[發明專利]用于測量直流/低頻信號分量的系統、裝置和方法

在審

• 申請號: 201880059640.6
• 申請日: 2018-07-13
• 公開（公告）號: CN111051895A
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發明（設計）人: M.J.門德
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R19/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 劉書航;申屠偉進

一種測試和測量探針系統(100，104)，包括：輸入(106)，用于接收輸入信號，該輸入信號包括低頻(LF)和/或直流(DC)分量以及交流(AC)分量；提取器電路(110)，諸如AC耦合電路或LF和/或DC抑制電路，其被配置為接收輸入信號并且從輸入信號中分離AC分量以及LF和/或DC分量；第一輸出(118)，用于將交流分量輸出到測試和測量儀器；以及第二輸出，用于將直流分量輸出到測試和測量儀器。在一些實施例中，LF和/或DC分量在由第二輸出輸出之前被數字化。

優先權

本公開要求于2017年7月14日提交的題為Systems, Devices, and Methods forMeasuring DC/LF Signal Components when Using DC Reject, AC Coupling or anIsolated Input 的美國臨時申請No. 62/532,765的權益，該申請被通過引用在其整體上合并于此。

技術領域

本公開涉及與測試和測量系統相關的系統和方法，并且特別是涉及輸出輸入信號的交流分量以及直流和/或低頻分量這兩者的測試和測量探針系統。

背景技術

使用諸如示波器的測試和測量儀器來測量疊加在較大的變化的直流(DC)偏移分量上的低幅度交流(AC)信號通常要求使用AC耦合或DC抑制來提取AC信號并且抑制DC或低頻(LF)分量。當將探針與諸如典型地被AC耦合的譜分析儀的測試和測量儀器一起使用時，AC耦合或DC抑制也可能是有用的。

當使用AC耦合或DC抑制拓撲時，DC/LF分量信號信息由于被阻斷或抑制而丟失。然而，在電路的性能的整體分析(例如諸如功率分析)中，該信息可能是有用的或者是需要的。使用常規的測試和測量儀器，DC/LF分量信號信息丟失，造成測試和測量儀器的自動地執行的測量沒有精確地表示真實的輸入信號，因為DC/LF分量未被反映在自動執行的測量中。

為了對此進行補救，用戶可能手動地調整測試和測量儀器上的探針偏移控制以對靜態DC偏移進行清零，在自動執行的測量中這將被納入考慮。然而，這樣的過程是耗時的，并且可能僅對靜態DC/LF分量起作用——也就是，對于動態DC/LF分量而言其將不起作用。進一步地，調整探針偏移控制還受測試和測量儀器的輸入偏移范圍的限制，輸入偏移范圍通常在電壓上——尤其是在最靈敏的垂直增益設置方面——是受限制的。

本公開的實施例解決了現有技術的這些和其它缺陷。

附圖說明

根據以下參照所附附圖的對實施例的描述，本公開的實施例的方面、特征和優點將變得顯而易見，在附圖中：

圖1是根據本公開的一些實施例的具有直流(DC)抑制電路的示例單端測試和測量探針系統的框圖。

圖2是根據本公開的其它實施例的具有DC抑制電路的另一示例差分測試和測量探針系統的框圖。

圖3是根據本公開的其它實施例的具有AC耦合電路的另一示例單端測試和測量探針系統的框圖。

圖4是根據本公開的其它實施例的具有DC抑制電路的另一示例單端測試和測量探針系統的框圖。

圖5是根據本公開的其它實施例的具有DC抑制電路的另一示例差分測試和測量探針系統的框圖。

圖6是根據本公開的其它實施例的具有AC耦合電路的另一示例單端測試和測量探針系統的框圖。

圖7是根據本公開的其它實施例的具有DC抑制電路的示例單端隔離測試和測量探針系統的框圖。

圖8是根據本公開的其它實施例的具有AC耦合電路的另一示例單端隔離測試和測量探針系統的框圖。

圖9是根據本公開的其它實施例的具有DC抑制電路的示例單端隔離測試和測量探針系統的框圖。