[發(fā)明專利]一種亞像素邊緣檢測方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910022556.3 | 申請日: | 2019-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN109741356B | 公開(公告)日: | 2020-08-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳曉軍;蘇益沛;李鵬輝 | 申請(專利權(quán))人: | 哈爾濱工業(yè)大學(深圳) |
| 主分類號: | G06T7/13 | 分類號: | G06T7/13 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務(wù)所 11569 | 代理人: | 杜陽陽 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 像素 邊緣 檢測 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種亞像素邊緣檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取原始圖像;
根據(jù)所述原始圖像確定梯度圖像;
根據(jù)所述梯度圖像確定多個種子點對;所述種子點對包括第一初始種子點和第二初始種子點;
確定各種子點對對應(yīng)的像素軌跡;
根據(jù)各所述種子點對對應(yīng)的像素軌跡,確定原始圖像的像素邊緣輪廓;
利用樣條插值法或高斯曲線擬合法或Steger法,根據(jù)所述原始圖像的像素邊緣輪廓確定原始圖像的亞像素邊緣輪廓;
所述確定各種子點對對應(yīng)的像素軌跡,具體步驟為:
獲取歷史邊緣點分布情況;
根據(jù)所述歷史邊緣點分布情況在種子點對處確定待選區(qū)域;
根據(jù)所述待選區(qū)域確定r級候選區(qū)域,其中,r為大于等于2的整數(shù);
確定邊緣寬度系數(shù);
在各級候選區(qū)域內(nèi)篩選梯度強度最大的k個點作為候選點;
確定各同級候選點的自相關(guān)系數(shù);
確定不同級候選點的互相關(guān)系數(shù);
根據(jù)所述邊緣寬度系數(shù)、所述自相關(guān)系數(shù)和所述互相關(guān)系數(shù)確定邊緣向量;
按照方向最近原則,根據(jù)所述邊緣向量確定所述種子點對對應(yīng)的像素軌跡。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述亞像素邊緣檢測方法,其特征在于,所述按照方向最近原則,根據(jù)所述邊緣向量確定所述種子點對對應(yīng)的像素軌跡,具體包括:
根據(jù)所述邊緣向量確定邊緣向量值;
判斷所述邊緣向量值是否大于第二設(shè)定值,獲得第二判斷結(jié)果;如果所述第二判斷結(jié)果表示為所述邊緣向量值大于第二設(shè)定值時,則在第一級候選區(qū)域內(nèi)選取與邊緣向量方向夾角最小的候選點作為第一新邊緣點,同時在第二級候選區(qū)域內(nèi)選取與邊緣向量方向夾角最小的候選點作為第二新邊緣點;如果所述第二判斷結(jié)果表示為所述邊緣向量值小于等于第二設(shè)定值時,則在第一級候選區(qū)域內(nèi)選取與邊緣向量方向夾角最小的候選點作為第一新邊緣點;
判斷所述第一新邊緣點或第二新邊緣點是否滿足終止條件,獲得第三判斷結(jié)果;如果所述第三判斷結(jié)果表示為所述第一新邊緣點或第二新邊緣點滿足終止條件,則提取所述種子點對對應(yīng)的像素軌跡;如果所述第三判斷結(jié)果表示為所述第一新邊緣點或第二新邊緣點不滿足終止條件,則記錄所述第一新邊緣點和第二新邊緣點的位置,并將第一新邊緣點作為種子點對的第一初始種子點,將第二新邊緣點作為種子點對的第二初始種子點,返回步驟“根據(jù)所述歷史邊緣點分布情況在種子點對處確定待選區(qū)域”,直到滿足終止條件為止。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述亞像素邊緣檢測方法,其特征在于,所述按照方向最近原則,根據(jù)所述邊緣向量確定所述種子點對對應(yīng)的像素軌跡,具體包括:
在第一級候選區(qū)域內(nèi)選取與邊緣向量方向夾角最小的候選點作為新邊緣點;
判斷所述新邊緣點是否滿足終止條件,獲得第四判斷結(jié)果;如果所述第四判斷結(jié)果表示為所述新邊緣點滿足終止條件,則提取所述種子點對對應(yīng)的像素軌跡;如果所述第四判斷結(jié)果表示為所述新邊緣點不滿足終止條件,則記錄新邊緣點的位置,并將第二初始種子點作為種子點對的第一初始種子點,將所述新邊緣點作為種子點對的第二初始種子點,返回步驟“根據(jù)所述歷史邊緣點分布情況在種子點對處確定待選區(qū)域”,直到滿足終止條件為止。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于哈爾濱工業(yè)大學(深圳),未經(jīng)哈爾濱工業(yè)大學(深圳)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910022556.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





