[發明專利]一種debug硬件電路有效
| 申請號: | 201910401176.0 | 申請日: | 2019-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN110119357B | 公開(公告)日: | 2023-01-06 |
| 發明(設計)人: | 高超 | 申請(專利權)人: | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105 | 代理人: | 王汝銀 |
| 地址: | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 debug 硬件 電路 | ||
1.一種debug硬件電路,其特征在于,包括與XDP工具連接的XDP連接器,所述XDP連接器分別與第一交換單元和第一CPU連接;
所述第一交換單元分別與所述第一CPU、第二CPU和MUX芯片連接,所述MUX芯片與所述第一CPU、第二CPU和第二交換單元連接,所述第二交換單元與所述第二CPU連接;
所述XDP連接器設有針腳JTAG_TDO、針腳JTAG_TRST、針腳JTAG_TDI以及針腳JTAG_TCK0;
所述XDP連接器的針腳JTAG_TCK0分別第一CPU的引腳TCK、第二CPU的引腳TCK連接,所述第一CPU還設有引腳TRST_N、引腳TDI、引腳TD0以及引腳PVCCIO,所述第二CPU設有引腳TRST_N、引腳TDI、引腳TD0、引腳PVCCIO以及引腳SKTOCC_N;
所述XDP連接器的針腳JTAG_TDO與第一交換單元的引腳A1連接,所述第一交換單元還設有引腳A2、引腳A3、引腳A4、引腳B1、引腳B2、引腳B3、引腳B4以及引腳OE,所述XDP連接器的針腳JTAG_TRST與所述第一交換單元的引腳A2連接,所述XDP連接器的針腳JTAG_TDI與所述第一交換單元的引腳A3連接,所述第一交換單元的引腳B1與MUX芯片的引腳A連接,所述MUX芯片還設有引腳B、引腳S、引腳B0和引腳B1,第一交換單元的引腳B2分別與所述第一CPU的引腳TRST_N、第二CPU的引腳TRST_N連接,所述第一交換單元的引腳B3與所述第一CPU的引腳TDI連接;
所述MUX芯片的引腳S與所述第二CPU的引腳SKTOCC_N連接,所述MUX芯片的引腳S與所述第二CPU的引腳SKTOCC_N之間的線路上設有第七電流節點,所述第七電流節點引出的線路與第二交換單元的引腳OE_N連接,所述MUX芯片的引腳B1與所述第一CPU的引腳TDO連接,所述MUX芯片的引腳B0與所述第二CPU的引腳TDO連接;
所述第二交換單元還設有引腳A和引腳B,所述MUX芯片的引腳B1與所述第一CPU的引腳TDO之間的線路上設有第三電流節點,所述第三電流節點引出的線路與所述第二交換單元的引腳A連接,所述第二CPU的引腳TDI與所述第二交換單元的引腳B連接。
2.根據權利要求1所述的debug硬件電路,其特征在于,所述第二CPU的引腳TCK與所述XDP連接器的針腳JTAG_TCK0之間的線路上設有第一電流節點,所述第一電流節點引出的線路串接電阻R1后接地。
3.根據權利要求2所述的debug硬件電路,其特征在于,所述第一交換單元的引腳B3與所述第一CPU的引腳TDI之間的線路上設有第二電流節點,所述第二電流節點引出的線路串接電阻R2后與所述第一CPU的引腳PVCCIO連接。
4.根據權利要求1所述的debug硬件電路,其特征在于,所述第三電流節點與所述第一CPU的引腳TDO之間的線路上設有第四電流節點,所述第四電流節點引出的線路串接電阻R3后與所述第一CPU的引腳PVCCIO連接。
5.根據權利要求1所述的debug硬件電路,其特征在于,所述第二CPU的引腳TDI與所述第二交換單元的引腳B之間的線路上設有第五電流節點,所述第五電流節點引出的線路串接電阻R4后與所述第二CPU的引腳PVCCIO連接。
6.根據權利要求2所述的debug硬件電路,其特征在于,所述第二CPU的引腳TDO與所述第二交換單元的引腳B0之間的線路上設有第六電流節點,所述第六電流節點引出的線路串接電阻R5后與所述第二CPU的引腳PVCCIO連接。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于蘇州浪潮智能科技有限公司,未經蘇州浪潮智能科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910401176.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:程序的測試方法和裝置
- 下一篇:FBD程序的測試方法及裝置





