[發明專利]珩磨機和珩磨機的應用

有效

• 申請號: 201880066672.9
• 申請日: 2018-08-23
• 公開（公告）號: CN111212704B
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 米夏埃爾·舒姆;亞歷山大·舍費爾;曼努埃爾·格普費特;桑德羅·克里內斯
• 申請（專利權）人: 舍弗勒技術股份兩合公司
• 主分類號: B24B33/04
• 分類號: B24B33/04;B24B33/06;B24B33/08
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 丁永凡;劉剛

一種珩磨機(10)，尤其切入式珩磨機，用于珩磨柱面、球面、錐面和/或圓錐面，尤其滾動軸承的部件，所述珩磨機設置有：加工刀具(16)，其用于在相對于工件(14)的第一加工位處對工件(14)進行切削加工；和渦流檢測探針(28)，其用于在相對于工件(14)的第二加工位處對工件(14)進行裂紋檢測和/或磨削燒傷檢測，所述第二加工位尤其沿周向方向相對于第一加工位錯開。通過將渦流檢測探針(28)集成到珩磨機(10)中，能夠實現低成本地制造和檢測高精度表面。

技術領域

本發明涉及一種珩磨機以及一種珩磨機的應用，借助于珩磨機可以通過珩磨來切削加工柱面、球面、錐面和/或圓錐面。

背景技術

由EP 1 994 362 B1已知一種具有集成的測量系統的珩磨機，其中在測量系統的光學傳感器與待檢查的柱表面之間的中間空間通過透明液體填充。

一直需要能夠以低成本制造高精度表面。

發明內容

本發明的目的是，闡明一種能夠實現低成本地制造高精度表面的措施。

根據本發明，該目的通過一種具有如下特征的珩磨機以及一種珩磨機的應用來實現。本發明的優選的設計方案在以下說明中給出，其能夠分別單獨地或組合地表示本發明的一個方面。

根據本發明，珩磨機，尤其切入式珩磨機，用于珩磨柱面、球面、錐面和/或圓錐面，尤其滾動軸承的部件，所述珩磨機設置有：加工刀具，其用于在相對于工件的第一加工位處對工件進行切削加工；和渦流檢測探針，其用于在相對于工件的第二加工位處對工件進行裂紋檢測和/或磨削燒傷檢測，所述第二加工位尤其沿周向方向相對于第一加工位錯開。

渦流檢測探針能夠實施渦流檢測，所述渦流檢測能夠實現在導電的工件中通過工件中的由線圈產生的交變磁場感應出渦流，并借助傳感器探測通過渦流產生的磁場的渦流密度。渦流檢測探針尤其可以測量探測到的信號相對于激勵信號的振幅和相移，并且可以從測量值與合格零件的所儲存的期望值的足夠大的偏差中推斷出裂紋形成和/或磨削燒傷。在此，利用以下知識：在工件中的裂紋以及磨削燒傷導致工件的導電性變化，這導致在工件中感應的渦流的磁場變化。尤其在此可以考慮，滾動軸承的部件通常由金屬材料制成，該金屬材料基本上是導電的，并且因此可以借助于渦流檢測探針被無接觸地測量。由此可以避免光學檢測，并且避免與此相關的、無誤差地實施光學檢測的困難。

此外，通過將渦流檢測探針集成到珩磨機中，不必在珩磨后從珩磨機中取出工件并將其插入單獨的檢測機中。因此，可以避免由于為了檢測而重新定位工件而造成的表面損壞，使得降低了次品的風險。在此，利用以下知識：已經足夠的是，將用于渦流檢測探針的加工位沿周向方向相對于用于加工刀具的加工位錯開，以便使加工刀具和渦流檢測探針不會相互干擾。甚至原則上可行的是，加工刀具和渦流檢測探針同時運行，使得在通過加工刀具對工件進行切削加工期間，渦流檢測探針就已經能夠檢查工件的所產生的表面。這能夠實現，通過加工刀具實施切削加工，直到渦流檢測探針確定工件的足夠質量，或者渦流檢測探針確定不再能夠達到期望的質量，例如由于工件損壞。因此可以將工件的切削加工減少到必要的最小程度，由此能夠減少產品制造時間和/或加工刀具的磨損。通過將渦流檢測探針集成到珩磨機中，能夠實現低成本地制造和檢測高精度表面。

為了進行渦流檢測，尤其可以使工件可轉動地保持在的同一位置，用于通過加工刀具進行加工的工件處于該位置。為此，第一加工位和第二加工位可以基本上僅在周向方向上彼此錯開地定位在工件的側面上。由此，對于工件的加工和檢測可行的是，設有共同的加工站。在這種情況下，對于珩磨機優選僅設有恰好一個用于工件的加工站。但是，也可行的是，在通過加工刀具進行加工之后將工件尤其水平和/或豎直地置于珩磨機內的另一站上，使得在另一個站上的渦流檢測探針可以實施渦流檢測，而在前一個站上，下一個工件已經可以由加工刀具進行加工。渦流檢測探針尤其可以在另一站上使用原本為另一加工刀具設有的軸系統。在這種情況下優選提出，在另一站上僅借助于渦流檢測探針進行渦流檢測。在此，利用如下知識：該軸系統的用于固定另外的加工刀具而設有的支臂的軸精度足以確保渦流檢測探針在受控軌跡上的徑向均勻的間距。