[發明專利]一種具有在不同模式下操作的子像素的輻射檢測器

在審

• 申請號: 201880096875.2
• 申請日: 2018-09-07
• 公開（公告）號: CN112601985A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 曹培炎;劉雨潤
• 申請（專利權）人: 深圳幀觀德芯科技有限公司
• 主分類號: G01T1/24
• 分類號: G01T1/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種輻射檢測器，其包括：

像素，其包含多個子像素，每個所述子像素配置成在暴露于輻射時產生電信號；

開關，其電連接到所述多個子像素；

其中所述開關配置成組合由所述子像素的子集生成的電信號。

2.如權利要求1所述的輻射檢測器，其中所述開關配置成檢測由每個所述子像素產生的所述電信號的幅度。

3.如權利要求2所述的輻射檢測器，其中所述開關配置成在由所述子像素產生的所述電信號的所述幅度超過幅度閾值時，斷開任何一個所述子像素。

4.如權利要求1所述的輻射檢測器，其中所述開關包括分別連接到所述子像素的多個子開關。

5.如權利要求4所述的輻射檢測器，其中每個所述子開關配置成檢測由與其連接的所述子像素產生的所述電信號的幅度。

6.如權利要求5所述的輻射檢測器，其中每個所述子開關配置成在所述幅度超過幅度閾值時斷開與其連接的所述子像素。

7.如權利要求1所述的輻射檢測器，其中所述像素包括四個子像素。

8.如權利要求1所述的輻射檢測器，其中所述像素進一步包括輻射吸收層。

9.如權利要求8所述的輻射檢測器，其中所述輻射吸收層包括半導體。

10.如權利要求9所述的輻射檢測器，其中所述半導體選自硅、鍺、GaAs、CdTe、CdZnTe及其組合。

11.如權利要求1所述的輻射檢測器，其中所述開關進一步包括累加器，其用以組合由所述子像素的任何子集產生的所述電信號。

12.如權利要求1所述的輻射檢測器，其進一步包括：

比較器，其配置成將來自所述開關的輸出信號與輸出閾值進行比較；

計數器，其配置成記錄由輻射檢測器吸收的若干輻射粒子；

控制器；

儀表，其配置成測量所述輸出信號；

其中所述控制器配置成在所述比較器確定所述輸出信號的絕對值等于或超過所述輸出閾值的絕對值時啟動時間延遲；

其中所述控制器配置成使儀表在所述時間延遲期滿時測量所述輸出信號；

其中所述控制器配置成通過將由所述儀表測量的所述輸出信號除以單個粒子產生的所述開關的輸出信號來確定若干粒子；

其中所述控制器配置成使所述計數器記錄的數目隨粒子數目的增加而增加。

13.如權利要求12所述的輻射檢測器，其中所述控制器配置成在所述時間延遲開始時停用所述比較器。

14.如權利要求12所述的輻射檢測器，其中所述輸出閾值是單個粒子產生的所述開關的所述輸出信號的5-10％。

15.一種系統，其包括權利要求1所述的輻射檢測器和X射線源，其中所述系統配置成對人體胸部或腹部執行X射線照相。

16.一種系統，其包括權利要求1所述的輻射檢測器和X射線源，其中所述系統配置成對人體口腔執行X射線照相。

17.一種貨物掃描或非侵入式檢查(NII)系統，其包括權利要求1所述的輻射檢測器和X射線源，其中所述貨物掃描或非侵入式檢查(NII)系統配置成使用反向散射的X射線形成圖像。

18.一種貨物掃描或非侵入式檢查(NII)系統，其包括權利要求1所述的輻射檢測器和X射線源，其中所述貨物掃描或非侵入式檢查(NII)系統配置成使用被檢查物體透射的X射線形成圖像。