[發明專利]一種邊緣缺陷的檢測方法有效
| 申請號: | 201910399025.6 | 申請日: | 2019-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN110163853B | 公開(公告)日: | 2021-05-25 |
| 發明(設計)人: | 呂耀輝;盧盛林 | 申請(專利權)人: | 廣東奧普特科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/13;G06T5/00 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人: | 潘俊達;王滔 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 邊緣 缺陷 檢測 方法 | ||
1.一種邊緣缺陷的檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
對待測物的邊緣區域進行圖像信息采集,根據采集到的圖像信息計算得到待測物的邊緣輪廓點信息;
在所述邊緣輪廓點中檢測和記錄可疑缺陷點,組成可疑缺陷點集;
對被記錄的所述可疑缺陷點集進行聚類分組,計算所述分組中各數據點坐標(x ,y)的相關系數:
其中:Var(x)為x的方差,Var(y)為y的方差,Cov(x ,y)為x與y之間的協方差,若所述相關系數的絕對值大于設定的標準值,則將數據點擬合成直線,若所述相關系數的絕對值小于或等于設定的標準值,則將數據點擬合成二次曲線;
計算每個所述可疑缺陷點到所述擬合線的距離,并判斷所述距離是否大于預設的閾值,若所述距離大于所述閾值,則所述可疑缺陷點為邊緣缺陷點,得出檢測結果;
更改參數,進行重新檢測,對所述檢測結果進行驗證。
2.根據權利要求1中所述的邊緣缺陷的檢測方法,其特征在于:在對待測物的邊緣區域進行圖像信息采集的過程中,采用自適應的中值濾波法進行圖像噪音處理。
3.根據權利要求2中所述的邊緣缺陷的檢測方法,其特征在于,所述自適應的中值濾波法包括以下步驟:
從所述圖像中選取一定范圍作為濾波采樣窗口;
通過從所述采樣窗口中取出奇數個像素點的灰度值數據進行排序,計算得到該范圍內的中值;
對該范圍內像素點的灰度值依次進行判斷,若該值是極值,則該像素處的灰度值使用所述中值代替;若不是極值,則保留原像素點的灰度值。
4.根據權利要求1中所述的邊緣缺陷的檢測方法,其特征在于:所述待測物的圖像信息包括多條待測物的邊緣。
5.根據權利要求1中所述的邊緣缺陷的檢測方法,其特征在于:檢測和記錄可疑缺陷點包括提取可疑缺陷點、對所述可疑缺陷點進行二次檢測以及濾除非可疑缺陷點。
6.根據權利要求5中所述的邊緣缺陷的檢測方法,其特征在于:提取可疑缺陷點,包括以下步驟:
步驟1)以所述邊緣輪廓點依次為中心點建立直角坐標系;
步驟2)計算落在第一象限內的各個點的橫坐標絕對值之和以及縱坐標絕對值之和,分別記為|N1_X|和|N1_Y|,并將|N1_X|和|N1_Y|進行求和得到合值,記為N1;
步驟3)按照步驟2)中的方法分別計算落在第二象限、第三象限和第四象限的各個點的合值,分別記為N2、N3、N4;
步驟4)按照關系式N13=|N1-N3|,N24=|N2-N4|,N=|N13+N24|計算,求得N值;
步驟5)將求得的N值與預設的提取閾值進行判別,若N值大于所述提取閾值,則所述邊緣輪廓點為可疑缺陷點。
7.根據權利要求1中所述的邊緣缺陷的檢測方法,其特征在于,對被記錄的所述可疑缺陷點進行聚類分組,包括以下步驟:
S1)將檢測到的每個所述可疑缺陷點歸為一類并將其存放在一維點序列中,計算相鄰兩個所述可疑缺陷點之間的距離;
S2)將S1中計算所得的各個距離的值進行從大到小排序并設定分層閾值,把所述可疑缺陷點重新劃分為多組,保存到二維點序列中;
S3)計算各個組中相鄰兩個所述可疑缺陷點之間的距離;
S4)重復S2和S3,直到S3中的所述距離小于所述分層閾值為止。
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