[發明專利]一種流式樣品多波長熒光檢測方法

在審

• 申請號: 201910343195.2
• 申請日: 2019-04-26
• 公開（公告）號: CN110057798A
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 蓋宏偉;田文韜
• 申請（專利權）人: 江蘇師范大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種流式樣品多波長熒光檢測方法，包括，使激光經過二向色鏡進入物鏡鏡頭后聚焦照射到樣品池上；樣品池中的熒光樣品流經激光焦斑時發射多波長熒光，多波長熒光由聚焦物鏡鏡頭收集后，依次穿過二向色鏡、長通濾光片、光柵，在光學成像儀上形成一個零級光斑和若干個一級條紋；根據光學成像儀記錄的熒光零級光斑和一級條紋，測量計算熒光樣品的各發射光譜和濃度。本發明的方法，僅需一個光學檢測器即可實現流式樣品的多波長熒光檢測，避免了以往使用多個光學檢測器造成的儀器體積過大和靈敏度不夠高的問題。

技術領域

本發明涉及生物化學分析與傳感技術領域，具體涉及一種流式樣品多波長熒光檢測方法。

背景技術

熒光物質在受到光激發時，基態電子躍遷至激發態，當電子躍遷回基態時發光的現象稱為熒光。熒光分析是一種非常重要而常用的生化分析和生物傳感方法。在眾多的儀器中廣泛使用，比如分光光度計、熒光光譜儀、熒光顯微鏡、共聚焦顯微鏡、全內反射顯微鏡、雙光子熒光光譜儀以及如流式細胞儀等。這些儀器大多只能對單一的熒光物質進行分析。對于發射多種波長的流式熒光樣品的同時檢測，通常利用多個不同波段的濾光片將多波長熒光分光，將不同波長的熒光引入不同的檢測通道，每個檢測通道需要一個檢測器。這導致多波長熒光檢測需要多個檢測器，一方面增加了儀器成本，另一方面減弱了熒光信號、降低了檢測靈敏度。

發明內容

本發明的目的是提供一種高靈敏度、低成本的流式樣品多波長熒光檢測方法。

為實現上述發明目的，本發明的技術方案具體如下：

一種流式樣品多波長熒光檢測方法，包括以下步驟：

S1：使激光經過二向色鏡進入物鏡鏡頭后聚焦照射到樣品池上；

S2：樣品池中的熒光樣品流經激光焦斑時發射多波長熒光，多波長熒光由聚焦物鏡鏡頭收集后，依次穿過二向色鏡、長通濾光片、光柵，在光學成像儀上形成一個零級光斑和若干個一級條紋；

S3：根據光學成像儀記錄的熒光零級光斑和一級條紋，測量計算熒光樣品的各發射光譜和濃度。

進一步的，所述的樣品為流動樣品，所述樣品池為樣品流動池，樣品流動池為毛細管或微通道，樣品流動方向與激光照射方向垂直。

進一步的，所述樣品流動池的橫截面形狀為圓形、方形、或梯形，所述樣品流動池的材質為玻璃、石英或高聚物。

進一步的，所述樣品流動池的橫截面長度、寬度或直徑在1微米～3毫米之間。

進一步的，多波長熒光樣品是單一樣品標記多波長熒光探針或混合樣品分別標記不同波長的熒光探針。

進一步的，所述二向色鏡和長通濾光片之間還具有反射鏡和狹縫

進一步的，所述光柵為透射光柵或反射光柵，光柵常數為30～1000線/毫米。

進一步的，所述激光激發是單束激光激發或多束激光同時激發。

進一步的，所述光學成像儀為電感耦合器件或互補金屬氧化物半導體傳感器。

進一步的，所述步驟S3具體包括：根據光學成像儀記錄的熒光零級光斑和一級條紋，通過分別測量零級光斑與各一級條紋的距離以及各一級條紋的強度分布測定熒光樣品的多個發射光譜；通過測定對應一級條紋的強度測定熒光物質濃度。

與現有技術相比，本發明的有益效果：

本發明的方法，以激光為激發光源，將流式多波長熒光樣品在激光焦斑內激發，受激發射的多波長被光柵分光為零級光斑和多個一級條紋，在光學成像儀上成像記錄；以一級條紋位置判定熒光波長以及種類，以一級條紋光譜強度與熒光物質濃度關系做曲線，然后對未知樣品中的熒光物質進行定量；僅需一個光學檢測器即可實現流式樣品的多波長熒光檢測，避免了以往使用多個光學檢測器造成的儀器體積過大和靈敏度不夠高的問題。