[發明專利]分類方法和設備

有效

• 申請號: 201880063704.X
• 申請日: 2018-09-03
• 公開（公告）號: CN111163873B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 迪爾克·巴爾塔扎;邁克爾·邁耶;約翰·麥格洛格林
• 申請（專利權）人: 陶朗分選有限責任公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 王博

1.一種用于物品分類的方法，所述方法包括以下步驟：

- 引導步驟（S1），將連續的物品流（4）從運輸機構（2）直接引導到無支撐路徑（6）中，使所述物品流沿著所述無支撐路徑（6）進給通過檢測區域（12）；

- 照射步驟（S2），沿著第一方向（10）發射電磁輻射以照射所述檢測區域（12），所發射的電磁輻射在與所述第一方向正交的方向上延伸形成輻射帶；

- 光學掃描步驟（S3），在測量平面內通過沿著第二方向（16）觀察所述檢測區域，光學掃描所述檢測區域（12）以檢測位于所述檢測區域（12）中的至少一個物品所反射的電磁輻射，其中，當無支撐路徑（6）中不存在物品時，進行所述光學掃描的測量平面內檢測不到反射的電磁輻射，

其中，所述第一方向（10）和所述第二方向（16）具有位于所述檢測區域（12）中的截面并且相對于彼此形成處于3^o - 80^o的范圍內的角度；

- 分析步驟（S4），分析來自光學掃描的信息；以及

- 分類步驟（S5），基于來自光學掃描的反射信息的分析來將物品從所述物品流中分類；

其中，分析來自光學掃描的信息的所述分析步驟包括基于來自光學掃描所檢測到的輻射強度和分散度來分析物品，并且其中，分析來自光學掃描的信息的所述分析步驟包括使所述信息與查詢表中的信息比較和/或使所述信息與閾值進行比較。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，分類所述物品的所述分類步驟還包括基于來自光學掃描的反射信息的分析來在至少兩個不同的方向上從所述物品流中分揀物品。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，分析來自光學掃描的信息的所述分析步驟還包括通過使來自通過位于所述物品流中的至少一個物品直接反射的照射中的電磁輻射與查詢表中的信息和/或一個或多個閾值進行比較，以確定所述至少一個物品的透明度或反射信息。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，分析來自光學掃描的信息的所述分析步驟包括通過使來自通過位于所述物品流中的至少一個物品直接反射的照射中的電磁輻射與第一閾值進行比較，來確定反射信息，并且此后，使來自通過位于所述至少一個物品直接反射的照射中的電磁輻射與第二閾值進行比較，來確定所述至少一個物品的透明度，其中，所述第二閾值位于所述第一閾值之上，并且此后設定所述反射信息。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，分析來自光學掃描的所述分析步驟還包括確定位于所述物品流中的物品的高度輪廓。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，所述查詢表是N維的查詢表，其中N為不等于零的自然數。

7.根據權利要求1所述的方法，其中，分析來自光學掃描的所述分析步驟包括使用深度學習或使用支持向量機。

8.根據權利要求1所述的方法，還包括光學掃描位于背景元件上的區域的步驟，在該區域處，線照射撞擊所述背景元件，其中，分析來自光學掃描的信息的所述分析步驟包括基于來自背景上的區域的光學掃描的信息來確定在所述檢測區域中是否存在材料。

9.根據權利要求8所述的方法，其中，使用一個相機同時執行光學掃描所述背景元件上的區域的步驟和光學掃描所述檢測區域的步驟。

10.根據權利要求1至9中任一項所述的方法，其中，通過用于多個檢測區域的多個線照射來進行使用電磁輻射照射所述檢測區域的步驟，并且通過用于所述檢測區域的多個測量線來進行光學掃描所述檢測區域的步驟。

11.根據權利要求9所述的方法，其中，分析來自光學掃描的信息的所述分析步驟包括確定位于所述物品流中的物品的運動。

12.根據權利要求10所述的方法，其中，所述多個線照射具有不同的波長，其中，分析來自光學掃描的信息的所述分析步驟包括確定位于所述物品流中的物品的光學性能和物理性能。