采樣周期內(nèi)的電容模組的電容值進行疊加，得到電容模組的容值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電容柜容值的估算方法，其特征在于，所述充電電流通過檢測充電電阻的電流得到的。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電容柜容值的估算方法，其特征在于，根據(jù)所述電容模組的容值進行電容柜老化的檢測，若電容模組的電容值小于電容下限閾值時，則判斷電容柜為老化狀態(tài)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電容柜容值的估算方法，其特征在于，根據(jù)所述電容模組的容值計算蓄電狀態(tài)下電容模組的漏電流，若所述漏電流大于漏電流上限閾值時，則判斷電容柜為老化狀態(tài)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電容柜容值的估算方法，其特征在于，所述漏電流為平均漏電流，所述平均漏電流的計算過程為：

其中，I_L為平均漏電流，C為電容模組的容值，ΔU_c為蓄電狀態(tài)開始時與蓄電狀態(tài)結(jié)束時電容模組的電壓差，Δt為蓄電狀態(tài)的維持時間。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電容柜容值的估算方法，其特征在于，根據(jù)所述電容模組的容值計算電容模組的有效儲能值，若所述有效儲能值低于所述有效儲能值下限閾值時，則判斷電容柜為故障狀態(tài)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電容柜容值的估算方法，其特征在于，所述有效儲能值的計算過程為：

E＝0.5C(U_c²-U_min²)，

其中，E為有效儲能值，C為電容模組的容值，U_c為蓄電狀態(tài)下電容模組的電壓，U_min為電容模組直流工作的電壓下限值。

8.一種電容柜容值的檢測系統(tǒng)，包括充電電流采集模塊和用于采集電容模組電壓的電壓采集模塊，還包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器在執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任意一項所述的電容柜容值的估算方法。