[發(fā)明專利]一種可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910086217.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109669118B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪書(shū)娜;李凌云;劉德興;孫曉瑋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人: | 鄧琪;楊希 |
| 地址: | 200050 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 調(diào)節(jié) 微波 電路 測(cè)試 夾具 | ||
本發(fā)明涉及一種可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具,其為由一平臺(tái)以及兩個(gè)分別固定連接在該平臺(tái)的兩個(gè)相對(duì)的側(cè)面上且相互平行的豎直部共同構(gòu)成的U形結(jié)構(gòu),其中,所述平臺(tái)用于供一被測(cè)電路固定放置于其上,每個(gè)所述豎直部包括:一框架,其下部與所述平臺(tái)固定連接;一滑動(dòng)連接在所述框架中的滑塊,其與外部的一射頻同軸連接器連接,并供該射頻同軸連接器的探針穿過(guò)以壓接在所述被測(cè)電路的輸入或輸出部分的微帶線上;一固定安裝在所述滑塊頂面上的安裝件;以及一從所述框架的頂面豎直向下旋入并與所述安裝件卡接的絲桿。本發(fā)明具有可獨(dú)立通用、易于加工、體積小、損耗低,精度高、裝卸方便等優(yōu)點(diǎn),可輕松地實(shí)現(xiàn)微波電路或芯片的測(cè)試工作,具有很高的實(shí)用性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具。
背景技術(shù)
在微波電路設(shè)計(jì)技術(shù)蓬勃發(fā)展的同時(shí),對(duì)微波器件的精確測(cè)試也提出了更高的要求。微波器件的線性性能指標(biāo)主要包括駐波比、插入損耗、隔離度、幅頻響應(yīng)、相位一致性、濾波特性等,這些指標(biāo)都可以用S參數(shù)表達(dá)。一般采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量微波元器件的S參數(shù),但這些元器件可能是非同軸器件,例如表貼封裝或者插針式封裝,不能直接與同軸接口形式的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀連接來(lái)進(jìn)行測(cè)試,必須設(shè)計(jì)和制作與之相適應(yīng)的轉(zhuǎn)換夾具。測(cè)試夾具在整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)中將被測(cè)件與同軸接口形式的測(cè)試設(shè)備連接起來(lái),起到了橋梁的作用。
由于非同軸微波器件不能與同軸電纜直接相連,器件的工作頻率較高,所以測(cè)試夾具與微波器件的連接方法是很重要的,否則測(cè)試出的技術(shù)指標(biāo)數(shù)據(jù)與實(shí)際數(shù)據(jù)可能相差較大。考慮到被測(cè)件類型品種多,封裝形式各異,所以測(cè)試夾具應(yīng)具有一定的通用性;但微波測(cè)試夾具涉及到精確校準(zhǔn),所以只采用一個(gè)可調(diào)節(jié)的結(jié)構(gòu)來(lái)適用于所有元器件幾乎是不可能的。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題,本發(fā)明旨在提供一種可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具,以適用于各種待測(cè)元器件與測(cè)試設(shè)備的精準(zhǔn)連接。
本發(fā)明所述的一種可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具,其為由一平臺(tái)以及兩個(gè)分別固定連接在該平臺(tái)的兩個(gè)相對(duì)的側(cè)面上且相互平行的豎直部共同構(gòu)成的U形結(jié)構(gòu),其中,所述平臺(tái)用于供一被測(cè)電路固定放置于其上,每個(gè)所述豎直部包括:
一框架,其下部與所述平臺(tái)固定連接;
一滑動(dòng)連接在所述框架中的滑塊,其與外部的一射頻同軸連接器連接,并供該射頻同軸連接器的探針穿過(guò)以壓接在所述被測(cè)電路的輸入或輸出部分的微帶線上;
一固定安裝在所述滑塊頂面上的安裝件;以及
一從所述框架的頂面豎直向下旋入并與所述安裝件卡接的絲桿。
在上述的可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具中,所述滑塊包括:一本體以及兩個(gè)分別從所述本體的兩個(gè)相對(duì)的側(cè)面向外凸起的突出部,其中,所述本體的外表面上開(kāi)設(shè)有一用于安裝所述射頻同軸連接器的裝配槽,且該裝配槽的槽底面上開(kāi)設(shè)有一用于供所述射頻同軸連接器的探針穿過(guò)的通孔。
在上述的可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具中,所述安裝件包括:兩個(gè)結(jié)構(gòu)相同的安裝塊,每個(gè)所述安裝塊的一側(cè)面上開(kāi)設(shè)有一半圓柱形卡口,兩個(gè)所述安裝塊的具有所述半圓柱形卡口的側(cè)面固定連接在一起,以使兩個(gè)所述半圓柱形卡口共同構(gòu)成一用于與所述絲桿卡接的圓柱形卡槽。
在上述的可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具中,所述框架為由一水平構(gòu)件以及兩個(gè)連接在該水平構(gòu)件的底面上且相互平行的豎直構(gòu)件共同構(gòu)成的n形結(jié)構(gòu),其中,兩個(gè)所述豎直構(gòu)件的兩個(gè)彼此相對(duì)的側(cè)面上分別開(kāi)設(shè)有一與所述滑塊的突出部滑動(dòng)配合的滑槽。
在上述的可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具中,所述滑塊在所述框架中的位置通過(guò)以下方式固定:通過(guò)一螺釘旋入所述豎直構(gòu)件外表面上開(kāi)設(shè)的一與所述滑槽連通的螺孔而頂住所述滑塊的突出部。
在上述的可調(diào)節(jié)微波電路測(cè)試夾具中,所述水平構(gòu)件與兩個(gè)豎直構(gòu)件一體成形,兩個(gè)所述豎直構(gòu)件的下部與所述平臺(tái)固定連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910086217.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 調(diào)節(jié)板風(fēng)量調(diào)節(jié)裝置
- 調(diào)節(jié)腳及調(diào)節(jié)裝置
- 調(diào)節(jié)腳及調(diào)節(jié)裝置
- 配置文件的調(diào)節(jié)方法、調(diào)節(jié)裝置、調(diào)節(jié)系統(tǒng)以及記錄介質(zhì)
- 調(diào)節(jié)裝置、調(diào)節(jié)系統(tǒng)、調(diào)節(jié)方法和調(diào)節(jié)控制裝置
- 調(diào)節(jié)板及調(diào)節(jié)總成
- 調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)及調(diào)節(jié)系統(tǒng)
- 調(diào)節(jié)裝置和調(diào)節(jié)系統(tǒng)
- 調(diào)節(jié)裝置和調(diào)節(jié)系統(tǒng)
- 調(diào)節(jié)裝置及其調(diào)節(jié)方法
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





