[發(fā)明專利]一種電子元器件質(zhì)量檢測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910247051.7
• 申請日: 2019-03-29
• 公開（公告）號: CN109870461B
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫磊;許海財;陳倫森
• 申請（專利權(quán)）人: 泗陽恒潤電子有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;H04N5/225;G06T7/00
• 代理公司: 北京盛凡智榮知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11616
• 代理人: 王勇

本發(fā)明公開了一種電子元器件質(zhì)量檢測系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：圖像獲取模塊、圖像篩選模塊、電子元器件分類模塊、圖像處理模塊和缺陷檢測模塊。通過圖像獲取模塊對待檢測電子元器件的圖像進(jìn)行采集，通過圖像篩選模塊篩選出圖像質(zhì)量最佳的圖像，并對其進(jìn)行處理，通過處理后的圖像獲取待檢測電子元器件的類型，根據(jù)確定好的類型調(diào)取云服務(wù)器中預(yù)存儲該類型電子元器件的缺陷數(shù)據(jù)，進(jìn)而實現(xiàn)對待檢測電子元器件的缺陷檢測，該系統(tǒng)更加方便快捷，無需將提取到的待檢測電子元器件的特征數(shù)據(jù)與預(yù)存儲的每一類型電子元器件的缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行比對，大大縮減了缺陷檢測的時間，提高了質(zhì)量檢測的效率，也減少了人工識別的錯誤。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及質(zhì)量檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電子元器件質(zhì)量檢測系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的領(lǐng)域變得更加智能化，各種新型電子設(shè)備層出不窮，因此對電子元器件的需求量不斷上漲，生產(chǎn)商對其產(chǎn)品質(zhì)量的檢測任務(wù)也變得更加艱巨。在生產(chǎn)芯片、電池、電路板等電子元器件的過程中，可能會產(chǎn)生磕碰、劃傷、臟污等缺陷，這些缺陷在性能測試中經(jīng)常不會表現(xiàn)出異常，但在實際使用過程中，電子元器件經(jīng)常面臨高負(fù)載工作或較惡劣的工作環(huán)境，這些缺陷極有可能影響元器件性能，甚至產(chǎn)生安全隱患。過去的幾十年，工業(yè)生產(chǎn)流程有了極大的進(jìn)步，但對產(chǎn)品外觀的缺陷檢測仍主要以人工檢測的方式進(jìn)行，這種方式不僅會因為個人主觀因素而導(dǎo)致檢測標(biāo)準(zhǔn)的不統(tǒng)一，還會因為長時間檢測造成視覺疲勞，產(chǎn)生誤判或漏判，且人工檢測還需要消耗大量時間，浪費大量人力，檢測效率低。

發(fā)明內(nèi)容

針對上述問題，本發(fā)明提供一種電子元器件質(zhì)量檢測系統(tǒng)。

本發(fā)明的目的采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)：

一種電子元器件質(zhì)量檢測系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：圖像獲取模塊、圖像篩選模塊、電子元器件分類模塊、圖像處理模塊和缺陷檢測模塊；

所述圖像獲取模塊，被配置為：獲取待檢測電子元器件的多張原始圖像，并將其傳輸至所述圖像篩選模塊；

所述圖像篩選模塊，被配置為：對接收到的多張原始圖像進(jìn)行質(zhì)量評價，選取圖像質(zhì)量最佳的原始圖像分別發(fā)送至所述電子元器件分類模塊和圖像處理模塊；

所述電子元器件分類模塊，被配置為：從接收到的原始圖像中提取所述待檢測電子元器件的輪廓信息，并將其與預(yù)存儲的各類型電子元器件的標(biāo)準(zhǔn)輪廓信息進(jìn)行比對，確定所述待檢測電子元器件所屬的類型；

所述圖像處理模塊，被配置為：對接收到的原始圖像進(jìn)行降噪處理，并從降噪后的原始圖像中提取描述所述待檢測電子元器件的特征數(shù)據(jù)；

所述缺陷檢測模塊，被配置為：調(diào)取預(yù)存儲的、與所述待檢測電子元器件類型相應(yīng)的缺陷數(shù)據(jù)，并根據(jù)調(diào)取的缺陷數(shù)據(jù)對已提取到的所述待檢測電子元器件的特征數(shù)據(jù)進(jìn)行識別，判斷所述待檢測電子元器件是否存在缺陷以及若存在缺陷時其對應(yīng)的缺陷類型。

優(yōu)選地，該系統(tǒng)還包括：與所述電子元器件分類模塊和缺陷檢測模塊通信連接的云服務(wù)器，所述云服務(wù)器中預(yù)存有各類型電子元器件的標(biāo)準(zhǔn)輪廓信息以及其對應(yīng)的各類缺陷數(shù)據(jù)；

所述云服務(wù)器還用于存儲所述電子元器件分類模塊的分類結(jié)果。

優(yōu)選地，該系統(tǒng)還包括與所述缺陷檢測模塊通信連接的終端設(shè)備，所述終端設(shè)備被配置為：用來接收所述缺陷檢測模塊的檢測結(jié)果，以便于質(zhì)檢人員及時了解待檢測電子元器件是否存在缺陷以及若存在缺陷時其對應(yīng)的缺陷類型。

優(yōu)選地，所述的從接收到的原始圖像中提取所述待檢測電子元器件的輪廓信息，并將其與預(yù)存儲的各類型電子元器件的標(biāo)準(zhǔn)輪廓信息進(jìn)行比對，確定所述待檢測電子元器件所屬的類型，包括：

(1)對接收到的原始圖像進(jìn)行圖像分割，去除背景圖像，得到只包含待檢測電子元器件的目標(biāo)圖像；