[發(fā)明專利]鼓形滾子的全表面瑕疵檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910231382.1 | 申請日: | 2019-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN109975316A | 公開(公告)日: | 2019-07-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 呂迅;袁巨龍;周見行;張萬輝;權(quán)斌 | 申請(專利權(quán))人: | 新昌浙江工業(yè)大學(xué)科學(xué)技術(shù)研究院 |
| 主分類號: | G01N21/892 | 分類號: | G01N21/892;B07C5/342 |
| 代理公司: | 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 陳振華 |
| 地址: | 312500 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鼓形滾子 傳送帶輸送裝置 電磁鐵 面陣 檢測 相機 拍攝 圖像采集 瑕疵檢測 全表面 合格品 尺寸形狀 重疊區(qū)域 吸住 斷電 豎立 傳送 通電 移動 | ||
1.鼓形滾子的全表面瑕疵檢測方法,其特征在于:
實現(xiàn)該方法的檢測裝置包括水平設(shè)置的上傳送帶輸送裝置和下傳送帶輸送裝置;下傳送帶輸送裝置位于上傳送帶輸送裝置下方且下傳送帶輸送裝置的起始端與上傳送帶輸送裝置的末端呈部分重疊狀設(shè)置;所述上傳送帶輸送裝置內(nèi)部,在與下傳送帶輸送裝置重疊的區(qū)域,設(shè)有第一電磁鐵;對應(yīng)的,所述下傳送帶輸送裝置內(nèi)部,在與上傳送帶輸送裝置重疊的區(qū)域,設(shè)有第二電磁鐵;所述上傳送帶輸送裝置的上方設(shè)有裝有平面拍攝鏡頭的第一CMOS面陣拍攝相機和裝有環(huán)側(cè)面展開鏡頭的第二CMOS面陣拍攝相機;所述下傳送帶輸送裝置的上方設(shè)有裝有平面拍攝鏡頭的第三CMOS面陣拍攝相機和裝有環(huán)側(cè)面展開鏡頭的第四CMOS面陣拍攝相機;
檢測過程如下:
1)將鼓形滾子豎立于上傳送帶輸送裝置上,隨上傳送帶輸送裝置移動,在鼓形滾子移動至第一CMOS面陣拍攝相機和第二CMOS面陣拍攝相機的下方時,分別完成對鼓形滾子上端面及其倒角面的圖像采集和側(cè)面上半部分的圖像采集,并送給計算機,由計算機判斷是否存在瑕疵,完成上半輪廓表面的檢測;
2)鼓形滾子被傳送到上傳送帶輸送裝置的末端后,第一電磁鐵通電將其吸住,繼續(xù)傳送,在鼓形滾子被傳送到上傳送帶輸送裝置的與下傳送帶輸送裝置重疊部分的下側(cè)后,第一電磁鐵斷電,第二電磁鐵通電,鼓形滾子落入下傳送帶輸送裝置,完成180度翻轉(zhuǎn),然后隨下傳送帶輸送裝置移動;
3)鼓形滾子被下傳送帶輸送裝置傳送到第三CMOS面陣拍攝相機和第四CMOS面陣拍攝相機的下方時,分別完成另一個端面及其倒角面的圖像采集和另一半側(cè)面的圖像采集,并傳送給計算機,由計算機判斷是否存在瑕疵,完成另一半輪廓表面的檢測;
4)整個檢測過程均合格的,即為合格品。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鼓形滾子的全表面瑕疵檢測方法,其特征在于:所述上傳送帶輸送裝置的下表面和下傳送帶輸送裝置的表面材料為棉帆布、尼龍或PVC;所述上傳送帶輸送裝置的下表面和下傳送帶輸送裝置的上表面之間的距離為待檢測鼓形滾子高度的1.2~1.5倍。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鼓形滾子的全表面瑕疵檢測方法,其特征在于:所述上傳送帶輸送裝置內(nèi)部緊鄰著第一電磁鐵設(shè)有第三電磁鐵,第三電磁鐵的下方對應(yīng)設(shè)有第一次品盒;過程1)檢測結(jié)果為不合格時,在鼓形滾子被傳送到上傳送帶輸送裝置與下傳送帶輸送裝置重疊部分的下側(cè)后,第一電磁鐵不斷電,第二電磁鐵不通電,第三電磁鐵通電,鼓形滾子隨第一傳送帶輸送裝置繼續(xù)移動,到達第一次品盒上方后,第三電磁鐵斷電,使不合格的鼓形滾子落入第一次品盒內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鼓形滾子的全表面瑕疵檢測方法,其特征在于:所述下傳送帶輸送裝置內(nèi)部在傳送末端位置設(shè)有第四電磁鐵,第四電磁鐵的下方對應(yīng)設(shè)有第二次品盒;過程3)檢測結(jié)果為不合格時,鼓形滾子傳送至下傳送帶裝置的末端后,第四電磁鐵通電,將其吸住,繼續(xù)傳送,在鼓形滾子被傳送到下傳送帶輸送裝置的末端下側(cè)后,第四電磁鐵斷電,不合格的鼓形滾子落入第二次品盒。
5.根據(jù)權(quán)利要求2、3或4所述的鼓形滾子的全表面瑕疵檢測方法,其特征在于:所述上傳送帶輸送裝置和所述下傳送帶輸送裝置均為定速傳動;所述下傳送帶輸送裝置的傳送速度與所述上傳送帶輸送裝置的傳送速度之和不超過10cm/s。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的鼓形滾子的全表面瑕疵檢測方法,其特征在于:所述上傳送帶輸送裝置的輸送帶表面等間距一組用于放置鼓形滾子的定位標記槽;所述下傳送帶輸送裝置的傳送速度為所述上傳送帶輸送裝置的傳送速度的60~80%。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的鼓形滾子的全表面瑕疵檢測方法,其特征在于:所述下傳送帶輸送裝置的傳送速度4cm/s;所述上傳送帶輸送裝置的傳送速度6cm/s。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鼓形滾子的全表面瑕疵檢測方法,其特征在于:所有CMOS面陣拍攝相機均安裝于可調(diào)節(jié)高度的支架上。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于新昌浙江工業(yè)大學(xué)科學(xué)技術(shù)研究院,未經(jīng)新昌浙江工業(yè)大學(xué)科學(xué)技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910231382.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種軌道部件表面缺陷視覺巡檢車
- 下一篇:圓柱滾子全表面瑕疵檢測方法
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





