[發明專利]用于識別色素沉著過度的斑點的系統和方法

在審

• 申請號: 201880053616.1
• 申請日: 2018-08-16
• 公開（公告）號: CN111433861A
• 公開（公告）日: 2020-07-17
• 發明（設計）人: A·普爾瓦;W·K·A·孔;余佩聰;箱崎智洋
• 申請（專利權）人: 寶潔公司
• 主分類號: G16H50/20
• 分類號: G16H50/20;G16H20/13
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 高見;張鑫

1.一種用于識別色素沉著過度的斑點的系統，所述系統包括：計算裝置，所述計算裝置包括處理器和存儲器部件，其中所述存儲器部件存儲邏輯，在由所述處理器執行時，所述邏輯使得所述計算裝置

(i)接收使用交叉偏振光捕獲的受試者的數字圖像，

(ii)接收所述受試者的基線圖像，

(iii)識別所述受試者的所述圖像中的色素沉著過度的斑點，

(iv)以電子方式注釋所述受試者的所述圖像以辨別所述圖像中的所述色素沉著過度的斑點，

(v)將所述色素沉著過度的斑點分類到預先確定的類；

(vi)根據所述預先確定的類來確定用于治療所述色素沉著過度的斑點的產品，以及

(vii)提供與所述產品相關的信息以供所述受試者使用。

2.根據權利要求1所述的系統，還包括圖像捕獲裝置，所述圖像捕獲裝置包括交叉偏振濾波器，其中所述受試者的所述圖像使用所述圖像捕獲裝置被捕獲。

3.根據權利要求1或2所述的系統，其中所述預先確定的類包括下列各項中的至少一種：曬斑、黑斑、脂溢性角化病、黑素細胞痣、雀斑、光化性角化病、發炎后色素沉著過度，以及以上皆非。

4.根據前述權利要求中任一項所述的系統，其中所述邏輯還使得所述計算裝置將所述基線圖像與所述受試者的所述圖像進行比較以確定所述色素沉著過度的斑點的變化。

5.根據前述權利要求中任一項所述的系統，其中所述邏輯還使得所述計算裝置從旋轉不變的均勻局部二元模式(LBP)確定所述色素沉著過度的斑點的紋理特征。

6.根據前述權利要求中任一項所述的系統，其中所述邏輯還使得所述計算裝置通過創建近似所述色素沉著過度的斑點的形狀的擬合橢圓來確定所述色素沉著過度的斑點的空間特征。

7.根據前述權利要求中任一項所述的系統，其中所述邏輯還使得所述計算裝置確定所述色素沉著過度的斑點的像素鄰域；以及確定所述像素鄰域中的多個像素的像素強度。

8.根據前述權利要求中任一項所述的系統，其中對所述色素沉著過度的斑點進行分類包括對所述色素沉著過度的斑點的約兩個至約二十五個維度特征進行分析。

9.根據權利要求8所述的系統，其中所述維度特征包括選自以下各項的至少兩個維度特征：所述色素沉著過度的斑點內的平均強度、所述色素沉著過度的斑點的像素鄰域中的平均強度、近似所述色素沉著過度的斑點的擬合橢圓的偏心度、所述擬合橢圓的長軸長度、所述擬合橢圓的短軸長度、所述色素沉著過度的斑點的面積、局部二元模式(LBP)直方圖中的第一分箱值、所述LBP直方圖中的第二分箱值、所述LBP直方圖中的第三分箱值、所述LBP直方圖中的第四分箱值、所述LBP直方圖中的第五分箱值、所述LBP直方圖中的第六分箱值、所述LBP直方圖中的第七分箱值、所述LBP直方圖中的第八分箱值、所述LBP直方圖中的第九分箱值、所述LBP直方圖中的第十分箱值、R通道中的最大強度、所述R通道中的最小強度、所述R通道中的平均強度、G通道中的最大強度、所述G通道中的最小強度、所述G通道中的平均強度、B通道中的最大強度、所述B通道中的最小強度和所述B通道中的平均強度。

10.一種識別色素沉著過度的斑點的方法，所述方法包括：使用根據前述權利要求中任一項所述的系統。

11.一種分配裝置，所述分配裝置包括：

a)護膚產品；

b)根據權利要求1至9中任一項所述的系統；以及

c)用于分配所述護膚產品的構件。