[發明專利]用于紅外光譜測定的高級參考檢測器

有效

• 申請號: 201880039198.0
• 申請日: 2018-07-13
• 公開（公告）號: CN110770551B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: J·M·考菲
• 申請（專利權）人: 熱電科學儀器有限公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J3/02;G01J3/45
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳潔;周全

1.一種光譜測定系統，其包括：

干涉圖源，其用以提供含有干涉圖的IR信號；

源路徑，其包含沿從所述干涉圖源延伸的光學路徑的第一部分的路徑軸的焦點；

Jacquinot光闌，其包含大體上安置在所述焦點處的孔徑和與所述路徑軸大體上非正交且面向所述干涉圖源的反射性表面，其中所述孔徑傳遞所述IR信號的內部部分作為所述IR信號的入射部分，且所述反射性表面反射所述IR信號的外部部分作為所述IR信號的反射部分；和

參考檢測裝置，其用以檢測所述IR信號的所述反射部分。

2.根據權利要求1所述的光譜測定系統，其中：

所述孔徑包括光學開口以傳遞所述IR信號的徑向向內部分；且

所述反射性表面反射所述IR信號的徑向向外部分。

3.根據權利要求1所述的光譜測定系統，其中：

所述反射性表面包括彎曲表面；且

所述孔徑安置在所述彎曲表面的頂點附近。

4.根據權利要求1所述的光譜測定系統，其中所述干涉圖源包括：

紅外(IR)源，其用以發射IR能量；

干涉儀，其用以產生并組合所述IR能量的固定和可變反射；和

反射鏡，其安置成反射組合的所述IR能量的固定和可變反射。

5.根據權利要求1所述的光譜測定系統，其中所述干涉圖源包括邁克爾遜干涉儀。

6.根據權利要求1所述的光譜測定系統，其中所述參考檢測裝置包括紅外檢測器。

7.根據權利要求1所述的光譜測定系統，其中所述參考檢測裝置包括：

反射鏡，其安置成進一步反射所述IR信號的所述反射部分；和

紅外檢測器，其用以接收所述IR信號的所述進一步反射的部分。

8.根據權利要求1所述的光譜測定系統，其進一步包括用以檢測所述IR信號的至少一部分的樣本檢測裝置。

9.根據權利要求8所述的光譜測定系統，其中所述樣本檢測裝置包括紅外檢測器。

10.根據權利要求8所述的光譜測定系統，其中所述樣本檢測裝置包括：

反射鏡，其安置成反射所述IR信號的所述至少一部分；和

紅外檢測器，其用以接收反射的所述IR信號的所述至少一部分。

11.一種光譜測定方法，其包括：

用干涉圖源生成含有干涉圖的IR信號；

經由包含沿從所述干涉圖源延伸的光學路徑的第一部分的路徑軸的焦點的光路徑傳送所述IR信號；

經由Jacquinot光闌的孔徑傳遞所述IR信號的內部部分作為所述IR信號的入射部分，所述Jacquinot光闌大體上安置在所述焦點處且包含與所述路徑軸大體上非正交且面向所述干涉圖源的反射性表面；

經由所述反射性表面反射所述IR信號的外部部分作為所述IR信號的反射部分；和

檢測所述IR信號的所述反射部分。

12.根據權利要求11所述的光譜測定方法，其中：

經由孔徑傳遞所述IR信號的內部部分經由光學開口傳遞所述IR信號的徑向向內部分；且

經由所述反射性表面反射所述IR信號的外部部分包括反射所述IR信號的徑向向外部分。

13.根據權利要求12所述的光譜測定方法，其中：

反射所述IR信號的徑向向外部分包括經由彎曲表面反射所述IR信號的所述徑向向外部分；且

經由光學開口傳遞所述IR信號的徑向向內部分包括在所述彎曲表面的頂點處傳遞所述IR信號的徑向向內部分。