[發明專利]不同分組集合下的評估統計效能的方法

在審

• 申請號: 201910116297.0
• 申請日: 2019-02-15
• 公開（公告）號: CN111584063A
• 公開（公告）日: 2020-08-25
• 發明（設計）人: 陳陪蓉;蔡宗憲;陳亮恭;彭莉寧;李威儒
• 申請（專利權）人: 宏碁股份有限公司;陽明大學
• 主分類號: G16H50/20
• 分類號: G16H50/20;G16H50/70
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

1.一種于不同分組集合下的評估統計效能的方法，其特征在于，包括：

設定樣本空間對應的第一分組集合的多個第一分組范圍；

設定所述樣本空間對應的第二分組集合的多個第二分組范圍；

根據所述樣本空間，產生所述多個第一分組范圍于每一個取樣時間對應的多個第一機率值及多個第一標準偏差；

根據所述樣本空間，產生所述多個第二分組范圍于所述每一個取樣時間對應的多個第二機率值及多個第二標準偏差；及

產生所述第一分組集合及所述第二分組集合對應的多個統計指標，并據以輸出所述第一分組集合及所述第二分組集合的統計效能排序結果；

其中所述樣本空間是隨時間變化的隨機程序取樣空間，且所述多個統計指標是根據所述多個第一分組范圍于所述每一個取樣時間對應的所述多個第一機率值及/或所述多個第一標準偏差，及所述多個第二分組范圍于所述每一個取樣時間對應的所述多個第二機率值及/或所述多個第二標準偏差推導而得。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

根據所述多個第一分組范圍于所述每一個取樣時間對應的所述多個第一機率值，產生多個相鄰的第一分組范圍于所述每一個取樣時間對應的多個第一機率差距；

產生所述每一個取樣時間對應的所述多個第一機率差距的平均值及標準偏差；

根據所述多個第一機率差距的所述平均值及所述標準偏差，產生所述每一個取樣時間對應的第一區別力指標；及

取得所述第一分組集合的所有取樣時間中，最小第一區別力指標；

其中所述第一區別力指標是所述多個第一機率差距的所述平均值，與所述多個第一機率差距的所述標準偏差的比值。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，還包括：

根據所述多個第二分組范圍于所述每一個取樣時間對應的所述多個第二機率值，產生多個相鄰的第二分組范圍于所述每一個取樣時間對應的多個第二機率差距；

產生所述每一個取樣時間對應的所述多個第二機率差距的平均值及標準偏差；

根據所述多個第二機率差距的所述平均值及所述標準偏差，產生所述每一個取樣時間對應的第二區別力指標；及

取得所述第二分組集合的所有取樣時間中，最小第二區別力指標；

其中所述第二區別力指標是所述多個第二機率差距的所述平均值，與所述多個第二機率差距的所述標準偏差的比值。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述多個統計指標包括所述最小第一區別力指標及所述最小第二區別力指標，且若所述最小第一區別力指標大于所述最小第二區別力指標，所述第一分組集合的統計效能大于所述第二分組集合的統計效能。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

根據所述多個第一分組范圍于所述每一個取樣時間對應的所述多個第一標準偏差，利用線性組合函式，產生所述每一個取樣時間對應的第一標準偏差總覆蓋值；

根據所述多個第一分組范圍于所述每一個取樣時間對應的所述多個第一機率值，由所述多個第一機率值中取得所述每一個取樣時間對應的最大第一機率差距；

根據所述第一標準偏差總覆蓋值及所述最大第一機率差距，產生所述每一個取樣時間對應的第一誤差程度指標；及

取得所述第一分組集合的所有取樣時間中，最大第一誤差程度指標；

其中所述第一誤差程度指標是所述第一標準偏差總覆蓋值與所述最大第一機率差距的比值。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，還包括：

根據所述多個第二分組范圍于所述每一個取樣時間對應的所述多個第二標準偏差，利用所述線性組合函式，產生所述每一個取樣時間對應的第二標準偏差總覆蓋值；

根據所述多個第二分組范圍于所述每一個取樣時間對應的所述多個第二機率值，由所述多個第二機率值中取得所述每一個取樣時間對應的最大第二機率差距；

根據所述第二標準偏差總覆蓋值及所述最大第二機率差距，產生所述每一個取樣時間對應的第二誤差程度指標；及

取得所述第二分組集合的所有取樣時間中，最大第二誤差程度指標；

其中所述第二誤差程度指標是所述第二標準偏差總覆蓋值與所述最大第二機率差距的比值。