[發(fā)明專利]檢測(cè)電路故障的方法及其裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910299160.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-04-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111859843A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羅翊修;陳勇仁;羅幼嵐;高淑怡 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/398 | 分類號(hào): | G06F30/398 |
| 代理公司: | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 梁麗超 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 電路 故障 方法 及其 裝置 | ||
1.一種檢測(cè)電路故障的方法,用于一緩存器傳輸層級(jí)設(shè)計(jì)時(shí)間,該方法包含有:
從基于該緩存器傳輸層級(jí)設(shè)計(jì)時(shí)間的一電路模型中,取得每個(gè)緩存器的各個(gè)信號(hào)點(diǎn);
根據(jù)每個(gè)緩存器的各個(gè)信號(hào)點(diǎn),產(chǎn)生一屬性列表,其中該屬性列表包含各個(gè)信號(hào)點(diǎn)欲驗(yàn)證的一屬性;
根據(jù)該電路模型及該屬性列表,進(jìn)行一正規(guī)驗(yàn)證操作,用來(lái)決定在該電路模型中,該屬性列表中的各個(gè)信號(hào)點(diǎn)的該屬性是否成立;以及
根據(jù)屬性不成立的信號(hào)點(diǎn),產(chǎn)生一電路故障原因。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中該屬性為一信號(hào)點(diǎn)的一切換能力,以及該屬性列表包含緩存器的一頻率、一重置、一輸出及一輸入的信號(hào)點(diǎn)的切換能力。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,還包含有:
當(dāng)該頻率、重置、輸入及輸出的信號(hào)點(diǎn)的至少其中之一的該屬性不成立時(shí),判斷該頻率、重置、輸入及輸出的信號(hào)點(diǎn)的至少其中之一不具切換能力。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其中根據(jù)屬性不成立的信號(hào)點(diǎn),產(chǎn)生該電路故障原因的步驟包含有:
對(duì)不具切換能力的信號(hào)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的緩存器中的各個(gè)信號(hào)點(diǎn),進(jìn)行檢視,以產(chǎn)生該電路故障原因。
5.如權(quán)利要求2所述的方法,還包含有:
當(dāng)決定一信號(hào)點(diǎn)的該屬性不成立時(shí),判斷該信號(hào)點(diǎn)不具切換能力;
產(chǎn)生不具切換能力之信號(hào)點(diǎn)的一信號(hào)列表;以及
根據(jù)該信號(hào)列表,產(chǎn)生該電路故障原因,以修正該電路模型。
6.一種電子裝置,用于一緩存器傳輸層級(jí)設(shè)計(jì)時(shí)間的電路故障檢測(cè),該電子裝置包含有:
一萃取緩存器單元,用來(lái)從基于該緩存器傳輸層級(jí)設(shè)計(jì)時(shí)間的一電路模型中,取得每個(gè)緩存器的各個(gè)信號(hào)點(diǎn);
一生成驗(yàn)證屬性單元,用來(lái)根據(jù)每個(gè)緩存器的各個(gè)信號(hào)點(diǎn),產(chǎn)生一屬性列表,其中該屬性列表包含各個(gè)信號(hào)點(diǎn)欲驗(yàn)證的一屬性;一正規(guī)方法計(jì)算單元,用來(lái)根據(jù)該電路模型及該屬性列表,進(jìn)行一正規(guī)驗(yàn)證操作,以及產(chǎn)生包含屬性不成立的信號(hào)點(diǎn)的一信號(hào)列表;以及
一電路故障判斷單元,用來(lái)根據(jù)該信號(hào)列表,產(chǎn)生一電路故障原因,用來(lái)修正該電路模型。
7.如權(quán)利要求6所述的電子裝置,其中該電路故障判斷單元更用來(lái)判斷該信號(hào)列表中的信號(hào)點(diǎn)無(wú)切換能力,以及對(duì)無(wú)切換能力的信號(hào)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的緩存器中的各個(gè)信號(hào)點(diǎn)進(jìn)檢視,以產(chǎn)生該電路故障原因。
8.一種電子裝置,用于一緩存器傳輸層級(jí)設(shè)計(jì)時(shí)間的電路故障檢測(cè),該電子裝置包含有:
一處理單元,用來(lái)執(zhí)行一程序代碼;
一儲(chǔ)存單元,耦接于該處理裝置,用來(lái)儲(chǔ)存該程序代碼,其中該程序代碼指示該處理單元執(zhí)行以下步驟:
從基于該緩存器傳輸層級(jí)設(shè)計(jì)時(shí)間的一電路模型中,取得每個(gè)緩存器的各個(gè)信號(hào)點(diǎn);
根據(jù)每個(gè)緩存器的各個(gè)信號(hào)點(diǎn),產(chǎn)生一屬性列表,其中該屬性列表包含各個(gè)信號(hào)點(diǎn)欲驗(yàn)證的一屬性;
根據(jù)該電路模型及該屬性列表,進(jìn)行一正規(guī)驗(yàn)證操作,用來(lái)決定在該電路模型中,該屬性列表中的各個(gè)信號(hào)點(diǎn)的該屬性是否成立;以及
當(dāng)一信號(hào)點(diǎn)的該屬性不成立時(shí),判斷該信號(hào)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的緩存器故障。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司,未經(jīng)瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910299160.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)方法以及故障檢測(cè)程序
- 故障預(yù)測(cè)裝置、故障預(yù)測(cè)方法及故障預(yù)測(cè)程序
- 故障分析裝置、故障分析系統(tǒng)及故障分析方法
- 故障檢測(cè)方法、故障檢測(cè)裝置和故障檢測(cè)系統(tǒng)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)方法及計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)方法和計(jì)算機(jī)能讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)系統(tǒng)、故障檢測(cè)方法
- 故障處理方法、裝置、電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障排除方法、故障排除裝置及故障排除系統(tǒng)
- 故障檢測(cè)電路、故障檢測(cè)系統(tǒng)及故障檢測(cè)方法
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





