[發明專利]分析試樣內靶分析物的方法及裝置

在審

• 申請號: 201880062947.1
• 申請日: 2018-09-28
• 公開（公告）號: CN111149170A
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: 金英旭;樸永用;高成文;李榮祚;H·B·李
• 申請（專利權）人: SEEGENE株式會社
• 主分類號: G16B5/00
• 分類號: G16B5/00;G06F17/10;C12Q1/686;G16B40/00;G16B50/00;G06F17/18;G16B45/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 鄭天松

1.一種試樣內靶分析物的分析方法，其包括：

獲取與上述靶分析物有關的數據集的步驟，上述數據集從利用信號發生單元的信號發生反應獲取，包含具有循環號碼及信號值的多個數據位置；

校準上述數據集的步驟；

生成對于校準的上述數據集的非線性函數的步驟；

確定對于校準的上述數據集的上述非線性函數的匹配準確度的步驟；以及

利用上述匹配準確度來確定上述試樣內靶分析物的存在或不存在的步驟。

2.根據權利要求1所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述非線性函數為s型函數。

3.根據權利要求2所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述s型函數為包括通過以下數學式3表示的4個參數的s型函數，

數學式3

在上述數學式中，f(x)作為匹配函數，表示s型函數，x為上述信號發生反應的循環號，而且，a₁、a₂、a₃及a₄為分別表示上述s型函數的參數。

4.根據權利要求1所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述匹配準確度為與校準的上述數據集有關的上述非線性函數的x²值或R²值。

5.根據權利要求1所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述試樣內靶分析物的存在或不存在的確定通過對上述匹配準確度與上述匹配準確度有關閾值進行比較來實施。

6.根據權利要求5所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述試樣內靶分析物的存在或不存在的確定如下實施，即，對上述匹配準確度與上述匹配準確度有關閾值進行比較，判斷上述匹配準確度是否大于上述閾值來實施。

7.根據權利要求1所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述試樣內靶分析物的存在或不存在的確定追加利用選自由(i)上述數據集、校準的上述數據集或上述非線性函數的變位及(ii)上述非線性函數的最大斜率組成的組中的最小一個參數來實施。

8.根據權利要求3所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述試樣內靶分析物的存在或不存在的確定追加利用選自由(i)包含上述數據集、校準的上述數據集或上述4個參數的s型函數的變位及(ii)包含上述4個參數的s型函數的最大斜率及a4組成的組中的最小一個參數來實施。

9.根據權利要求1所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述靶分析物為靶核酸分子。

10.根據權利要求9所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述信號發生反應為通過上述靶核酸分子的擴增或沒有擴增地擴增信號值的過程。

11.根據權利要求10所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述信號發生單元生成依賴于二聚物的形成的信號。

12.根據權利要求10所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述信號發生單元生成依賴于檢測寡核苷酸的切割的信號。

13.根據權利要求1所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述數據集的校準步驟包括：

利用(i)在基準循環中的信號值或(ii)在上述基準循環中的上述信號值的變形值來生成標準化系數的步驟；以及

將上述標準化系數適用于上述數據集的信號值來生成校準的上述數據集的步驟。

14.根據權利要求13所述的試樣內靶分析物的分析方法，其中所述信號發生反應包含在不同的反應環境中對于相同靶分析物的多個信號發生反應，上述數據集為多個數據集，多個上述數據集從多個上述信號發生反應的多個集獲取，上述基準循環或上述基準循環與上述基準值相同地適用于多個上述數據集。