[發明專利]使用激光超聲來檢測結構的系統和方法

有效

• 申請號: 201910184246.1
• 申請日: 2019-03-12
• 公開（公告）號: CN110411948B
• 公開（公告）日: 2023-10-24
• 發明（設計）人: W·P·莫策;G·E·喬治森;J·P·賓厄姆;J·C·肯尼迪;J·J·加維
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 徐敏剛;王小東

1.一種使用激光超聲來檢測結構(200)的方法(1000)，所述方法(1000)包括：

識別所述結構(200)的表面(202)相對于參考系(118)的三維位置(208)；

從發射器(108)的輸出(110)將激光(106)發射到所述結構(200)的所述表面(202)上，以在所述結構(200)中形成超聲波(204)并探測對所述超聲波(204)的響應(206)；

基于所述表面(202)的所述三維位置(208)，使所述激光(106)在所述結構(200)之上沿著掃描路徑(116)運動，以使所述發射器(108)的所述輸出(110)距所述表面(202)位于恒定的偏移距離(180)處并且將從所述發射器(108)的所述輸出(110)發射的所述激光(106)以恒定的投射角(182)引導至所述表面(202)上；以及

基于對所述超聲波(204)的所述響應(206)，確定在所述結構(200)中是否存在不一致性(212)。

2.根據權利要求1所述的方法(1000)，其中：

所述表面(202)上的多個點(222)中的每一個相對于所述參考系(118)均具有相應的三維位置(208)；

所述三維位置(208)包括所述參考系(118)中的XYZ坐標；并且

所述表面(202)上的所述多個點(222)中一者的Z坐標與所述表面(202)上的所述多個點(222)中另一者的Z坐標不同。

3.根據權利要求2所述的方法(1000)，所述方法進一步包括：

將從所述發射器(108)的所述輸出(110)發射的所述激光(106)在所述結構(200)的所述表面(202)上形成為圖案(120)；以及

將所述表面(202)上的所述圖案(120)定位成使得位于所述激光(106)的所述圖案(120)內且包含位于所述圖案(120)上的、所述表面(202)上的所述多個點(222)中的任兩個點的Z坐標的差值(256)小于等于閾值(254)。

4.根據權利要求3所述的方法(1000)，其中：所述閾值(254)小于等于1/8英寸。

5.根據權利要求3或4所述的方法(1000)，其中：所述激光(106)的所述圖案(120)呈所述激光(106)的線(124)的形式。

6.根據權利要求5所述的方法(1000)，所述方法進一步包括：

識別所述表面(202)上的所述多個點(222)中的第一點和所述表面(202)上的所述多個點(222)中的第二點，其中沿著在所述多個點(222)中的所述第一點和所述多個點(222)中的所述第二點之間延伸的直線(258)定位且包含在所述直線(258)上的、所述表面(202)上的所述多個點(222)中的任兩個點在所述參考系(118)中的Z坐標的差值(256)小于等于所述閾值(254)；以及

使得所述激光(106)的所述線(124)與在所述多個點(222)中的所述第一點和所述多個點(222)中的所述第二點之間延伸的所述直線(258)對準。