[發明專利]一種具有在不同模式下操作的子像素的輻射檢測器在審
| 申請號: | 201880096875.2 | 申請日: | 2018-09-07 |
| 公開(公告)號: | CN112601985A | 公開(公告)日: | 2021-04-02 |
| 發明(設計)人: | 曹培炎;劉雨潤 | 申請(專利權)人: | 深圳幀觀德芯科技有限公司 |
| 主分類號: | G01T1/24 | 分類號: | G01T1/24 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518071 廣東省深圳市南山區桃源街道塘朗*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 不同 模式 操作 像素 輻射 檢測器 | ||
本文公開一種輻射檢測器,其包括包含多個子像素的像素。每個所述子像素配置成在暴露于輻射時產生電信號。所述輻射檢測器進一步包括電連接到所述多個子像素的開關。所述開關配置成組合由所述子像素的子集生成的電信號。本文還公開一種與所述輻射檢測器有關的方法。
【技術領域】
本文的公開涉及一種輻射檢測器,特別涉及一種具有在不同模式下操作的子像素的輻射檢測器。
【背景技術】
輻射檢測器是一種測量輻射特征的裝置。所述特征的示例可包括輻射的強度、相位和偏振的空間分布。輻射可以是與對象相互作用的輻射。例如,由輻射檢測器測量的輻射可以是已經從對象穿透或從對象反射的輻射。輻射可以是電磁輻射,比如紅外光、可見光、紫外光、X射線或γ射線。輻射可以是其他類型,比如α射線和β射線。
一種類型的輻射檢測器是基于輻射和半導體之間的相互作用。例如,該類型的輻射檢測器可具有吸收輻射并產生載流子(例如,電子和空穴)的半導體層和用于檢測所述載流子的電路。
【發明內容】
本文公開一種輻射檢測器,其包括:包含多個子像素的像素,每個所述子像素配置成在暴露于輻射時產生電信號;電連接到所述多個子像素的開關;其中所述開關配置成組合由所述子像素的子集生成的電信號。
根據實施例,其中每個所述子像素配置成檢測由每個所述子像素產生的所述電信號的幅度。
根據實施例,其中所述開關配置成在由所述子像素產生的所述電信號的所述幅度超過幅度閾值時,斷開任何一個所述子像素。
根據實施例,所述開關包括分別連接到所述子像素的多個子開關。
根據實施例,每個所述子開關配置成檢測由與其連接的所述子像素產生的所述電信號的幅度。
根據實施例,每個所述子開關配置成在所述幅度超過幅度閾值時斷開與其連接的所述子像素。
根據實施例,所述像素包括四個子像素。
根據實施例,所述像素進一步包括輻射吸收層。
根據實施例,所述輻射吸收層包括半導體。
根據實施例,所述半導體選自硅、鍺、GaAs、CdTe、CdZnTe或其組合。
根據實施例,所述開關進一步包括累加器,其用以組合由所述子像素的任何子集產生的所述電信號。
根據實施例,所述輻射檢測器進一步包括:比較器,其配置成將來自所述開關的輸出信號與輸出閾值進行比較;計數器,其配置成記錄由輻射檢測器吸收的若干輻射粒子;控制器;儀表,其配置成測量所述輸出信號;其中所述控制器配置成在所述比較器確定所述輸出信號的絕對值等于或超過所述輸出閾值的絕對值時啟動時間延遲;其中所述控制器配置成使儀表在所述時間延遲期滿時測量所述輸出信號;其中所述控制器配置成通過將由所述儀表測量的所述輸出信號除以單個粒子產生的所述開關的輸出信號來確定若干粒子;其中所述控制器配置成使所述計數器記錄的數目隨粒子數目增加而增加。
根據實施例,所述控制器配置成在所述時間延遲開始時停用所述比較器。
本文公開一種系統,其包括如上所述的任何輻射檢測器和X射線源,其中所述系統配置成對人體胸部或腹部執行X射線照相。
本文公開一種系統,其包括如上所述的任何輻射檢測器和X射線源,其中所述系統配置成對人體口腔執行X射線照相。
本文公開一種貨物掃描或非侵入式檢查(NII)系統,其包括如上所述的任何輻射檢測器和X射線源,其中所述貨物掃描或非侵入式檢查(NII)系統配置成使用反向散射的X射線形成圖像。
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