[發明專利]晶體陣列、探測器、醫療檢測設備及晶體陣列的制造方法在審
| 申請號： | 201910349456.1 | 申請日： | 2019-04-28 |
| 公開（公告）號： | CN110007332A | 公開（公告）日： | 2019-07-12 |
| 發明（設計）人： | 李新穎;王希;趙健;徐保偉;梁國棟 | 申請（專利權）人： | 東軟醫療系統股份有限公司 |
| 主分類號： | G01T1/202 | 分類號： | G01T1/202;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 110167 遼寧*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 晶體陣列 粗糙面 光滑面 晶體的 醫療檢測設備 連接面 探測器 長度方向排布 晶體表面處理 傳輸路徑 降低位置 空氣耦合 探測區域 陣列排布 光面 出光面 入光面 光子 申請 粗糙 圖譜 制造 保證 | ||
1.一種晶體陣列，用于醫療檢測設備的探測器，其特征在于，所述晶體陣列包括呈陣列排布的多個晶體，每個所述晶體具有入光面、出光面及連接所述入光面和出光面的連接面，相鄰的兩個所述晶體中的至少一個的連接面包括粗糙面及連接粗糙面的光滑面，所述粗糙面與光滑面沿所述晶體的長度方向排布。
2.如權利要求1所述的晶體陣列，其特征在于：所述相鄰的兩個所述晶體之間通過空氣耦合。
3.如權利要求2所述的晶體陣列，其特征在于：所述光滑面連接所述入光面，所述粗糙面連接所述出光面。
4.如權利要求1至3項中任一項所述的晶體陣列，其特征在于：所述粗糙面的面積小于所述光滑面的面積。
5.如權利要求1所述的晶體陣列，其特征在于：所述入光面和出光面均為光滑表面且呈平行設置。
6.如權利要求4所述的晶體陣列，其特征在于：所述晶體的材質為LYSO、LSO、BGO、NaI、LaBr3、GSO、LGSO、GACC中的至少一種。
7.如權利要求4所述的晶體陣列，其特征在于：所述晶體陣列包括反射膜，所述反射膜至少部分覆蓋于所述晶體形成的陣列的外周，所述反射膜的材質為PTFE、Teflon、MgO、TiO2、BaSo4、ESR中的至少一種。
8.一種探測器，其特征在于，所述探測器包括：
如權利要求1至7項中任一項所述的晶體陣列；
光電檢測器組件，包括呈陣列排布的光電檢測器，所述光電檢測器面向所述晶體的出光面。
9.如權利要求8所述的探測器，其特征在于：所述光電檢測器包括硅光電倍增管和光電倍增管中的至少一種。
10.一種醫療檢測設備，其特征在于：所述醫療檢測設備包括如權利要求8或9所述的探測器。
11.一種晶體陣列的制造方法，所述晶體陣列包括多個晶體，其特征在于，所述晶體陣列的制造方法包括：
對晶體的外表面進行加工，形成入光面、出光面及連接面；
對所述晶體進行排布，形成陣列；
在陣列的外周設置反射膜，形成晶體陣列；
其中，所述連接面包括粗糙面及連接粗糙面的光滑面，且所述連接面連接所述入光面與出光面，所述粗糙面與光滑面沿所述晶體的長度方向排布。
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