[發明專利]一種存儲器集成測試裝置

在審

• 申請號: 201910376460.7
• 申請日: 2019-05-07
• 公開（公告）號: CN110246536A
• 公開（公告）日: 2019-09-17
• 發明（設計）人: 顧戌;李庭育;莊健民;孟濤成
• 申請（專利權）人: 江蘇華存電子科技有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 蘇州廣正知識產權代理有限公司 32234
• 代理人: 張漢欽

本發明提供一種存儲器集成測試裝置，裝置包括：驗證工具、可程式電源適配器、電路控制器、程式控制器、計算機設備、存儲器；所述的驗證工具、可程式電源適配器、電路控制器、復雜程式控制器依次接入所述計算機設備；所述程式控制器控制所述電路控制器，通過所述可程式電源適配器，對所述存儲器進行測試。本發明將傳統驗證方式整合，實現了老化驗證，斷電驗證，性能驗證，電性測試，可編輯性資料錄入等多種復雜驗證，將電性、可靠度、功能等驗證整合一體化，對于存儲器進行全方位立體化的驗證測試。

技術領域

本發明涉及半導體存儲類產品性能測試系統，具體涉及一種存儲器集成測試裝置。

背景技術

近年來，在半導體存儲器技術領域中，存儲器的發展尤為迅速。由于存儲器是一種非易失性存儲器，對于所有的半導體存儲類產品，需要對存儲類產品進行性能的可靠性測試，例如高低溫環境下的老化測試模擬在高溫或低溫的環境下，通過輔助控制軟件發指令，向存儲類產品做讀寫和比對測試，確認存儲產品在嚴苛的外部環境是否可以正常運作。另外通斷電會對影響存儲器的性能，存儲器的穩定性決定了讀取和寫入數據資料的安全性，在存儲器出廠前，需要對存儲器的可靠性進行測試，存儲器的可靠性測試包括讀取、寫入、擦除、老化等測試項目。也就是說還需要通斷電裝置通過計算機對存儲器進行循環通斷路驗證。另外需要電源適配器，通過計算機對存儲器進行電源穩定性驗證，通過萬用表對存儲器進行點功能驗證，對于這些測試過程分別需要配置程式反饋系統。

綜上所述，傳統的存儲器驗證方式，通常分別對產品性能，可靠度分別進行測試驗證，驗證周期長，人工消耗大，驗證設備投入大，驗證方式單一。

發明內容

存儲器設備廠商對于存儲器的研發生產，有一系列復雜嚴謹科學的驗證方式，由此方可驗證產品性能，隨著科技越發進步，產品復雜化、多元化，驗證的方式也開始向著集成化，步驟簡單化轉變。為了解決上述的以及其他潛在的技術問題，本發明提供的技術方案如下：

一種存儲器集成測試裝置，裝置包括：驗證工具、可程式電源適配器、電路控制器、程式控制器、計算機設備、存儲器；所述的驗證工具、可程式電源適配器、電路控制器、復雜程式控制器依次接入所述計算機設備；所述程式控制器控制所述電路控制器，通過所述可程式電源適配器，對所述存儲器進行測試。

于本發明的一實施例中，還包括數據交互端口，所述數據交互端口與外部設備相連接，且外部設備是可控的。

于本發明的一實施例中，所述外部設備選擇為高低溫環境設備。

于本發明的一實施例中，所述高溫的溫度范圍是35~45℃，低溫環境的溫度是-15~0℃，所述恒溫的溫度是10~20℃。

通過數據交互端口，可與高低溫環境設備相連接，可控制外部設備，也通過外部對計算機發送執行命令。

于本發明的一實施例中，通過所述電路控制器控制所述存儲器的上電與斷電時間。

于本發明的一實施例中，在上電時對所述存儲器進行讀取和寫入的測試，完成測試后斷電，再次上電并進行所述存儲器的讀取和寫入的測試，并與上次測試進行比對。

由計算機中的程式控制裝置發出命令，控制不同端口的電路控制裝置，可以控制上電與斷電的時間，對后段設備進行正常斷電驗證，上電后可偵測到存儲器進行讀取和寫入，完成后斷電，再次上電做資料比對。

于本發明的一實施例中，所述上電和斷電的時間是隨機的。

可對后段設備進行不正常斷電驗證，上電后可偵測到存儲器進行讀取和寫入，隨機斷電與上電，確認存儲器是否正常。

于本發明的一實施例中，對所述存儲器的測試包括功耗測試，并將測試結果記錄回傳所述計算機設備。

于本發明的一實施例中，還包括測試工具，所述測試工具可測量電流電壓功耗。