[發明專利]三維圖集的目標識別方法

有效

• 申請號: 201910085750.6
• 申請日: 2019-01-29
• 公開（公告）號: CN109816727B
• 公開（公告）日: 2023-05-02
• 發明（設計）人: 王軍;包勇
• 申請（專利權）人: 江蘇醫像信息技術有限公司
• 主分類號: G06T7/73
• 分類號: G06T7/73
• 代理公司: 常州市權航專利代理有限公司 32280
• 代理人: 朱鑫樂

1.一種三維圖集的目標識別方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、對三維圖集的每個原始斷面圖片進行裁剪，得到黑白斷面圖片；

S2、每相鄰的三個黑白斷面圖片層疊組成三通道的檢測圖組；

S3、將所有的檢測圖組依序輸入訓練好的目標檢測模型中，如果檢測圖組中中間一個黑白斷面圖片中包含有目標物，則得到該黑白斷面圖片中目標物的二維定位框的左上角坐標(x₁,y₁)和右下角坐標(x₂,y₂)；

S4、計算每兩個二維定位框的中心點之間的歐幾里得距離|cp(b_i)-cp(b_j)|，i≠j，其中cp(b_i)和cp(b_j)表示兩個不同的二維定位框的中心點，當|cp(b_i)-cp(b_j)|≤T，為這兩個二維定位框賦予相同的目標物ID，其中T為預設閾值；

S5、通過以下公式計算目標物的三維定位框的左上角坐標(x′₁，y′₁，z′₁)和右下角坐標(x′₂，y′₂，z′₂)：

z′₁＝min({z_i}i＝1,2,…,N)

z′₂＝max({z_i}i＝1,2,…,N)

其中和分別為具有同一目標物ID的第i個二維定位框的左上角坐標和右下角坐標，z_i是具有同一目標物ID的第i個二維定位框的z軸坐標位置。

2.如權利要求1所述的三維圖集的目標識別方法，其特征在于：所述目標檢測模型包括FEN模塊、RPN模塊和RCN模塊，所述FEN模塊包括第一卷積層、第二卷積層、第三卷積層、第四卷積層和第五卷積層；

在所述步驟S3中，檢測圖組在FEN模塊中依次經過第一卷積層、第二卷積層、第三卷積層、第四卷積層和第五卷積層進行卷積；

在FEN模塊中，第三卷積層輸出的第三特征圖、第四卷積層輸出的第四特征圖和第五卷積層輸出的第五特征圖通過雙線性插值使它們的分辨率與第二卷積層輸出的第二特征圖的分辨率相同，再通過數量相同的1*1的卷積核對第二特征圖、第三特征圖、第四特征圖和第五特征圖進行卷積，使它們的通道數相同，最后拼接第二特征圖、第三特征圖、第四特征圖和第五特征圖得到最終特征圖；

在RPN模塊中，對第三特征圖進行全連接和二分類，得到大小為16*16～24*24的第一圖案，對第四特征圖進行全連接和二分類，得到大小為32*32～48*48的第二圖案，對第五特征圖進行全連接和二分類，得到大小為64*64～96*96的第三圖案；

在RCN模塊中，利用最終特征圖、第一圖案、第二圖案和第三圖案進行分類和定位，得到目標物的二維定位框的左上角坐標(x₁,y₁)和右下角坐標(x₂,y₂)。