[發明專利]一種集成SAR ADC與SD ADC的多站點測試方法

有效

• 申請號: 201910079853.1
• 申請日: 2019-01-28
• 公開（公告）號: CN109831207B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 李高祥
• 申請（專利權）人: 芯海科技（深圳）股份有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 深圳市科冠知識產權代理有限公司 44355
• 代理人: 孔麗霞;王海駿

本發明適用SD ADC與SAR ADC測試技術領域，提供了一種集成SAR ADC與SD ADC的多站點測試方法，該方法包括：Python通過串口對多個待測芯片的寄存器進行配置，并初始化SAR ADC和SD ADC；測量SD ADC時，Python通過串口發送指令給主控芯片配置不同的電壓采集芯片，并分別對應采集多個待測芯片的基準電壓；測試SAR?ADC時，Python通過串口配置多個待測芯片的寄存器，并將多個待測芯片的基準電壓均配置為V1；通過該測試方法能夠方便、快捷、靈活的測試SAR ADC與SD ADC，且待測的芯片數量可以靈活擴展，且測量數據自動記錄，分析并保存，以提高工作效率高。

技術領域

本發明屬于SD ADC與SAR ADC測試技術領域，尤其涉及一種集成SAR ADC與SD ADC的多站點測試方法。

背景技術

目前在高精度SD-ADC(將采集到的音頻信號裝換成數字信號的模數轉換器)與高度的SAR-ADC(逐次逼近型模數轉換器)測量領域，無法在一個系統上集成多站點的SAR ADC與SD ADC的測試，以達到提高效率的目的。

發明內容

本發明的目的在于提供一種集成SAR ADC與SD ADC的多站點測試方法，旨在解決由于現有技術無法提供一種集成SAR ADC與SD ADC的多站點測試方法，以達到提高效率的目的。

本發明提供了一種集成SAR ADC與SD ADC的多站點測試方法，所述方法包括下述步驟：

第一步，Python通過串口對多個待測芯片的寄存器進行配置，并初始化SAR ADC和SD ADC。

第二步，測量SD ADC，Python通過串口發送指令給主控芯片配置不同的電壓采集芯片，并分別對應采集多個所述待測芯片的基準電壓；

Python創建多個數據存儲文件，對應存儲多個所述待測芯片的基準電壓值。

第三步，讀取配置文件，按照先后順序依次測試配置文件中不同標簽名下的配置。

第四步，判斷是第幾個待測芯片，若是第一個待測芯片則通過串口初始化SD ADC，并讀取配置文件對對應的寄存器進行配置，配置完成后，發送讀取SD ADC轉換碼值的指令，并設配置讀取的個數為K。

第五步，待測芯片的SD ADC轉換完成后，待測芯片將轉換的碼值通過串口發送給Python，Python記錄對應的數據。

第六步，Python判斷讀取的待測芯片傳輸的數據個數是否達到K，若未達到則返回第三步至第五步，直至Python判斷讀取的待測芯片傳輸的數據個數達到K，則該配置測試結束。

第七步，配置測試結束后，Python將創建的數據及分析的結果存儲在對應的文件夾A里；且還可以通過Python生成柱狀圖及散點圖；

并重復第三步至第六步，直至配置文件中所有不同標簽名下的配置全部測試結束。

第八步，測試SAR-ADC，Python通過串口配置多個待測芯片的寄存器，并將所述多個待測芯片的基準電壓均配置為V1。

第九步，配置完成后，串口發送讀取測試SAR ADC的命令，發送完成后主控芯片通過控制多個DAC，使多個所述DAC的輸出電壓依次從0至V1伏，中間包括多個調節檔且一個所述調節檔為250微伏；主控芯片讀取所述多個待測芯片通過串口發送的SAR ADC轉換碼值，并通過主控芯片的串口發送給Python腳本。

第十步，重復第九步，直至所有的電壓檔位測試完成，Python記錄數據并自動分析結果保存到創建的配置文件里面，Python關閉所有的創建文件，并退出測試。