[發明專利]一種采用離子束輻照測量核石墨在輻照環境下的尺寸變化行為的方法有效
| 申請號： | 201910198093.6 | 申請日： | 2019-03-15 |
| 公開（公告）號： | CN109916926B | 公開（公告）日： | 2021-08-06 |
| 發明（設計）人： | 賀周同;周興泰 | 申請（專利權）人： | 中國科學院上海應用物理研究所 |
| 主分類號： | G01N23/00 | 分類號： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人： | 鄧琪;余永莉 |
| 地址： | 201800 上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 采用 離子束 輻照 測量 石墨 環境 尺寸 變化 行為 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種采用離子束輻照測量核石墨在輻照環境下的尺寸變化行為的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：
1）將核石墨樣品安裝在加速器終端并固定核石墨樣品的一端，利用離子束輻照一定尺寸的核石墨樣品，使受輻照的核石墨樣品發生形狀變化，所述形狀變化包括核石墨樣品受離子束輻照之后發生的翹曲、扭轉、局部突出或某維度尺寸的變化；
2）通過三坐標儀、輪廓儀以及顯微技術測量該形狀變化，利用所述核石墨樣品的性能特征，通過數學方法計算出所述核石墨樣品在輻照環境下的尺寸變化；以及
3）通過控制離子束輻照劑量的變化，并重復以上過程，獲得所述核石墨樣品在輻照環境下的尺寸變化行為曲線；
4）：通過控制輻照過程中核石墨樣品溫度的變化，獲得不同溫度下所述核石墨樣品在輻照環境下的尺寸變化行為曲線；
其中，所述核石墨樣品為片狀，其厚度尺寸遠小于另外兩個維度上的尺寸，所述離子束包括He離子以及重離子，能量大于0.5MeV，所述核石墨樣品的某一個維度的尺寸為1μm-1000μm。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述核石墨樣品由瀝青及其衍生物、焦碳、樹脂中的一種或多種制成。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能特征包括核石墨樣品的模量。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述數學方法包括有限元方法。
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