[發(fā)明專利]質(zhì)量分析裝置的評價方法、質(zhì)量分析裝置的校正方法、分析方法、質(zhì)量分析裝置及質(zhì)量分析用試劑在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880097108.3 | 申請日： | 2018-09-28 |
| 公開（公告）號： | CN112639458A | 公開（公告）日： | 2021-04-09 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 工藤恭彥;大林賢一;中川勝博 | 申請（專利權(quán)）人： | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號： | G01N27/62 | 分類號： | G01N27/62;G01N30/72 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 質(zhì)量 分析 裝置 評價 方法 校正 試劑 | ||
1.一種質(zhì)量分析裝置的評價方法，包括：
利用質(zhì)量分析裝置對鄰苯二甲酸的酯進行質(zhì)量分析，檢測所述鄰苯二甲酸的酯解離而生成的多個離子；以及
基于檢測出的所述多個離子的強度之比，獲取關(guān)于所述質(zhì)量分析裝置是否處于適合于分析的狀態(tài)的信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，其中
基于檢測出的3個以上的所述離子之間的強度的多個所述比，獲取所述信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，其中
所述鄰苯二甲酸的酯為鄰苯二甲酸的鄰位體的酯。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，其中
所述鄰苯二甲酸的酯選自由鄰苯二甲酸二異丁酯(DIBP)、鄰苯二甲酸二丁酯(DBP)、鄰苯二甲酸丁基芐酯(BBP)、鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(DEHP)、鄰苯二甲酸二正辛酯(DNOP)、鄰苯二甲酸二異壬酯(DINP)、鄰苯二甲酸二異癸酯(DIDP)、鄰苯二甲酸單(2-乙基己基)酯、鄰苯二甲酸二甲酯(DMP)、鄰苯二甲酸二乙酯(DEP)、鄰苯二甲酸二丙酯、鄰苯二甲酸二(2-甲氧基乙基)酯、鄰苯二甲酸雙(2-丁氧基乙基)酯、鄰苯二甲酸-正戊基異戊酯、鄰苯二甲酸二丙基庚酯、鄰苯二甲酸二正戊酯(DPENP)、鄰苯二甲酸二異戊酯(DPENP)、鄰苯二甲酸二正己酯(DHEXP)、鄰苯二甲酸二異己酯、鄰苯二甲酸二環(huán)己酯(DCHP)、鄰苯二甲酸二芐酯、鄰苯二甲酸二庚酯、鄰苯二甲酸二異庚酯、鄰苯二甲酸二壬酯、鄰苯二甲酸二癸酯、鄰苯二甲酸二-十一烷基酯、鄰苯二甲酸二異十一烷基酯及鄰苯二甲酸二異十三烷基酯所組成的群組。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，其中
所述鄰苯二甲酸的酯為鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(DEHP)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，其中
所述檢測出的多個離子包含與m/z的值處于148以上且150以下的范圍的峰值對應(yīng)的離子。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，其中
基于規(guī)定的峰值的強度相對于所述檢測出的多個離子所對應(yīng)的峰值中m/z的值處于148以上且150以下的范圍的峰值的強度的比是否處于規(guī)定的范圍，判定所述質(zhì)量分析裝置是否為適合于所述分析的狀態(tài)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，其中
所述鄰苯二甲酸的酯為鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(DEHP)，
所述規(guī)定的峰值為m/z的值處于278以上且280以下的范圍的第一峰值、處于166以上且168以下的范圍的第二峰值、處于112以上且114以下的范圍的第三峰值、處于70以上且72以下的范圍的第四峰值、及處于56以上且58以下的范圍的第五峰值中的至少一者，
所述第一峰值情況下的所述規(guī)定的范圍為5％以上且15％以下，所述第二峰值情況下的所述規(guī)定的范圍為33％以上且48以下，所述第三峰值情況下的規(guī)定的范圍為8％以上且16％以下，所述第四峰值情況下的所述規(guī)定的范圍為17％以上且30％以下，所述第五峰值情況下的所述規(guī)定的范圍為17％以上且44％以下。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，其中
所述鄰苯二甲酸的酯通過電子離子化、正離子化學(xué)離子化、負離子化學(xué)離子化、大氣壓化學(xué)離子化或碰撞誘發(fā)解離而解離。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至9中任一項所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，其包括：
在所述質(zhì)量分析裝置不處于適合于所述分析的狀態(tài)的情況下，輸出通知。
11.一種質(zhì)量分析裝置的校正方法，包括：通過根據(jù)權(quán)利要求1至10中任一項所述的質(zhì)量分析裝置的評價方法，進行質(zhì)量分析裝置的評價；以及
基于所述評價對所述質(zhì)量分析裝置進行校正。
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