[發(fā)明專利]一種芯片封裝體及其封裝工藝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910285020.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-04-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109860127A | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 付猛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市檳城電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/31 | 分類號(hào): | H01L23/31;H01L21/56 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 518116 廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片封裝體 包覆 多層封裝 緩沖層 封裝工藝 芯片 外圍 加工效率 芯片損傷 保護(hù)層 不粘膠 焊接體 膠套 生產(chǎn)成本 沖擊力 外部 | ||
本發(fā)明公開了一種芯片封裝體,包括設(shè)置有單個(gè)或多個(gè)芯片的焊接體、包覆于單個(gè)或多個(gè)芯片外圍的緩沖層、以及包覆于所述緩沖層外圍的多層封裝層,所述多層封裝層至少有一層設(shè)置為保護(hù)層。通過緩沖層對(duì)芯片的包覆,能夠減少因外部沖擊力所造成的芯片損傷,之后再通過多層封裝層的層層包覆,能夠有效提升芯片封裝體的強(qiáng)度,進(jìn)而對(duì)芯片起到較好的保護(hù);本發(fā)明還提供一種用于上述芯片封裝體的封裝工藝,該封裝工藝能夠通過不粘膠膠套的設(shè)置,實(shí)現(xiàn)緩沖層及多層封裝層的層層包覆,繼而有效降低了生產(chǎn)成本,提升了芯片封裝體的加工效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及芯片封裝技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種芯片封裝體及其封裝工藝。
背景技術(shù)
隨著芯片封裝技術(shù)的發(fā)展,為了滿足客戶日益嚴(yán)格的封裝要求,以及多性能特征,大尺寸或多芯片封裝越來越頻繁。封裝的要求如下:
1.封裝密封性要求:防止灰塵和水汽與芯片接觸,污染芯片,因此封裝需要進(jìn)行高溫蒸煮試驗(yàn);
2.結(jié)構(gòu)強(qiáng)度要求:有一定的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度,來承受外部的撞擊或者其他應(yīng)力對(duì)芯片的沖擊,比如在經(jīng)過回流焊接時(shí)PCB發(fā)生熱脹冷縮曲翹會(huì)對(duì)產(chǎn)品形成焊接應(yīng)力,因此封裝好的芯片需要一定的強(qiáng)度來抵御這種外部應(yīng)力,避免內(nèi)部芯片的損傷;
3.應(yīng)力要求:封裝膠體在高低溫循環(huán)或沖擊時(shí),由于膠體與芯片的熱膨脹系數(shù)不一樣,在熱脹冷縮時(shí)會(huì)破壞芯片,尤其在大尺寸芯片或多芯片封裝中尤為明顯。因此客戶要求進(jìn)行-55℃-150℃,1000cycles的高低溫循環(huán)測(cè)試。(內(nèi)部封裝應(yīng)力或熱應(yīng)力)
4.封裝的散熱問題。不同膠體的熱導(dǎo)及熱容比不一樣,對(duì)芯片的吸熱或散熱的效果均不一樣。
5.封裝的絕緣性。
傳統(tǒng)的通過環(huán)氧樹脂膠餅注塑進(jìn)行單層膠體封裝越來越不能滿足客戶對(duì)性能的需求。環(huán)氧樹脂膠餅質(zhì)量的改善也難以滿足上述要求,微小的性能改善,帶來的環(huán)氧樹脂的成本也越來越高。
因此急需通過結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的方式來改善滿足以上高溫蒸煮、強(qiáng)度以及高低溫循環(huán)等要求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的第一目的在于提供一種芯片封裝體,該芯片封裝體通過緩沖層及緩沖層外圍多層封裝層的層層包覆,有效提升了芯片封裝體的性能及其可靠性;
本發(fā)明的第二目的在于提供一種封裝工藝,該封裝工藝能夠通過不粘膠膠套的設(shè)置,高效的實(shí)現(xiàn)緩沖層及多層封裝層的層層包覆,繼而有效降低了生產(chǎn)成本,提升了芯片封裝體的加工效率。
為達(dá)此目的,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
一種芯片封裝體,包括設(shè)置有單個(gè)或多個(gè)芯片的焊接體、包覆于單個(gè)或多個(gè)芯片外圍的緩沖層、以及包覆于所述緩沖層外圍的多層封裝層,所述多層封裝層至少有一層設(shè)置為保護(hù)層。
其中,所述緩沖層設(shè)置為柔性膠層,所述保護(hù)層設(shè)置為硬質(zhì)膠層。
其中,所述緩沖層設(shè)置為硅橡膠層。
其中,所述保護(hù)層設(shè)置為環(huán)氧樹脂層。
其中,所述緩沖層設(shè)置為熱傳導(dǎo)緩沖層。
其中,所述多層封裝層至少有一層設(shè)置為密封層。
其中,所述焊接體包括上支架、下支架、以及設(shè)置于所述上支架和下支架之間的芯片組件。
其中,所述芯片組件包括單個(gè)芯片或多個(gè)芯片。
其中,所述多個(gè)芯片從上到下依次疊加設(shè)置,相鄰芯片之間通過電極電連接。
其中,所述上支架和所述下支架結(jié)構(gòu)相同且均呈“Z”字型設(shè)置。
其中,所述上支架的上水平壁蓋設(shè)于頂部芯片的上表面且與該頂部芯片電連接。
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