[發明專利]一種用于樣品檢測的樣品架

在審

• 申請號: 201910059288.2
• 申請日: 2019-01-22
• 公開（公告）號: CN109772490A
• 公開（公告）日: 2019-05-21
• 發明（設計）人: 蔡開聰;鐘紅梅;侯彥君
• 申請（專利權）人: 福建師范大學
• 主分類號: B01L9/00
• 分類號: B01L9/00
• 代理公司: 福州市景弘專利代理事務所(普通合伙) 35219
• 代理人: 林祥翔;徐劍兵

本發明涉及了一種用于樣品檢測的樣品架，第一樣品池用于盛裝參比液，所述第二樣品池用于盛裝待測樣品溶液，分束鏡設置于紫外光源與第一樣品池的連線上，所述分束鏡傾斜設置，反射鏡與分束鏡的設置方向相同，所述反射鏡設置于紫外光在分束鏡上反射的光線方向上，所述第二樣品池設置于反射鏡上反射的光線方向上，所述第一光電倍增管的位置與第一樣品池的位置相對應，所述第二光電倍增管的位置與第二樣品池的位置相對應。該用于樣品檢測的樣品架結構簡單，可同時進行參比液與待測樣品溶液的檢測，避免不斷更替樣品室內的樣品，減少人為因素的影響，提高了裝置的穩定性能，減少實驗時間，提高了實驗的效率，保證了實驗結果的準確性和可靠性。

技術領域

本發明涉及實驗室檢驗設備領域，尤其涉及一種用于樣品檢測的樣品架。

背景技術

紫外-可見分光光度法是對物質進行定性，結構分析和定量分析的一種常用的手段。現有技術中，一般用紫外分光光度計來實現紫外-可見分光光度法對待測溶液濃度的測定，其具體操作是利用紫外分光光度計分別對參比溶液和待測樣品溶液進行檢測，而后對檢測的數值進行比較最終得到待測樣品溶液的溶度。

紫外分光光度計的樣品室內設置推拉式的樣品架，一般通過手動形式進行推動和抽出，在推拉的過程中，樣品架內樣品過滿易溢出，造成實驗測定結果的誤差，且利用紫外分光光度計分別對待測溶液與參比溶液分別檢測的方法比較耗時，存在效率低下的問題。

發明內容

為此，需要提供一種用于樣品檢測的樣品架，來解決測定待測樣品濃度困難的問題。

為實現上述目的，發明人提供了一種用于樣品檢測的樣品架，其特征在于：包括紫外光源、樣品室、第一光電倍增管以及第二光電倍增管，所述紫外光源、第一光電倍增管以及第二光電倍增管均設置于樣品室外，所述樣品室內包括分束鏡、反射鏡、第一樣品池以及第二樣品池，所述第一樣品池用于盛裝參比液，所述第二樣品池用于盛裝待測樣品溶液，所述分束鏡設置于紫外光源與第一樣品池的連線上，所述分束鏡傾斜設置，所述反射鏡與分束鏡的設置方向相同，所述反射鏡設置于紫外光在分束鏡上反射的光線方向上，所述第二樣品池設置于反射鏡上反射的光線方向上，所述第一光電倍增管的位置與第一樣品池的位置相對應，所述第二光電倍增管的位置與第二樣品池的位置相對應。

進一步地，所述第二樣品池的個數為兩個以上，所述第二樣品池均設置于第一樣品池的同側，且第一樣品池與第二樣品池沿豎直方向排列。

進一步地，還包括第一滑軌與第二滑軌，所述第一滑軌與第二滑軌的延伸方向均與第二樣品池的排列方向相同，所述反射鏡設置有與第一滑軌相適配的第一滑塊，所述第二光電倍增管設置有與第二滑軌相適配的第二滑塊，所述反射鏡通過第一滑塊沿第一滑軌滑動，所述第二光電倍增管通過第二滑塊沿第二滑軌滑動。

進一步地，所述第一滑軌與第二滑軌的長度相同。

進一步地，所述第一滑軌上設置有第一限位部，所述第二滑軌上設置有第二限位部，所述第一限位部與第二限位部的位置分別與第二樣品池的位置相對應。

進一步地，所述第一限位部與第二限位部均是限位孔，所述第一滑塊朝向第一滑軌內的一側以及第二滑塊朝向第二滑軌內的一側均設置有凸臺，所述凸臺與限位孔相適配。

進一步地，還包括可見光光源以及單色器，所述紫外光源由可見光光源發出的光線透過單色器分解后形成。

進一步地，還包括放大器、單片機與顯示器，所述第一光電倍增管以及第二光電倍增管均連接于放大器，所述放大器通過單片機連接于顯示器，所述單片機內有用于將第一光電倍增管以及第二光電倍增管所獲電信號進行差減得出待測樣品溶液吸光度的程序。

進一步地，所述分束鏡與所述反射鏡均與水平線呈45°設置。

進一步地，所述分束鏡設置于反射鏡的正上方，第一樣品池與分束鏡設置于同一水平線上，第二樣品池與第一樣品池設置于同一豎直線上。