[發明專利]電磁波檢測裝置、程序以及電磁波檢測系統

有效

• 申請號: 201880018333.3
• 申請日: 2018-03-01
• 公開（公告）號: CN110431442B
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 岡田浩希;內田繪梨;皆川博幸;高山喜央;小野光夫;長谷部篤史;河合克敏;金山幸年
• 申請（專利權）人: 京瓷株式會社
• 主分類號: G01S7/497
• 分類號: G01S7/497;G01S17/894
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 向勇;宋曉寶

電磁波檢測裝置(10)具有：照射部(11)、第一檢測部(17)、存儲部(13)、以及控制部(14)。照射部(11)照射電磁波。第一檢測部(17)具有多個檢測元件。多個檢測元件根據照射位置來檢測照射于對象(ob)的電磁波的反射波。存儲部(13)存儲關聯信息。關聯信息是將電磁波的發射方向與分別限定路徑上的兩點的要素中的任意兩個相關聯的信息。路徑是從照射部(11)發射的電磁波經由對象(ob)至第一檢測部(17)的路徑。控制部(14)基于電磁波的發射方向以及在多個檢測元件中檢測到電磁波的反射波的檢測元件的位置來更新關聯信息。

相關申請的相互參照

本申請要求2017年3月17在日本申請的日本特愿2017-053552的優先權，并將在先申請的全部內容引入于此以用于參照。

技術領域

本發明涉及一種電磁波檢測裝置、程序以及電磁波檢測系統。

背景技術

近年來，開發了一種從發射的電磁波的反射波的檢測結果來獲得與周圍相關的信息的裝置。例如，已知一種使用激光雷達來測量物體的位置的裝置(參考專利文獻1)。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2011-220732號公報。

發明內容

第一觀點的電磁波檢測裝置包括：

發射電磁波的照射部；

第一檢測部，具有根據照射位置來檢測照射于對象的所述電磁波的反射波的多個檢測元件；

存儲部，存儲將所述電磁波的發射方向與分別限定從所述照射部發射的電磁波經由所述對象到所述第一檢測部為止的路徑上的兩點的要素中的任意兩個相關聯的關聯信息；以及

控制部，基于所述電磁波的發射方向以及在所述多個檢測元件中檢測到所述電磁波的反射波的檢測元件的位置，來更新所述關聯信息。

另外，第二觀點的電磁波檢測系統包括：

發射電磁波的照射部；

第一檢測部，具有根據照射位置來檢測照射于對象的所述電磁波的反射波的多個檢測元件；

存儲部，存儲將所述電磁波的發射方向與分別限定從所述照射部發射的電磁波經由所述對象到所述第一檢測部為止的路徑上的兩點的要素中的任意兩個相關聯的關聯信息；以及

控制部，基于所述電磁波的發射方向以及在所述多個檢測元件中檢測到所述電磁波的反射波的檢測元件的位置，來更新所述關聯信息。

另外，第三觀點的程序使裝置執行如下步驟：

發射電磁波；

由多個檢測元件根據照射位置來檢測照射于對象的所述電磁波的反射波；

基于所述電磁波的發射方向以及在所述多個檢測元件中檢測到所述電磁波的反射波的檢測元件的位置，來更新將所述電磁波的發射方向與分別限定電磁波經由所述對象到所述多個檢測元件中的任一個為止的路徑上的兩點的要素中的任意兩個相關聯的關聯信息。

附圖說明

圖1是示出一實施方式的電磁波檢測裝置的概略結構的結構圖。

圖2是用于說明圖1的電磁波檢測裝置的行進部中的像素在第一狀態和第二狀態下的電磁波的行進方向的電磁波檢測裝置的結構圖。

圖3是示出在圖1的電磁波檢測裝置中，發射的電磁波經由對象到第一檢測部為止的路徑上的各點中的與任意的發射方向相對應的位置的概念圖。

圖4是示出存儲在圖1的存儲部中的第一關聯信息的一個例子的圖。