[發明專利]影響因素的貢獻力分析方法和裝置

在審

• 申請號: 201910329652.2
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN110059966A
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 覃進學;王丹;藍科;劉旻哲
• 申請（專利權）人: 成都四方偉業軟件股份有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/26
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐麗

本申請實施例提供一種影響因素的貢獻力分析方法和裝置，其中，通過獲取與工業增加值相關的影響因素以及與工業增加值非相關的非影響因素，并根據是否能夠用于因子分析將各影響因素以及各非影響因素劃分為第一待分析因素和第二待分析因素；再根據因子分析方法對各第一待分析因素進行分析以及根據樸素貝葉斯分析方法對各第二待分析因素進行分析以得到各影響因素以及各非影響因素對工業增加值的第一貢獻值和第二貢獻值；最后對第一貢獻值和第一貢獻值進行加權計算，并將加權計算結果作為影響因素的貢獻力分析結果。本申請能夠實現對影響工業增加值的影響因素的貢獻力的有效預測。

技術領域

本申請涉及數據分析技術領域，具體而言，涉及一種影響因素的貢獻力分析方法和裝置。

背景技術

工業新區的工業增加值對于GDP(國內生產總值，Gross Domestic Product)的貢獻至關重要，因此，實現對工業新區的工業增加值的影響因素的有效分析也變得極其重要。此外，了解工業新區的工業增加值的影響因素也能夠使得管理部門更加宏觀、更加準確的進行決策，以促進工業新區的快速發展。

發明內容

本申請實施例提供一種影響因素的貢獻力分析方法和裝置，具體如下。

一方面，本申請實施例提供一種影響因素的貢獻力分析方法，所述方法包括：

獲取與工業增加值相關的影響因素以及與所述工業增加值非相關的非影響因素，其中，所述影響因素包括待分析工業新區中與工業增加值相關的影響因素以及其他工業新區中與所述待分析工業新區的工業增加值相關的影響因素；

檢測各所述影響因素以及各所述非影響因素是否能夠用于因子分析；

根據檢測結果從各所述影響因素以及各所述非影響因素中選取能夠用于因子分析的影響因素或非影響因素作為第一待分析因素，并將除所述第一待分析因素之外的影響因素或非影響因素作為第二待分析因素；

根據預設的因子分析方法對各所述第一待分析因素進行分析以得到各所述第一待分析因素對所述工業增加值的第一貢獻值；

根據預設的樸素貝葉斯分析方法對各所述第二待分析因素進行分析以得到各所述第二待分析因素對所述工業增加值的第二貢獻值；

對所述第一貢獻值和所述第一貢獻值進行加權計算，并將加權計算結果作為影響因素的貢獻力分析結果。

在本申請實施例的選擇中，在檢測各所述影響因素以及各所述非影響因素是否能夠用于因子分析的步驟之前，所述方法還包括：

分別對各所述影響因素以及各所述非影響因素進行歸一化處理；

基于歸一化處理后的各所述影響因素計算第一相關系數矩陣，以及基于歸一化處理后的各所述非影響因素計算第二相關系數矩陣；

分別針對所述第一相關系數矩陣和所述第二相關系數矩陣判斷各所述相關系數矩陣中的各相關系數是否大于第一預設值，若大于第一預設值，則增強該大于第一預設值的相關系數，反之，則減弱不大于所述第一預設值的相關系數。

在本申請實施例的選擇中，所述歸一化處理的步驟，包括：

其中，x_i表示第i個待歸一化處理的影響因素，x_imin表示第i個待歸一化處理的影響因素中的最小值，x_imax表示第i個待歸一化處理的影響因素中的最大值。

在本申請實施例的選擇中，檢測各所述影響因素是否能夠用于因子分析的步驟，包括：

利用KMO檢驗方法統計經增強或減弱處理后的所述第一相關系數矩陣中各相關系數的統計量是否大于第二預設值，若大于，則判定與大于第二預設值的統計量對應的影響因素能夠用于因子分析；或者