[發(fā)明專利]具有多個級的自動化測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201880053223.0
• 申請日: 2018-08-14
• 公開（公告）號: CN111033283B
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 大衛(wèi)·保羅·鮑伊爾;裴建發(fā);約翰·P·托斯卡諾;菲利普·坎貝爾;馬克·雷瑟爾·史密斯
• 申請（專利權(quán)）人: 泰拉丁公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 穆森;戚傳江

一種示例性測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包括：測試架，該測試架包括測試狹槽；第一梭和第二梭，該第一梭和第二梭被配置為同時移動以將裝置朝向和遠(yuǎn)離托盤傳輸，其中裝置中的至少一些已被測試，并且裝置中的至少一些待測試；第一機(jī)器人和第二機(jī)器人，該第一機(jī)器人和第二機(jī)器人被配置為同時移動以將已被測試的裝置從測試載體中的測試插座移動到第一梭和第二梭，并且將待測試的裝置從第一梭和第二梭移動到測試載體中的測試插座；以及第一測試臂和第二測試臂，該第一測試臂和第二測試臂被配置為同時移動以將測試載體在第一機(jī)器人和第二機(jī)器人與測試架之間移動。

技術(shù)領(lǐng)域

本說明書整體涉及自動化測試系統(tǒng)及其部件。

背景技術(shù)

系統(tǒng)級測試(SLT)涉及測試整個裝置，而不是測試裝置的各個部件。如果裝置通過一連串的系統(tǒng)級測試，那么假設(shè)裝置的各個部件正常操作。隨著裝置的復(fù)雜性以及裝置中部件數(shù)量的增加，SLT已變得更為普遍。例如，芯片實(shí)現(xiàn)的系統(tǒng)諸如應(yīng)用級集成電路(ASIC)可在系統(tǒng)級上進(jìn)行測試，以便確定構(gòu)成系統(tǒng)的部件正在正確運(yùn)行。

SLT系統(tǒng)傳統(tǒng)上需要較大占有面積以便提供足夠的測試速度和吞吐量。例如，一些SLT系統(tǒng)可占用以幾十平方米為單位測量的空間。

發(fā)明內(nèi)容

示例性測試系統(tǒng)包括：第一級，該第一級用以將已被測試的第一裝置移動到第一托盤，并且從第二托盤移動待測試的第二裝置；第二級，該第二級用以接收第一裝置和第二裝置，其中第二級將第一裝置從第一測試插座移動到第一級，并且將第二裝置從第一級移動到第一測試插座或第二測試插座；以及第三級，該第三級用以將第一測試插座中的第一裝置移動到第二級，并且將第一測試插座或第二測試插座中的第二裝置移動到測試架中的狹槽中。第一測試插座或第二測試插座可以是測試載體的一部分，并且第三級可包括空氣控制臂，該空氣控制臂可在一個維度上移動以將測試載體推動到測試狹槽中。第二級可包括相機(jī)，該相機(jī)用以在將第二裝置移動到第一測試插座或第二測試插座中之前將第二裝置對齊到第一測試插座或第二測試插座。示例性測試系統(tǒng)可包括下列特征中的一個或多個(單獨(dú)地或組合地)。

第一級、第二級和第三級可被配置為獨(dú)立且同時地操作。測試狹槽可包括內(nèi)部引導(dǎo)特征以將測試載體導(dǎo)向到測試狹槽中的適當(dāng)位置。第二裝置與第一測試插座或第二測試插座的對齊可以達(dá)到大約至少幾十微米的精度。第三級可包括氣動系統(tǒng)，該氣動系統(tǒng)使用空氣來控制空氣控制臂的移動。

示例性測試系統(tǒng)可包括第四級，該第四級用于將托盤加載到系統(tǒng)中，并且用于從系統(tǒng)移除托盤。示例性測試系統(tǒng)可包括第五級，該第五級包括測試架。第五級可包括多個測試狹槽，包括測試狹槽，其中第三級用于將測試載體轉(zhuǎn)移進(jìn)出測試狹槽。第一級可包括第一梭，該第一梭將已被測試的第一裝置移動到第一托盤；以及第二梭，該第二梭從第二托盤移動待測試的第二裝置。第二級可包括用以接收第二裝置的第一機(jī)器人和第二機(jī)器人，其中第一機(jī)器人從第一測試插座移動第一裝置，并且其中第一機(jī)器人或第二機(jī)器人將第二裝置移動到第一測試插座或第二測試插座。第三級可包括第一測試臂和第二測試臂，其中第一測試臂將第一測試插座中的第一裝置移動到第二級，并且其中第一測試臂或第二測試臂將第二測試插座中的第二裝置移動到測試架中的狹槽中。

相機(jī)可包括在第一測試插座和第二測試插座上方的一個或多個第一相機(jī)，以及在第一測試插座或第二測試插座下方的一個或多個第二相機(jī)，其中第一相機(jī)用于捕獲至少第一圖像，并且第二相機(jī)用于捕獲至少第二圖像。一個或多個處理裝置可被編程(例如，配置)為使用第一圖像和第二圖像來控制第一機(jī)器人或第二機(jī)器人以將第二裝置移動到第一測試插座或第二測試插座中。