[發明專利]一種固溶體納米線及其制備方法和用途有效
| 申請號: | 201910062837.1 | 申請日: | 2019-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN109706434B | 公開(公告)日: | 2021-04-09 |
| 發明(設計)人: | 薩德·阿拉·簡;郭北斗;宮建茹 | 申請(專利權)人: | 國家納米科學中心 |
| 主分類號: | C23C16/30 | 分類號: | C23C16/30;C23C16/02;B82Y30/00;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 鞏克棟 |
| 地址: | 100190 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 固溶體 納米 及其 制備 方法 用途 | ||
1.一種固溶體納米線的制備方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
(1)在襯底上覆蓋催化劑,并對覆蓋催化劑的襯底進行退火,得到退火襯底;
(2)將InP和ZnSe的混合物置于一端封口一端開口的石英管的一側,將步驟(1)所述退火襯底置于所述石英管的另一側,將所述石英管置于反應爐中,抽真空后通入保護性氣體,在加熱條件下進行化學氣相沉積反應,得到所述固溶體納米線;其中,所述化學氣相沉積反應時,InP和ZnSe的混合物的溫度高于退火襯底的溫度;
所述固溶體納米線為InP-ZnSe固溶體納米線。
2.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述固溶體納米線的平均直徑為50-400nm。
3.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述固溶體納米線的長度為1-6μm。
4.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述固溶體納米線中,InP的摩爾百分含量為0-100%且不包括0和100%。
5.根據權利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述固溶體納米線中,InP的摩爾百分含量為50-66.7%。
6.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(1)所述襯底包括硅片。
7.根據權利要求6所述的制備方法,其特征在于,所述硅片在覆蓋催化劑前先進行預處理。
8.根據權利要求7所述的制備方法,其特征在于,所述預處理的方法包括分別用丙酮、異丙醇和無水乙醇作為溶劑對硅片進行超聲清洗,并用氮氣吹干。
9.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(1)所述催化劑為金。
10.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(1)所述覆蓋催化劑的方法包括:用離子濺射的方法在襯底上覆蓋催化劑。
11.根據權利要求10所述的制備方法,其特征在于,所述離子濺射的電流大小為8-10mA。
12.根據權利要求10所述的制備方法,其特征在于,所述離子濺射的時間為60-120s。
13.根據權利要求12所述的制備方法,其特征在于,所述離子濺射的時間為90s。
14.根據權利要求10所述的制備方法,其特征在于,所述離子濺射用離子濺射儀進行。
15.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(1)所述退火的方法包括:抽真空后通入保護性氣體,加熱進行退火,得到所述退火襯底。
16.根據權利要求15所述的制備方法,其特征在于,所述抽真空將反應系統的壓力降低至≤1Pa。
17.根據權利要求15所述的制備方法,其特征在于,所述保護性氣體包括氮氣和/或氬氣。
18.根據權利要求15所述的制備方法,其特征在于,所述保護性氣體的流量為40-60sccm。
19.根據權利要求18所述的制備方法,其特征在于,所述保護性氣體的流量為50sccm。
20.根據權利要求15所述的制備方法,其特征在于,所述加熱進行退火的溫度為420-480℃。
21.根據權利要求20所述的制備方法,其特征在于,所述加熱進行退火的溫度為450℃。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴散法,化學轉化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發法、濺射法、離子注入法或化學氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態化合物分解且表面材料的反應產物不留存于鍍層中的化學鍍覆,例如化學氣相沉積
C23C16-01 .在臨時基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機材料為特征的





