[發(fā)明專利]非破壞性檢測(cè)方法和非破壞性檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880018524.X | 申請(qǐng)日: | 2018-03-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110446919B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-04-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 昆盛太郎;堀部雅弘;永石博志 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)立研究開(kāi)發(fā)法人產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N22/00 | 分類號(hào): | G01N22/00;G01N22/02 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 馬建軍;鄧毅 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 破壞性 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
預(yù)先準(zhǔn)備表示當(dāng)使未混入異物的被檢測(cè)對(duì)象穿過(guò)傳輸高頻信號(hào)時(shí)的傳輸線路(11)的周圍空間產(chǎn)生的電磁場(chǎng)時(shí)得到的高頻信號(hào)的S參數(shù)的實(shí)部和虛部的二維坐標(biāo)中的各變化量之比的分布狀態(tài)的直線的梯度,作為比較的基準(zhǔn)。分析裝置(13)對(duì)比較的基準(zhǔn)與對(duì)異物的混入不明的被檢測(cè)對(duì)象(20)同樣地得到的高頻信號(hào)的S參數(shù)的實(shí)部和虛部的二維坐標(biāo)中的直線的梯度進(jìn)行比較,當(dāng)不同時(shí),檢測(cè)為該被檢測(cè)對(duì)象(20)中含有異物。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及非破壞性檢測(cè)方法、非破壞性檢測(cè)裝置和非破壞性檢測(cè)程序,特別涉及非破壞性地檢測(cè)混入到食品等被檢測(cè)對(duì)象的異物的非破壞性檢測(cè)方法、非破壞性檢測(cè)裝置和非破壞性檢測(cè)程序。
背景技術(shù)
當(dāng)制造或收獲食品時(shí),食品中被混入金屬片、塑料片、玻璃片、石頭、土、毛發(fā)等本來(lái)不應(yīng)該存在于該食品中的異物而制造出,當(dāng)出現(xiàn)該食品的產(chǎn)品流通給消費(fèi)者而被發(fā)現(xiàn)的事態(tài)時(shí),制造商需要回收大量的產(chǎn)品而產(chǎn)生大額損失,同時(shí)該產(chǎn)品(以下,在本說(shuō)明書(shū)中,為了方便,有時(shí)將食品產(chǎn)品也僅稱作“食品”)的制造商的可靠性受到損害。因此,如何檢測(cè)并排除混入到食品中的異物的質(zhì)量管理在食品業(yè)界為極為重要的課題。因此,以往,已開(kāi)發(fā)并應(yīng)用使用基于人力的目測(cè)檢查或光的色彩分選法以及融合金屬探測(cè)器、X射線的高透射性和圖像處理技術(shù)而成的X射線異物檢測(cè)法等非破壞性檢測(cè)法(例如參照專利文獻(xiàn)1、2、3)。
其中,在使用紅外線或近紅外線、可見(jiàn)光線、紫外線等光的色彩分選法中,向作為對(duì)象的食品照射激光,受光部測(cè)定其反射光、透射光、散射光的強(qiáng)度,通過(guò)與基準(zhǔn)值比較來(lái)檢測(cè)異物。在此使用的基準(zhǔn)值按照每個(gè)被檢測(cè)對(duì)象而不同,因此,需要按照每個(gè)被檢測(cè)對(duì)象預(yù)先準(zhǔn)備基準(zhǔn)值或標(biāo)準(zhǔn)曲線。因此,在該色彩分選法中,必須預(yù)先確定希望作為異物檢測(cè)的對(duì)象,并且按照各個(gè)被檢測(cè)對(duì)象預(yù)先生成基準(zhǔn)值或標(biāo)準(zhǔn)曲線。而且,即使作為物體是相同的檢測(cè)對(duì)象,在對(duì)象表面的顏色不同時(shí)光的吸收率不同,因此需要分別生成基準(zhǔn)值或標(biāo)準(zhǔn)曲線。因此,在色彩分選法中,在檢測(cè)對(duì)象不明的情況下,將其檢測(cè)為異物極為困難。
此外,在專利文獻(xiàn)1記載的非破壞性檢測(cè)方法中公開(kāi)有以下的方法:通過(guò)測(cè)定并比較向食品照射近紅外波長(zhǎng)區(qū)域的激光而得到的透射光或散射光的強(qiáng)度,非破壞性地檢測(cè)埋沒(méi)在食品內(nèi)的金屬以外的塑料等異物。在該非破壞性檢測(cè)方法中,需要向被檢測(cè)對(duì)象照射激光,因此,需要使用以下手段:使用透鏡等光學(xué)部件來(lái)控制激光,或者通過(guò)機(jī)械控制將被檢測(cè)對(duì)象移動(dòng)到固定的光源下等。此外,在專利文獻(xiàn)2中公開(kāi)有以下的非破壞性檢查方法:使用攝像機(jī)等拍攝作為被檢測(cè)對(duì)象的食品,通過(guò)基于拍攝到的光的吸光度等的圖像識(shí)別或目測(cè),判定食品中是否混入毛發(fā)等非金屬異物。該非破壞性檢測(cè)方法與所述的各非破壞性檢測(cè)方法相比,能夠面性捕捉被檢測(cè)對(duì)象,因此,能夠大范圍地檢索存在于被檢測(cè)對(duì)象表面的異物。
此外,在專利文獻(xiàn)3中公開(kāi)有使用X射線進(jìn)行被檢測(cè)對(duì)象的非破壞性檢查的方法。X射線具有高物質(zhì)透射性,因此,使用X射線的非破壞性檢測(cè)方法是對(duì)于非破壞性檢測(cè)被檢測(cè)對(duì)象即埋沒(méi)于食品內(nèi)部的異物有效的方法。而且,以往公知有使用天線的基于電波的非破壞性檢測(cè)裝置(例如參照非專利文獻(xiàn)1、2、專利文獻(xiàn)4)。在該使用電波的非破壞性檢測(cè)裝置中,使用天線等向測(cè)定對(duì)象照射電波,測(cè)定其反射或透射,將其測(cè)定值與基準(zhǔn)值比較來(lái)進(jìn)行非破壞性檢測(cè)。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2005-233724號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)2:日本特開(kāi)2014-160013號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)3:日本特開(kāi)2013-130392號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)4:日本特開(kāi)2016-125840號(hào)公報(bào)
非專利文獻(xiàn)
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于國(guó)立研究開(kāi)發(fā)法人產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所,未經(jīng)國(guó)立研究開(kāi)發(fā)法人產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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