[發明專利]多信號的檢測方法和檢測控制裝置在審
| 申請號: | 201910020490.4 | 申請日: | 2019-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN109547024A | 公開(公告)日: | 2019-03-29 |
| 發明(設計)人: | 蔣松鷹;姚煒;管少鈞 | 申請(專利權)人: | 上海艾為電子技術股份有限公司 |
| 主分類號: | H03M1/12 | 分類號: | H03M1/12;H03M1/46 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 李慧引;王寶筠 |
| 地址: | 201199 上海市閔*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 控制信號 模擬信號 檢測控制裝置 檢測 信號采樣單元 采樣單元 同一時刻 指示信號 采樣 發送指示 分時發送 可分時 分時 發送 申請 | ||
本申請提供了一種多信號的檢測方法和檢測控制裝置,通過檢測控制裝置生成指示信號和控制信號;其中,指示信號用于控制信號采樣單元對多種模擬信號進行檢測;控制信號用于控制信號采樣單元同一時刻選擇多種模擬信號中的一種模擬信號進行檢測;檢測控制裝置向信號采樣單元發送指示信號和控制信號;檢測控制裝置接收信號采樣單元分時發送的多種模擬信號的采樣值。由于控制信號控制信號采樣單元同一時刻選擇多種模擬信號中的一種進行檢測,因此可實現分時對多種模擬信號進行檢測,進而使得檢測控制裝置可分時接收到信號采樣單元發送的多種模擬信號的采樣值,實現了單個SAR_ADC能對多種信號進行檢測。
技術領域
本發明涉及電子電路技術領域,尤其涉及一種多信號的檢測方法和檢測控制裝置。
背景技術
在數字音頻功放芯片的發展中,需要對芯片的供電電池電壓和芯片的溫度等信號檢測。目前,對芯片的供電電池電壓和芯片的溫度等多種模擬信號,通常采用逐次逼近式模擬數字轉換器(英文名稱:Successive Approximation Register_Analog to DigitalConverter,英文簡稱:SAR_ADC)進行檢測。
具體的,SAR_ADC在每一次模數轉換過程中,通過遍歷所有的量化值并將其轉化為模擬值,將輸入的模擬信號與其逐一比較,最終得到要輸出的數字信號。SAR_ADC因其設計簡單、轉換速率適中、面積較小而得到廣泛應用。
但是,SAR_ADC只能對一種模擬信號進行檢測,若需要檢測多種模擬信號,則需多個SAR_ADC才可實現檢測。而多個SAR_ADC占用面積過大,在許多芯片中并不適用。
發明內容
基于上述現有技術的不足,本申請提出了一種多信號檢測方法和檢測控制裝置,以實現單個SAR_ADC能對多種信號進行檢測。
為解決上述問題,現提出的方案如下:
本發明的第一方面公開了一種多信號的檢測方法,包括:
檢測控制裝置生成指示信號和控制信號;其中,所述指示信號用于控制信號采樣單元對多種模擬信號進行檢測;所述控制信號用于控制所述信號采樣單元同一時刻選擇所述多種模擬信號中的一種模擬信號進行檢測;
所述檢測控制裝置向所述信號采樣單元發送所述指示信號和所述控制信號;
所述檢測控制裝置接收所述信號采樣單元分時發送的所述多種模擬信號的采樣值。
可選地,在上述多信號的檢測方法中,所述檢測控制裝置接收所述信號采樣單元分時發送的所述多種模擬信號的采樣值之后,還包括:
所述檢測控制裝置對接收的模擬信號的采樣值進行平均值計算,得到所述模擬信號的平均檢測值。
可選地,在上述多信號的檢測方法中,所述檢測控制裝置生成指示信號,包括:
所述檢測控制裝置接收時鐘信號;
所述檢測控制裝置對所述時鐘信號進行高、低電平信號的計數并分頻,得到高、低電平信號的計數結果;
所述檢測控制裝置依據所述計數結果,生成所述指示信號。
可選地,在上述多信號的檢測方法中,所述檢測控制裝置依據所述計數結果,生成所述指示信號,包括:
所述檢測控制裝置利用計數結果,確定忙碌時間;
所述檢測控制裝置利用慢速時鐘信號,確定空閑時間;
所述檢測控制裝置依據忙碌時間和空閑時間,生成所述指示信號;其中,所述指示信號包括空閑區域和忙碌區域,所述指示信號的空閑區域用于控制所述信號采樣單元空閑,所述指示信號的忙碌區域用于控制所述信號采樣單元工作。
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