[發(fā)明專利]一種鏡片洗凈檢查治具及其工作方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910402109.0 | 申請日: | 2019-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN110006852A | 公開(公告)日: | 2019-07-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何靈敏;雷洪濤 | 申請(專利權(quán))人: | 福建福光光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/55 | 分類號: | G01N21/55;G01N21/59;G01N21/88;G01N21/94;G01N21/01 |
| 代理公司: | 福州元?jiǎng)?chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 35100 | 代理人: | 黃詩錦;蔡學(xué)俊 |
| 地址: | 350300 福建省福州*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 下定位孔 檢查 上定位孔 透光孔 洗凈 座板 定位凸臺 蓋板 鏡片 底面 頂面 定位凹槽 治具 一次性完成 上下對接 定位孔 小鏡片 配合 | ||
1.一種鏡片洗凈檢查治具,其特征在于:包括檢查座板和蓋設(shè)在檢查座板上方的檢查蓋板,所述檢查座板的頂面設(shè)有定位凸臺,所述定位凸臺的頂面開設(shè)有若干個(gè)下定位孔,檢查座板的底面設(shè)有與若干個(gè)下定位孔相對應(yīng)的若干個(gè)下透光孔,所述下透光孔與下定位孔相連通;所述檢查蓋板的底面設(shè)有用于與定位凸臺相配合的定位凹槽,所述定位凹槽的底面設(shè)有與若干個(gè)下定位孔相對應(yīng)的若干個(gè)上定位孔,所述上定位孔與下定位孔上下對接形成用以放置鏡片的定位孔,所述檢查蓋板的頂面設(shè)有與若干個(gè)上定位孔相對應(yīng)的若干個(gè)上透光孔,所述上透光孔與上定位孔相連通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鏡片洗凈檢查治具,其特征在于:所述上透光孔、上定位孔、下定位孔以及下透光孔均呈矩陣分布,上透光孔、上定位孔、下定位孔以及下透光孔的軸線重合。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種鏡片洗凈檢查治具,其特征在于:所述定位凹槽的左、右側(cè)壁對稱設(shè)有若干個(gè)沿縱向間隔均布的上排水槽,所述上排水槽的數(shù)量與上定位孔的行數(shù)相同且位置一一對應(yīng),上排水槽沿橫向貫穿;所述定位凸臺的頂面沿縱向分布有與若干個(gè)上排水槽的位置相對應(yīng)的若干個(gè)下排水槽,所述下排水槽沿橫向貫穿位于同一橫列的下定位孔,上排水槽與下排水槽拼接形成以利排出定位孔內(nèi)水體的排水槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種鏡片洗凈檢查治具,其特征在于:所述上定位孔和下定位孔均為階梯孔且上下對稱分布,所述上透光孔和下透光孔均為錐度孔且上下對稱分布。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種鏡片洗凈檢查治具,其特征在于:所述錐度孔的錐角為80°。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鏡片洗凈檢查治具,其特征在于:所述檢查座板、檢查蓋板、定位凸臺以及定位凹槽均為方形。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種鏡片洗凈檢查治具,其特征在于:所述檢查座板與檢查蓋板上位于對角位置的兩個(gè)頂點(diǎn)均設(shè)置有倒角,另外兩個(gè)處于對角位置的兩個(gè)頂點(diǎn)均設(shè)置有圓角。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鏡片洗凈檢查治具,其特征在于:所述定位凹槽的底面與定位凸臺的頂面均亞光處理。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鏡片洗凈檢查治具,其特征在于:所述定位凸臺的高度大于定位凹槽的深度,以使檢查蓋板的底面與檢測座板的頂面之間具有間隙。
10.一種鏡片洗凈檢查治具的工作方法,其特征在于:包括采用如權(quán)利要求1~9任一所述的一種鏡片洗凈檢查治具,工作時(shí)包含如下步驟:
步驟S1:首先將鏡片放置在檢查座板的上定位孔內(nèi),接著將檢查蓋板蓋設(shè)在檢查座板上,上定位孔與下定位孔配合將鏡片進(jìn)行定位,最后將檢測蓋板與檢查座板進(jìn)行固定后放入插籃內(nèi)進(jìn)行洗凈、甩干;
步驟S2,反射光檢查:先取下檢查座板或檢查蓋板,接著將鏡片放置在燈光下照射,光從鏡片表面反射進(jìn)入人眼,檢查鏡片表面外觀狀況;
步驟S3,透光檢查:將整個(gè)治具放入燈光下照射,光從治具一側(cè)面的通光孔穿過,接著穿過鏡片,再穿過治具另一側(cè)面的通光孔,最后進(jìn)入人眼,檢查鏡片表面外觀狀況。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





